本申請涉及信息，尤其涉及一種基于100g平臺的測試系統(tǒng)、方法、設(shè)備、介質(zhì)及產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、隨著光模塊的發(fā)展，更高速率的模塊的出現(xiàn)，使得光模塊測試的復(fù)雜度更高，模塊不再只是單波發(fā)送，單波接收，使得測試環(huán)境更加繁雜，對測試人員要求更高。

2、然而，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)相關(guān)技術(shù)中至少存在如下技術(shù)問題：

3、傳統(tǒng)的光模塊測試，都只是對單一的功能進(jìn)行測試，每道測試工序都需要有專業(yè)的人員進(jìn)行，部分測試雖然可以依靠儀表測試出結(jié)果，但測試結(jié)果都分布在不同的測試儀表上，收集整理這些數(shù)據(jù)費時費力，還可能出現(xiàn)一些操作疏漏。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本申請的一個目的是提供一種基于100g平臺的測試系統(tǒng)，至少用以解決如何實現(xiàn)對被測試模塊的多功能集成測試的問題。

2、為實現(xiàn)上述目的，本申請的一些實施例提供了以下幾個方面：

3、第一方面，本申請的一些實施例還提供了一種基于100g平臺的測試系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括主控制測試儀、光組件控件和外掛其它儀表；

4、所述主控制測試儀包括誤碼測試儀和模塊接口；

5、所述光組件控件包括光纖跳線、開關(guān)、可變光衰減器和分光器，所述光纖跳線與所述開關(guān)連接，所述開關(guān)分別與所述可變光衰減器和所述分光器連接，所述光組件控件通過所述光纖跳線與所述主控制測試儀通訊連接；

6、所述外掛其它儀表包括分光開關(guān)和多個測試儀，所述外掛其它儀表通過所述分光開關(guān)和所述分光器與所述光組件控件的通訊連接，所述分光開關(guān)用于控制每個所述測試儀與所述光組件控件的通訊連接。

7、第二方面，本申請的一些實施例還提供了一種基于100g平臺的測試方法，應(yīng)用于如上所述的系統(tǒng)，所述方法包括：

8、將被測試模塊通過所述模塊接口的接收端接入所述系統(tǒng)進(jìn)行測試，得到測試結(jié)果。

9、第三方面，本申請的一些實施例還提供了一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括：一個或多個處理器；以及存儲有計算機程序指令的存儲器，所述計算機程序指令在被執(zhí)行時使所述處理器執(zhí)行如上所述方法的步驟。

10、第四方面，本申請的一些實施例還提供了一種計算機可讀介質(zhì)，其上存儲有計算機程序指令，所述計算機程序指令可被處理器執(zhí)行以實現(xiàn)如上所述的方法。

11、第五方面，本申請的一些實施例還提供了一種計算機程序產(chǎn)品，包括計算機程序/指令，該計算機程序/指令被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如上所述方法的步驟。

12、與相關(guān)技術(shù)相比，本申請實施例提供的方案中，本申請的測試系統(tǒng)主要包括主控制測試儀、光組件控件和外掛其它儀表，所述主控制測試儀包括誤碼測試儀和模塊接口；所述光組件控件包括光纖跳線、開關(guān)、可變光衰減器和分光器，所述光纖跳線與所述開關(guān)連接，所述開關(guān)分別與所述可變光衰減器和所述分光器連接，所述光組件控件通過所述光纖跳線與所述主控制測試儀通訊連接；所述外掛其它儀表包括分光開關(guān)和多個測試儀，所述外掛其它儀表通過所述分光開關(guān)和所述分光器與所述光組件控件的通訊連接，所述分光開關(guān)用于控制每個所述測試儀與所述光組件控件的通訊連接。通過上述配置方式，被測試模塊通過模塊接口與所述誤碼測試儀連通，所述光纖跳線與所述主控制測試儀通訊連接，所述光纖跳線與所述開關(guān)連接，所述開關(guān)分別與所述可變光衰減器和所述分光器連接，所述分光開關(guān)用于控制每個所述測試儀與所述光組件控件的通訊連接。當(dāng)被測試模塊進(jìn)行功能測試時，通過控制開關(guān)來控制所述光纖跳線與所述分光器連通，再通過控制分光開關(guān)控制對應(yīng)測試儀與所述光組件控件的通訊連接，進(jìn)而讓被測試模塊與對應(yīng)測試儀連通，以實現(xiàn)對被測試模塊功能的測試，當(dāng)被測試模塊進(jìn)行其他功能測試時，通過控制分光開關(guān)控制其他測試儀與所述光組件控件的通訊連接，以實現(xiàn)對被測試模塊其他功能的測試。因此，本申請能夠?qū)崿F(xiàn)對被測試模塊的多功能的集成測試。

技術(shù)特征：

1.一種基于100g平臺的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括主控制測試儀、光組件控件和外掛其它儀表；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述多個測試儀包括眼圖測試儀、功率測試儀和光譜測試儀。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述開關(guān)包括第一開關(guān)，所述可變光衰減器包括第一可變光衰減器；

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述開關(guān)包括第二開關(guān)，所述可變光衰減器包括第二可變光衰減器；

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述開關(guān)包括第三開關(guān)，所述可變光衰減器包括第三可變光衰減器；

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述開關(guān)包括第四開關(guān)，所述可變光衰減器包括第四可變光衰減器；

7.一種基于100g平臺的測試方法，其特征在于，應(yīng)用于如權(quán)利要求1-6中任意一項所述的系統(tǒng)，所述方法包括：

8.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括：

9.一種計算機可讀介質(zhì)，其上存儲有計算機程序/指令，其特征在于，所述計算機程序/指令被處理器執(zhí)行實現(xiàn)所述處理器執(zhí)行如權(quán)利要求7所述的方法。

10.一種計算機可讀介質(zhì)，其上存儲有計算機程序指令，所述計算機程序指令可被處理器執(zhí)行以實現(xiàn)如權(quán)利要求7所述的方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請涉及信息技術(shù)領(lǐng)域，提供一種基于100G平臺的測試系統(tǒng)、方法、設(shè)備、介質(zhì)及產(chǎn)品。本申請的基于100G平臺的測試系統(tǒng)，系統(tǒng)包括主控制測試儀、光組件控件和外掛其它儀表；主控制測試儀包括誤碼測試儀和模塊接口；光組件控件包括光纖跳線、開關(guān)、可變光衰減器和分光器，光纖跳線與開關(guān)連接，開關(guān)分別與可變光衰減器和分光器連接，光組件控件通過光纖跳線與主控制測試儀通訊連接；外掛其它儀表包括分光開關(guān)和多個測試儀，外掛其它儀表通過分光開關(guān)和分光器與光組件控件的通訊連接，分光開關(guān)用于控制每個測試儀與光組件控件的通訊連接。通過上述配置方式，本申請能夠?qū)崿F(xiàn)對被測試模塊的多功能的集成測試。

技術(shù)研發(fā)人員：揭德鋒,吳志遠(yuǎn),謝虎,李琳,樂靜
受保護(hù)的技術(shù)使用者：上海欣諾通信技術(shù)股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/10/21