一種可同時測量過孔阻抗及過孔損耗的電路板的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種可同時測量過孔阻抗及過孔損耗的電路板，包括電路板本體，該電路板本體上設(shè)有若干個待測過孔，待測過孔具有第一開口和第二開口；電路板本體的一面還設(shè)有第一阻抗線、第三阻抗線、第一連接頭、第三連接頭和第四連接頭，電路板本體的另一面還設(shè)有第二阻抗線和第二連接頭；該第一阻抗線的一端與第一連接頭連接，另一端與第一開口連接；該第二阻抗線的一端與第二連接頭連接，另一端與第二開口連接；第三阻抗線的一端與第三連接頭連接，另一端與第四連接頭連接；電路板本體的一面上還設(shè)有TRL校準(zhǔn)件。本實(shí)用新型提供的電路板結(jié)構(gòu)，在測量時無需在圖形內(nèi)尋找待測過孔，且無需使用探針臺測試，可降低測試的成本投入。
【專利說明】
一種可同時測量過孔阻抗及過孔損耗的電路板
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及PCB板過孔阻抗及過孔損耗檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種具可同時測量過孔阻抗及過孔損耗的電路板。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著高頻高速化發(fā)展，對PCB過孔阻抗、過孔損耗控制要求也越來越嚴(yán)格。目前業(yè)界對于PCB過孔阻抗多采用探針臺方式測量，此種方法存在以下問題:
[0003]1、需要先在圖形內(nèi)找到需要測量的過孔，且需要采用探針臺方式測量對于孔的過孔阻抗，此種方法測量效率低下，探針易損壞，成本較高，對人員操作技能要求較高；
[0004]2、對于傳輸線上有過孔轉(zhuǎn)層的設(shè)計，無法測量過孔的損耗。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0005]針對上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型的目的在于提供一種可以測量方便、無需使用探針臺的可同時測量過孔阻抗及過孔損耗的電路板。
[0006]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:
[0007]—種可同時測量過孔阻抗及過孔損耗的電路板，包括電路板本體，該電路板本體上設(shè)有若干個待測過孔，所述待測過孔具有第一開口和第二開口，且第一開口位于電路板本體的一面，第二開口位于電路板本體的另一面;所述電路板本體的一面還設(shè)有第一阻抗線、第三阻抗線、第一連接頭、第三連接頭和第四連接頭，電路板本體的另一面還設(shè)有第二阻抗線和第二連接頭;該第一阻抗線的一端與第一連接頭連接，另一端與第一開口連接;該第二阻抗線的一端與第二連接頭連接，另一端與第二開口連接;所述第三阻抗線的一端與第三連接頭連接，另一端與第四連接頭連接;所述電路板本體的一面上還設(shè)有TRL校準(zhǔn)件；第一阻抗線和第二阻抗線的長度均不小于I英寸。
[0008]優(yōu)選的，所述第一連接頭、第二連接頭、第三連接頭和第四連接頭均為SMA連接頭。
[0009]優(yōu)選的，第一阻抗線的阻抗值、線寬和長度均與第二阻抗線相同。
[0010]優(yōu)選的，所述第三阻抗線的長度為第一阻抗線的長度的兩倍。
[0011 ]相比現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型的有益效果在于:
[0012]1、本實(shí)用新型提供的電路板結(jié)構(gòu)，在測量時無需在圖形內(nèi)尋找待測過孔，且無需使用探針臺測試，可降低測試的成本投入；
[0013]2、操作方便，對人員操作技能要求不高；
[0014]3、本實(shí)用新型提供的電路板結(jié)構(gòu)既可以測試過孔阻抗，也可以測試過孔損耗。
【附圖說明】
[0015]圖1為本實(shí)用新型的電路板本體的一面的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0016]圖2為本實(shí)用新型的電路板本體的另一面的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0017]圖3為本實(shí)用新型的待測過孔的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0018]其中，1、電路板本體；11、待測過孔；111、第一開口；112、第二開口； 12、第一阻抗線；13、第二阻抗線；14、第三阻抗線；15、第一連接頭；16、第二連接頭；17、第三連接頭；18、第四連接頭。
【具體實(shí)施方式】
[0019]下面，結(jié)合附圖以及【具體實(shí)施方式】，對本實(shí)用新型做進(jìn)一步描述:
[0020]參見圖1至圖3，本實(shí)用新型提供一種可同時測量過孔阻抗及過孔損耗的電路板，包括電路板本體I，該電路板本體I上設(shè)有若干個待測過孔11，待測過孔11具有第一開口 111和第二開口 112，且第一開口 111位于電路板本體I的一面，第二開口 112位于電路板本體I的另一面;電路板本體I的一面還設(shè)有第一阻抗線12、第三阻抗線14、第一連接頭15、第三連接頭17和第四連接頭18，電路板本體I的另一面還設(shè)有第二阻抗線13和第二連接頭16;該第一阻抗線12的一端與第一連接頭15連接，另一端與第一開口 111連接;該第二阻抗線13的一端與第二連接頭16連接，另一端與第二開口 112連接;第三阻抗線14的一端與第三連接頭17連接，另一端與第四連接頭18連接;電路板本體I的一面上還設(shè)有TRL校準(zhǔn)件(未圖示)。需要說明的是，第一阻抗線12和第二阻抗線13的長度均不小于I英寸。電路板本體I的一面和另一面分別是電路板本體I的一層，電路板本體I的一面和另一面相對于本體而言是對稱的。TRL標(biāo)準(zhǔn)件位于第一阻抗線12所在層。
[0021 ] TRL校準(zhǔn)件的作用是去除測量時連接頭對損耗測試的影響。
[0022]本實(shí)用新型的測試原理為:
[0023]1、首先采用VNA設(shè)備安裝TRL校準(zhǔn)方法進(jìn)行TRL校準(zhǔn)，校準(zhǔn)完成后測試第一阻抗線、第二阻抗線的TDR曲線及插入損耗曲線;實(shí)際上在測試時，第一阻抗線和第二阻抗線為一整體，因而本步驟中，得到的TDR曲線和插入損耗曲線都只有一條；
[0024]2、與上述同樣的方式測試第三阻抗線的TDR曲線及插入損耗曲線；
[0025]3、測量兩個TDR曲線的差值，該差值即為對應(yīng)過孔阻抗值。取相同頻率下的插入損耗的差值，即為對應(yīng)頻率下的插入損耗值。
[0026]作為優(yōu)選，第一連接頭15、第二連接頭16、第三連接頭17和第四連接頭18均為SMA
連接頭。
[0027]為了使測試更加的精確，第一阻抗線12的阻抗值、線寬和長度均與第二阻抗線13相同，第三阻抗線14的長度為第一阻抗線12的長度的兩倍。并且第一阻抗線12與第三阻抗線14處于同一面。
[0028]本實(shí)用新型提供的電路板結(jié)構(gòu)，在測量時無需在圖形內(nèi)尋找待測過孔，且無需使用探針臺測試，可降低測試的成本投入;操作方便，對人員操作技能要求不高;本實(shí)用新型提供的電路板結(jié)構(gòu)既可以測試過孔阻抗，也可以測試過孔損耗。
[0029]對本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，可根據(jù)以上描述的技術(shù)方案以及構(gòu)思，做出其它各種相應(yīng)的改變以及形變，而所有的這些改變以及形變都應(yīng)該屬于本實(shí)用新型權(quán)利要求的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種可同時測量過孔阻抗及過孔損耗的電路板，包括電路板本體，該電路板本體上設(shè)有若干個待測過孔，所述待測過孔具有第一開口和第二開口，且第一開口位于電路板本體的一面，第二開口位于電路板本體的另一面;其特征在于，所述電路板本體的一面還設(shè)有第一阻抗線、第三阻抗線、第一連接頭、第三連接頭和第四連接頭，電路板本體的另一面還設(shè)有第二阻抗線和第二連接頭;該第一阻抗線的一端與第一連接頭連接，另一端與第一開口連接;該第二阻抗線的一端與第二連接頭連接，另一端與第二開口連接;所述第三阻抗線的一端與第三連接頭連接，另一端與第四連接頭連接;所述電路板本體的一面上還設(shè)有TRL校準(zhǔn)件;第一阻抗線和第二阻抗線的長度均不小于I英寸。2.如權(quán)利要求1所述的可同時測量過孔阻抗及過孔損耗的電路板，其特征在于，所述第一連接頭、第二連接頭、第三連接頭和第四連接頭均為SMA連接頭。3.如權(quán)利要求1所述的可同時測量過孔阻抗及過孔損耗的電路板，其特征在于，第一阻抗線的阻抗值、線寬和長度均與第二阻抗線相同。4.如權(quán)利要求3所述的可同時測量過孔阻抗及過孔損耗的電路板，其特征在于，所述第三阻抗線的長度為第一阻抗線的長度的兩倍。
【文檔編號】H05K1/02GK205657907SQ201620275363
【公開日】2016年10月19日
【申請日】2016年3月31日 公開號201620275363.0, CN 201620275363, CN 205657907 U, CN 205657907U, CN-U-205657907, CN201620275363, CN201620275363.0, CN205657907 U, CN205657907U
【發(fā)明人】劉文敏, 王紅飛, 程柳軍, 陳蓓
【申請人】廣州興森快捷電路科技有限公司, 深圳市興森快捷電路科技股份有限公司, 廣州市興森電子有限公司