一種用于液晶模組檢測的檢測裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，所述檢測裝置包括天板和翻轉(zhuǎn)組件；所述天板包括一用于放置待測模組的第一天板，及一第二天板；所述翻轉(zhuǎn)組件可翻轉(zhuǎn)的設(shè)置在所述第二天板上，該翻轉(zhuǎn)組件包括第一檢測基板、用于固定所述第一檢測基板的第一基板固定板、第二檢測基板和用于固定所述第二檢測基板的第二基板固定板；第一檢測基板上設(shè)有用于檢測待測模組連接器的第一連接器檢測端口，所述第二檢測基板上設(shè)有用于檢測待測模組連接器的第二連接器檢測端口。本發(fā)明在操作過程中換取待測模組方便，減少了待測模組上連接器端口的損壞率，增加了檢測基板上連接器檢測端口的使用壽命，有效的提升了生產(chǎn)效率。
【專利說明】—種用于液晶模組檢測的檢測裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種檢測裝置，特別涉及一種用于液晶模組檢測的檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的液晶模組檢測治具由黑電木、鈑金件、夾具、PCB板、電子元器件和各種信號(hào)線等加工組裝而成。其在檢測過程中采用的是完全接觸的方式，即將待測模組上的連接器端口完全壓入接觸檢測基板上的連接器檢測端口中。而對(duì)于多連接器端口的產(chǎn)品，也是采用逐個(gè)連接器檢測端口壓接的方法導(dǎo)通檢測。現(xiàn)有方式主要有以下兩個(gè)缺點(diǎn):1.檢測速度慢，生產(chǎn)效率低；2.待測模組上的連接器端口和檢測基板上的連接器檢測端口均容易損壞,增大了產(chǎn)品不良率,導(dǎo)致生產(chǎn)成本增加。
[0003]現(xiàn)在普通廠家一般使用的是一種簡易的檢測裝置，其構(gòu)成為:接觸基板、連線、簡易信號(hào)板或手機(jī)主板、相應(yīng)的連線。檢測時(shí)產(chǎn)品端連接器直接扣在接觸基板上的連接器，需要完全壓入，因?yàn)檫B接器比較小，對(duì)位壓接很不好對(duì)位，容易壓壞連接器，而在打開時(shí)，連接器的公端與母端有卡勾鎖緊，這樣需要用力才能打開，很容易使連接器焊在產(chǎn)品上的FPC焊盤PIN腳脫開，嚴(yán)重的會(huì)使整個(gè)連接器脫落，這樣做的結(jié)果是生產(chǎn)速度慢，產(chǎn)品不良率高，接觸基板損壞快(每種連接器完全連接壽命有限一般20—50次)，生產(chǎn)制造成本大。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種用于液晶模組檢測的檢測裝置；該裝置在操作過程中換取待測模組方便，減少了待測模組上連接器端口的損壞率，增加了檢測基板上連接器檢測端口的使用壽命，有效的提升了生產(chǎn)效率，并縮減了生產(chǎn)成本。
[0005]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用下述技術(shù)方案:
一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，所述檢測裝置包括天板和翻轉(zhuǎn)組件；所述天板包括一用于放置待測模組的第一天板，及一第二天板；
所述翻轉(zhuǎn)組件可翻轉(zhuǎn)的設(shè)置在所述第二天板上，該翻轉(zhuǎn)組件包括第一檢測基板、用于固定所述第一檢測基板的第一基板固定板、第二檢測基板和用于固定所述第二檢測基板的第二基板固定板；
第一檢測基板上設(shè)有用于檢測待測模組連接器的第一連接器檢測端口，所述第二檢測基板上設(shè)有用于檢測待測模組連接器的第二連接器檢測端口。
[0006]當(dāng)待測模組連接器端口有兩個(gè)時(shí)，翻轉(zhuǎn)組件朝向天板方向翻轉(zhuǎn)，翻轉(zhuǎn)組件翻轉(zhuǎn)后，第一連接器檢測端口與與第一連接器檢測端口相對(duì)應(yīng)的待測模組連接器端口導(dǎo)通，同樣第二連接器檢測端口與與第二連接器檢測端口相對(duì)應(yīng)的待測模組連接器端口導(dǎo)通，用以實(shí)現(xiàn)檢測的目的。
[0007]進(jìn)一步的，所述天板上設(shè)有用于放置待測模組連接器端口的型槽。
[0008]進(jìn)一步的，所述第二天板的板面上固設(shè)有限位板，該限位板上設(shè)有用于放置待測模組連接器端口的型腔。限位板用于定位待測模組連接器端口，控制檢測基板上的連接器檢測端口與待測模組連接器端口嵌合的高度。
[0009]進(jìn)一步的，所述第一天板的板面上依次設(shè)置有與所述第一天板固接的墊板、以及與所述墊板固接的模組托板。
[0010]進(jìn)一步的，所述第一基板固定板設(shè)于所述第二基板固定板上端，所述第二基板固定板上部設(shè)有向上延伸的連接件，所述第一基板固定板的后板面與所述連接件之間通過限位軸連接；
通過所述限位軸連接，所述第一基板固定板在限位軸軸向方向上可相對(duì)于第二基板固定板移動(dòng)。
[0011]進(jìn)一步的，所述型腔內(nèi)設(shè)有用于固定待測模組連接器端口的第一磁石。
[0012]進(jìn)一步的，翻轉(zhuǎn)組件翻轉(zhuǎn)后，所述第一檢測基板的內(nèi)側(cè)板面和第二檢測基板的內(nèi)側(cè)板面通過磁力吸合匹配的壓接在所述限位板的板面上，第一連接器檢測端口和第二連接器檢測端口均與所述型腔位置匹配對(duì)應(yīng)。
[0013]采用磁力吸合的方式具有壓接速度快；力度便于調(diào)節(jié)(控制磁石的距離)；同時(shí)降低面板(檢測操作平臺(tái)即模組檢測放置平面)整體高度，這樣在待測產(chǎn)品(待測模組)上下架時(shí)不容易磕碰。
[0014]進(jìn)一步的，所述限位板上設(shè)有至少一個(gè)定位銷桿，所述翻轉(zhuǎn)組件上開設(shè)有與所述定位銷桿相匹配對(duì)應(yīng)的定位銷孔。翻轉(zhuǎn)組件向天板板面翻轉(zhuǎn)后，定位銷桿穿設(shè)在所述定位銷孔中。
[0015]從定位的角度說，定位銷桿作用是定位檢測基板上的連接器檢測端口與產(chǎn)品(待測模組)的連接器端口準(zhǔn)確對(duì)接。
[0016]進(jìn)一步的，所述第一基板固定板上設(shè)有用于翻轉(zhuǎn)翻轉(zhuǎn)組件的把手。
[0017]進(jìn)一步的，所述第二基板固定板的板體兩端分別設(shè)有轉(zhuǎn)軸；所述第二天板上設(shè)有與所述轉(zhuǎn)軸相匹配的轉(zhuǎn)軸座。
[0018]通過轉(zhuǎn)軸設(shè)置在轉(zhuǎn)軸座中，用以實(shí)現(xiàn)翻轉(zhuǎn)組件翻轉(zhuǎn)后的檢測基板與限位板壓接在一起。
[0019]進(jìn)一步的，所述第一基板固定板和第二基板固定板呈橫向并排設(shè)置，所述第一基板固定板的板體上和第二基板固定板的板體上分別設(shè)有轉(zhuǎn)軸；所述第二天板上設(shè)有與所述轉(zhuǎn)軸相匹配的轉(zhuǎn)軸座。
[0020]進(jìn)一步的，所述第一基板固定板上設(shè)有至少一個(gè)第二磁石；所述第二基板固定板上設(shè)有至少一個(gè)第三磁石；
所述第二磁石的一端與第一基板固定板固接，另一端凸設(shè)于第一檢測基板的內(nèi)側(cè)板
面；
所述第三磁石的一端與第二基板固定板固接，另一端凸設(shè)于第二檢測基板的內(nèi)側(cè)板
面；
所述限位板上開設(shè)有與所述第二磁石、第三磁石位置相匹配的通孔；
所述限位板下方的第二天板上開設(shè)有滑槽，該滑槽內(nèi)設(shè)置有可在滑槽內(nèi)滑動(dòng)的撥塊，該撥塊的上表面上設(shè)有與第二磁石、第三磁石極性相異的第四磁石，及與所述第二磁石、第三磁石極性相同的第五磁石；
翻轉(zhuǎn)組件翻轉(zhuǎn)后，撥塊在鎖閉位置，第二磁石、第三磁石穿過通孔與第四磁石配合，所述第一檢測基板的板面和第二檢測基板的板面匹配的壓接在所述限位板的板面上；
翻轉(zhuǎn)組件翻轉(zhuǎn)后，撥塊在開合位置，第二磁石、第三磁石穿過通孔與第五磁石配合，所述第一檢測基板的板面、第二檢測基板的板面均與所述限位板的板面分離。
[0021]本發(fā)明采用磁力作為壓接力，利用磁鐵同性相斥，異性相吸的原理，在檢測基板(即第一檢測基板和第二檢測基板)與限位板壓接接觸時(shí)，通過撥動(dòng)撥塊使第二磁石與第四磁石異性相吸對(duì)接，第三磁石與第四磁石異性相吸對(duì)接；吸力使檢測基板(即第一檢測基板和第二檢測基板)上的連接器檢測端口(即第一連接器檢測端口和第二連接器檢測端口)與放置在限位板上的待測模組連接器端口導(dǎo)通；而檢測完成后，往回?fù)軇?dòng)撥塊，這樣又使第二磁石與第五磁石對(duì)位，第三磁石與第五磁石對(duì)位；通過同性相斥原理，使檢測基板(即第一檢測基板和第二檢測基板)和限位板之間呈打開狀態(tài)，并使檢測基板(即第一檢測基板和第二檢測基板)上的連接器檢測端口(即第一連接器檢測端口和第二連接器檢測端口)與待測模組連接器端口脫離。設(shè)置撥塊操作方便，產(chǎn)品(待測模組)上下架速度快(不會(huì)阻礙產(chǎn)品取放)，治具聞度上最小化。
[0022]進(jìn)一步的，所述滑槽的底面上并排設(shè)置有第六磁石和第七磁石，所述第六磁石的極性與第七磁石的極性相異；
所述撥塊的下表面上還設(shè)有第八磁石，所述第八磁石的極性與第六磁石的極性相同； 撥塊在鎖閉位置，所述第八磁石與第六磁石的位置匹配對(duì)應(yīng)相互排斥；
撥塊在開合位置，所述第八磁石與第七磁石的位置匹配對(duì)應(yīng)相互吸合。
[0023]這樣設(shè)計(jì)的目的在于:在檢測基板(即第一檢測基板和第二檢測基板)未翻轉(zhuǎn)時(shí)，撥塊位置始終在外側(cè)(即開合位置)，即使把撥塊撥到鎖閉位置，撥塊也會(huì)自動(dòng)滑回到開合位置；
這是一個(gè)防呆設(shè)計(jì)，防止檢測基板在翻轉(zhuǎn)時(shí)，翻轉(zhuǎn)的沖力加上磁石的吸力對(duì)待測模組連接器端口的沖擊打傷。
[0024]進(jìn)一步的，所述撥塊上設(shè)有撥塊手柄。
[0025]進(jìn)一步的，所述第二基板固定板后部的第二天板上設(shè)有至少一個(gè)用于限制所述第二基板固定板翻轉(zhuǎn)的擋塊。
[0026]設(shè)置擋塊的目的在于，這樣使產(chǎn)品上下架時(shí)，翻轉(zhuǎn)組件翻轉(zhuǎn)后限制其翻轉(zhuǎn)位置；同時(shí)在翻開翻轉(zhuǎn)組件時(shí)可通過磁石固定住翻轉(zhuǎn)組件；
在治具檢測有角度要求時(shí)，產(chǎn)品檢測需要45度視角方向，而翻轉(zhuǎn)組件向上翻，這時(shí)通過擋塊固定翻轉(zhuǎn)組件，這樣使產(chǎn)品上下架容易。
[0027]進(jìn)一步的，所述擋塊上設(shè)有第九磁石，所述第二基板固定板上設(shè)有與所述第九磁石位置相匹配的第十磁石，所述第九磁石極性與第十磁石極性相異。
[0028]通過第九磁石與第十磁石的配合，翻轉(zhuǎn)組件在開合狀態(tài)下，可與擋塊固定在一起，不會(huì)發(fā)生隨意翻轉(zhuǎn)的情況。
[0029]進(jìn)一步的，所述第一檢測基板和第二檢測基板上設(shè)有用于與外部設(shè)備(主信號(hào)板)相連接的FPC軟排線。
[0030]本發(fā)明與現(xiàn)有產(chǎn)品相比，具有如下積極有益的效果:
1、在操作過程中換取待測模組方便，快捷。
[0031]2、由于連接器是半接觸狀態(tài)，這樣就減小連接器的損壞率，對(duì)檢測模組和接觸基板上連接器壽命都有很大提高。
[0032]3、有效的提升了生產(chǎn)效率，并縮減了生產(chǎn)成本。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0033]圖1為本發(fā)明翻轉(zhuǎn)組件翻轉(zhuǎn)前的結(jié)構(gòu)主視圖。
[0034]圖2為圖1的俯視圖。
[0035]圖3為本發(fā)明翻轉(zhuǎn)組件翻轉(zhuǎn)前的立體結(jié)構(gòu)示意圖。
[0036]圖4為本發(fā)明翻轉(zhuǎn)組件翻轉(zhuǎn)后的結(jié)構(gòu)主視圖。
[0037]圖5為圖4的俯視圖。
[0038]圖6為本發(fā)明翻轉(zhuǎn)組件翻轉(zhuǎn)后的立體結(jié)構(gòu)示意圖。
[0039]圖7為本發(fā)明中天板的結(jié)構(gòu)示意圖之一。
[0040]圖8為本發(fā)明中天板的結(jié)構(gòu)示意圖之二。
[0041]圖9為本發(fā)明中天板、墊板及模組托板的配合結(jié)構(gòu)示意圖之一。
[0042]圖10為本發(fā)明中天板、墊板及模組托板的配合結(jié)構(gòu)示意圖之二。
[0043]圖11為本發(fā)明中限位板的結(jié)構(gòu)示意圖之一。
[0044]圖12為本發(fā)明中限位板的結(jié)構(gòu)示意圖之二。
[0045]圖13為本發(fā)明中限位板與撥塊的配合結(jié)構(gòu)主視圖。
[0046]圖14為圖13的右視圖。
[0047]圖15為圖13的仰視圖。
[0048]圖16為本發(fā)明中限位板與撥塊的配合結(jié)構(gòu)示意圖之一。
[0049]圖17為本發(fā)明中限位板與撥塊的配合結(jié)構(gòu)示意圖之二。
[0050]圖18為本發(fā)明中撥塊的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0051]圖19為本發(fā)明中翻轉(zhuǎn)組件的主視圖。
[0052]圖20為本發(fā)明中翻轉(zhuǎn)組件的后視圖。
[0053]圖21為本發(fā)明中翻轉(zhuǎn)組件的俯視圖。
[0054]圖22為本發(fā)明中翻轉(zhuǎn)組件的立體結(jié)構(gòu)示意圖之一。
[0055]圖23為本發(fā)明中翻轉(zhuǎn)組件的立體結(jié)構(gòu)示意圖之二。
[0056]圖24為本發(fā)明中第一基板固定板與第二基板固定板的配合結(jié)構(gòu)示意圖之一。
[0057]圖25為本發(fā)明中第一基板固定板與第二基板固定板的配合結(jié)構(gòu)示意圖之二。
[0058]圖26為本發(fā)明中第一基板固定板、第二基板固定板和限位軸之間的配合結(jié)構(gòu)立體示意圖。
[0059]圖27為本發(fā)明中第一基板固定板、第二基板固定板和限位軸之間的配合結(jié)構(gòu)主視圖。
[0060]圖28為圖27的俯視圖。
[0061]圖29為圖27的右視圖。
[0062]圖30為本發(fā)明中第一基板固定板、第二基板固定板和限位軸之間的裝配結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】[0063]下面結(jié)合【專利附圖】

【附圖說明】本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】。
[0064]實(shí)施例1:
如圖1至30所示，一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，所述檢測裝置包括天板I和翻轉(zhuǎn)組件2 ;所述天板I包括一用于放置待測模組的第一天板11，及一第二天板12 ;所述第一天板11的板面上依次設(shè)置有與所述第一天板11固接的墊板111、以及與所述墊板111固接的模組托板112 ;
所述第二天板12的板面上固設(shè)有限位板121，該限位板121上設(shè)有用于放置待測模組連接器端口的型腔1211 ;限位板121用于定位待測模組連接器端口，控制檢測基板上的連接器檢測端口與待測模組連接器端口嵌合的高度；所述型腔1211內(nèi)設(shè)有用于固定待測模組連接器端口的第一磁石100。
[0065]所述翻轉(zhuǎn)組件2朝向天板I方向可翻轉(zhuǎn)的設(shè)置在所述第二天板12上，該翻轉(zhuǎn)組件2包括第一檢測基板21、用于固定所述第一檢測基板21的第一基板固定板22、第二檢測基板23和用于固定所述第二檢測基板23的第二基板固定板24 ；(參見圖1?12)
所述第一基板固定板22設(shè)于所述第二基板固定板24上端，所述第二基板固定板24上部設(shè)有向上延伸的連接件241，所述第一基板固定板22的后板面與所述連接件241之間通過限位軸2411連接；
通過所述限位軸2411連接，所述第一基板固定板22在限位軸2411軸向方向上可相對(duì)于第二基板固定板24移動(dòng)。(參見圖20?30)
所述第一檢測基板21固裝在第一基板固定板22的內(nèi)側(cè)面，所述第二檢測基板23固裝在第二基板固定板24的內(nèi)側(cè)面；
第一檢測基板21上設(shè)有用于檢測待測模組連接器的第一連接器檢測端口 211，所述第二檢測基板23上設(shè)有用于檢測待測模組連接器的第二連接器檢測端口 231 ；
所述第二基板固定板24的板體兩端分別設(shè)有轉(zhuǎn)軸242 ;所述第二天板12上設(shè)有與所述轉(zhuǎn)軸242相匹配的轉(zhuǎn)軸座122。
[0066]通過轉(zhuǎn)軸242設(shè)置在轉(zhuǎn)軸座122中，用以實(shí)現(xiàn)翻轉(zhuǎn)組件2翻轉(zhuǎn)后的第一檢測基板
21、第二檢測基板23與限位板121壓接在一起。(參見圖2、3、5、6、19、20、22、23)
翻轉(zhuǎn)組件2翻轉(zhuǎn)后，所述第一檢測基板21的內(nèi)側(cè)板面和第二檢測基板23的內(nèi)側(cè)板面通過磁力吸合匹配的壓接在所述限位板121的板面上，第一連接器檢測端口 211和第二連接器檢測端口 231均與所述型腔1211位置匹配對(duì)應(yīng)；且第一連接器檢測端口 211和第二連接器檢測端口 231均可匹配的壓接在待測模組連接器端口上。
[0067]采用磁力吸合的方式具有壓接速度快；力度便于調(diào)節(jié)(控制磁石的距離)；同時(shí)降低面板(檢測操作平臺(tái)即模組檢測放置平面)整體高度，這樣在待測產(chǎn)品(待測模組)上下架時(shí)不容易磕碰。(參見圖1?6)
進(jìn)一步的，所述第一基板固定板22上設(shè)有兩個(gè)第二磁石101 ;所述第二基板固定板24上設(shè)有兩個(gè)第三磁石102 ;第二磁石101的一端與第一基板固定板22固接，另一端凸設(shè)于第一檢測基板21的內(nèi)側(cè)板面；第三磁石102的一端與第二基板固定板24固接，另一端凸設(shè)于第二檢測基板23的內(nèi)側(cè)板面；
所述限位板121上開設(shè)有與所述第二磁石101、第三磁石102位置相匹配的通孔1212 ； 所述限位板121下方的第二天板12上開設(shè)有滑槽3，該滑槽3內(nèi)設(shè)置有可在滑槽3內(nèi)滑動(dòng)的撥塊31，撥塊31上設(shè)有撥塊手柄311 ;所述撥塊31的上表面上匹配設(shè)有四個(gè)與第二磁石101、第三磁石102極性相異的第四磁石103，及四個(gè)與所述第二磁石101、第三磁石102極性相同的第五磁石104 ；
在檢測使用時(shí)，翻轉(zhuǎn)組件2翻轉(zhuǎn)后，撥塊31在鎖閉位置(即通過撥塊手柄311使撥塊31向限位板121方向滑動(dòng))，通過穿過通孔1212的第二磁石101、第三磁石102分別與第四磁石103對(duì)位配合，所述第一檢測基板21的板面和第二檢測基板23的板面匹配的壓接在所述限位板121的板面上；
在檢測使用后，翻轉(zhuǎn)組件2翻轉(zhuǎn)后，撥塊31處在開合位置(即通過撥塊手柄311使撥塊31向限位板121反方向滑動(dòng))，通過穿過通孔1212的第二磁石101、第三磁石102分別與第五磁石104對(duì)位配合，所述第一檢測基板21的板面、第二檢測基板23的板面均與所述限位板121的板面分離。
[0068]本發(fā)明采用磁力作為壓接力，利用磁鐵同性相斥，異性相吸的原理，在檢測基板(即第一檢測基板21和第二檢測基板23)與限位板121壓接接觸時(shí)，通過撥動(dòng)31撥塊使第二磁石101與第四磁石103異性相吸對(duì)接，第三磁石102與第四磁石103異性相吸對(duì)接；吸力使檢測基板(即第一檢測基板21和第二檢測基板23)上的連接器檢測端口(即第一連接器檢測端口 211和第二連接器檢測端口 231)與放置在限位板121上的待測模組連接器端口導(dǎo)通；而檢測完成后，往回?fù)軇?dòng)撥塊31，這樣又使第二磁石101與第五磁石104對(duì)位，第三磁石102與第五磁石104對(duì)位；通過同性相斥原理，使檢測基板(即第一檢測基板21和第二檢測基板23)和限位板121之間呈打開狀態(tài)，并使檢測基板(即第一檢測基板21和第二檢測基板23)上的連接器檢測端口(即第一連接器檢測端口 211和第二連接器檢測端口 231)與待測模組連接器端口脫離。設(shè)置撥塊31操作方便，產(chǎn)品(待測模組)上下架速度快(不會(huì)阻礙產(chǎn)品取放)，治具高度上最小化。(參見圖1?18)
所述滑槽3的底面上并排設(shè)置有第六磁石105和第七磁石106，所述第六磁石105的極性與第七磁石106的極性相異；
所述撥塊31的下表面上還設(shè)有第八磁石107，所述第八磁石107的極性與第六磁石105的極性相同；
撥塊31在鎖閉位置，所述第八磁石107與第六磁石105的位置匹配對(duì)應(yīng)相互排斥； 撥塊31在開合位置，所述第八磁石107與第七磁石106的位置匹配對(duì)應(yīng)相互吸合。
[0069]這樣設(shè)計(jì)的目的在于:在翻轉(zhuǎn)組件2中的檢測基板(即第一檢測基板21和第二檢測基板23)未翻轉(zhuǎn)時(shí)，撥塊31位置始終在外側(cè)(即開合位置)，即使把撥塊31撥到鎖閉位置，撥塊31也會(huì)自動(dòng)滑回到開合位置；
這是一個(gè)防呆設(shè)計(jì)，防止翻轉(zhuǎn)組件2在翻轉(zhuǎn)時(shí)，翻轉(zhuǎn)的沖力加上磁石的吸力對(duì)待測模組連接器端口的沖擊打傷。(參見圖7、8、9、10、13?18)
優(yōu)選的，所述第二基板固定板24后部的第二天板12上設(shè)有至少一個(gè)用于限制所述第二基板固定板24翻轉(zhuǎn)的擋塊4。所述擋塊4上設(shè)有第九磁石108，所述第二基板固定板24上設(shè)有與所述第九磁石108位置相匹配的第十磁石109，所述第九磁石108極性與第十磁石109極性相異。
[0070]通過第九磁石108與第十磁石109的配合，翻轉(zhuǎn)組件2在開合狀態(tài)下，可與擋塊4固定在一起，不會(huì)發(fā)生隨意翻轉(zhuǎn)的情況。[0071]設(shè)置擋塊4的目的在于，這樣使產(chǎn)品上下架時(shí)，翻轉(zhuǎn)組件2翻轉(zhuǎn)后限制其翻轉(zhuǎn)位置；同時(shí)在翻開翻轉(zhuǎn)組件2時(shí)可通過磁石固定住翻轉(zhuǎn)組件。(參見圖2、3、6、20、22?27)
進(jìn)一步的，所述第一檢測基板21和第二檢測基板23上設(shè)有用于與外部設(shè)備(主信號(hào)板)相連接的FPC軟排線5，所述第一基板固定板22上設(shè)有用于翻轉(zhuǎn)翻轉(zhuǎn)組件2的把手6。(參見圖 21、22、23)
優(yōu)選的，所述限位板121上設(shè)有四個(gè)定位銷桿123，所述翻轉(zhuǎn)組件2上開設(shè)有與所述定位銷桿123相匹配對(duì)應(yīng)的定位銷孔1231。翻轉(zhuǎn)組件2向天板I板面翻轉(zhuǎn)后，定位銷桿123穿設(shè)在所述定位銷孔1231中。
[0072]從定位的角度說，定位銷桿123作用是定位檢測基板上的連接器檢測端口與產(chǎn)品(待測模組)的連接器端口準(zhǔn)確對(duì)接。(參見圖2、3)
實(shí)施例2:
本實(shí)施例與實(shí)施例1的區(qū)別在于:第一基板固定板和第二基板固定板呈橫向并排設(shè)置，第一基板固定板的板體上和第二基板固定板的板體上分別設(shè)有轉(zhuǎn)軸；第二天板上設(shè)有與所述轉(zhuǎn)軸相匹配的轉(zhuǎn)軸座。
[0073]本文中所采用的描述方位的詞語“上”、“下”、“左”、“右”等均是為了說明的方便基于附圖中圖面所示的方位而言的，在實(shí)際裝置中這些方位可能由于裝置的擺放方式而有所不同。
[0074]綜上所述，本發(fā)明所述的實(shí)施方式僅提供一種最佳的實(shí)施方式，本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容及技術(shù)特點(diǎn)已揭示如上，然而熟悉本項(xiàng)技術(shù)的人士仍可能基于本發(fā)明所揭示的內(nèi)容而作各種不背離本發(fā)明創(chuàng)作精神的替換及修飾；因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍不限于實(shí)施例所揭示的技術(shù)內(nèi)容，故凡依本發(fā)明的形狀、構(gòu)造及原理所做的等效變化，均涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:所述檢測裝置包括天板和翻轉(zhuǎn)組件；所述天板包括一用于放置待測模組的第一天板，及一第二天板； 所述翻轉(zhuǎn)組件可翻轉(zhuǎn)的設(shè)置在所述第二天板上，該翻轉(zhuǎn)組件包括第一檢測基板、用于固定所述第一檢測基板的第一基板固定板、第二檢測基板和用于固定所述第二檢測基板的第二基板固定板； 第一檢測基板上設(shè)有用于檢測待測模組連接器的第一連接器檢測端口，所述第二檢測基板上設(shè)有用于檢測待測模組連接器的第二連接器檢測端口。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:優(yōu)選的，所述天板上設(shè)有用于放置待測模組連接器端口的型槽。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:優(yōu)選的，所述第二天板的板面上固設(shè)有限位板，該限位板上設(shè)有用于放置待測模組連接器端口的型腔。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:優(yōu)選的，所述第一天板的板面上依次設(shè)置有與所述第一天板固接的墊板、以及與所述墊板固接的模組托板。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:優(yōu)選的，所述第一基板固定板設(shè)于所述第二基板固定板上端，所述第二基板固定板上部設(shè)有向上延伸的連接件，所述第一基板固定板的后板面與所述連接件之間通過限位軸連接； 通過所述限位軸連接，所述第一基板固定板在限位軸軸向方向上可相對(duì)于第二基板固定板移動(dòng)。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:優(yōu)選的，所述型腔內(nèi)設(shè)有用于固定待測模組連`接器端口的第一磁石。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:優(yōu)選的，翻轉(zhuǎn)組件翻轉(zhuǎn)后，所述第一檢測基板的內(nèi)側(cè)板面和第二檢測基板的內(nèi)側(cè)板面通過磁力吸合匹配的壓接在所述限位板的板面上，第一連接器檢測端口和第二連接器檢測端口均與所述型腔位置匹配對(duì)應(yīng)。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:優(yōu)選的，所述限位板上設(shè)有至少一個(gè)定位銷桿，所述翻轉(zhuǎn)組件上開設(shè)有與所述定位銷桿相匹配對(duì)應(yīng)的定位銷孔。
9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:優(yōu)選的，所述第一基板固定板上設(shè)有用于翻轉(zhuǎn)翻轉(zhuǎn)組件的把手。
10.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:優(yōu)選的，所述第二基板固定板的板體兩端分別設(shè)有轉(zhuǎn)軸；所述第二天板上設(shè)有與所述轉(zhuǎn)軸相匹配的轉(zhuǎn)軸座。
11.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:優(yōu)選的，所述第一基板固定板和第二基板固定板呈橫向并排設(shè)置，所述第一基板固定板的板體上和第二基板固定板的板體上分別設(shè)有轉(zhuǎn)軸；所述第二天板上設(shè)有與所述轉(zhuǎn)軸相匹配的轉(zhuǎn)軸座。
12.根據(jù)權(quán)利要求10或11所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:優(yōu)選的，所述第一基板固定板上設(shè)有至少一個(gè)第二磁石；所述第二基板固定板上設(shè)有至少一個(gè)第三磁石； 所述第二磁石的一端與第一基板固定板固接，另一端凸設(shè)于第一檢測基板的內(nèi)側(cè)板面；所述第三磁石的一端與第二基板固定板固接，另一端凸設(shè)于第二檢測基板的內(nèi)側(cè)板面； 所述限位板上開設(shè)有與所述第二磁石、第三磁石位置相匹配的通孔； 所述限位板下方的第二天板上開設(shè)有滑槽，該滑槽內(nèi)設(shè)置有可在滑槽內(nèi)滑動(dòng)的撥塊，該撥塊的上表面上設(shè)有與第二磁石、第三磁石極性相異的第四磁石，及與所述第二磁石、第三磁石極性相同的第五磁石； 翻轉(zhuǎn)組件翻轉(zhuǎn)后，撥塊在鎖閉位置，第二磁石、第三磁石穿過通孔與第四磁石配合，所述第一檢測基板的板面和第二檢測基板的板面匹配的壓接在所述限位板的板面上； 翻轉(zhuǎn)組件翻轉(zhuǎn)后，撥塊在開合位置，第二磁石、第三磁石穿過通孔與第五磁石配合，所述第一檢測基板的板面、第二檢測基板的板面均與所述限位板的板面分離。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:優(yōu)選的，所述滑槽的底面上并排設(shè)置有第六磁石和第七磁石，所述第六磁石的極性與第七磁石的極性相異； 所述撥塊的下表面上還設(shè)有第八磁石，所述第八磁石的極性與第六磁石的極性相同； 撥塊在鎖閉位置，所述第八磁石與第六磁石的位置匹配對(duì)應(yīng)相互排斥； 撥塊在開合位置，所述第八磁石與第七磁石的位置匹配對(duì)應(yīng)相互吸合。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:優(yōu)選的，所述撥塊上設(shè)有撥塊手柄。
15.根據(jù)權(quán)利要求10所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:優(yōu)選的，所述第二基板固定板后部的第二天板上設(shè)有至少一個(gè)用于限制所述第二基板固定板翻轉(zhuǎn)的擋塊。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:優(yōu)選的，所述擋塊上設(shè)有第九磁石，所述第二基板固定板上設(shè)有與所述第九磁石位置相匹配的第十磁石，所述第九磁石極性與第十磁石極性相異。
17.根據(jù)權(quán)利要求10所述的一種用于液晶模組檢測的檢測裝置，其特征在于:優(yōu)選的，所述第一檢測基板和第二檢測基板上設(shè)有用于與外部設(shè)備相連接的FPC軟排線。
【文檔編號(hào)】G02F1/13GK103454793SQ201310397463
【公開日】2013年12月18日 申請(qǐng)日期:2013年9月4日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月4日
【發(fā)明者】陳文源, 曹振軍, 應(yīng)林華, 江斌 申請(qǐng)人:蘇州華興源創(chuàng)電子科技有限公司