技術編號：7892051
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。技術領域本發(fā)明涉及的是測試領域，特別是涉及ー種在復雜電磁環(huán)境中進行電磁輻射測試實時補償方法。背景技術目前電子設備的電磁輻射測試一般需要在屏蔽室或者開闊場進行，但是現在自然界的電磁環(huán)境十分惡劣，要尋找一片開闊場地，讓其電磁環(huán)境電平低于電磁兼容測試標準的輻射發(fā)射限值幾乎是不可能的。另外屏蔽室造價昂貴并且需要很大的空間，并且受限于待測物的大小，尤其當設備已經固定在現場后，不可能進入屏蔽室。因此在復雜電磁環(huán)境中進行電磁輻射測試成為電磁兼容測試領域急待解決的問題。Marino Jr教授申請的授權號US6980611，登記號0...
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