布局檢查系統(tǒng)及其方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種布局技術，特別涉及一種布局檢查系統(tǒng)及其方法。
【背景技術】
[0002]在印刷電路板(Printed Circuit Board, PCB)電路設計中，有時會放置零歐姆(Ohm)電阻于線路內，以保留后續(xù)置換成其他電子零件的位置。
[0003]然而，單一線路可能在電路設計檔案內橫跨許多不同頁面，布局工程師必須以人工方式檢查線路內放置的零歐姆電阻。不僅容易因人為疏失而產生質量不良的問題，且缺乏效率。

【發(fā)明內容】

[0004]針對現(xiàn)有技術中的缺陷，本發(fā)明所要解決的技術問題是提供一種布局檢查系統(tǒng)及其方法，其提升檢查布局內特定零件的效率。
[0005]本發(fā)明的一個技術方案提供一種布局檢查方法，包含以下步驟，由復數(shù)個零件名稱中選取復數(shù)個電子特性字符串。零件名稱對應布局檔內的復數(shù)個零件。將電子特性字符串轉換為復數(shù)個電子特性數(shù)值。將電子特性數(shù)值與參考值比較以決定至少一特定零件。列出至少一特定零件。
[0006]在本發(fā)明公開內容的一實施例中，其中至少一特定零件的至少一電子特性數(shù)值等于參考值。
[0007]在本發(fā)明公開內容的一實施例中，由布局檔中選擇零件。
[0008]在本發(fā)明公開內容的一實施例中，其中列出至少一特定零件的步驟包含:列出至少一特定零件每一者的線路名稱、零件名稱與材料編號。
[0009]在本發(fā)明公開內容的一實施例中，其中電子特性數(shù)值為電阻值。
[0010]本揭示內容的另一技術方案是提供一種布局檢查系統(tǒng)，其包含記憶單元與處理單元。記憶單元用以儲存布局檔。處理單元電性親接該記憶單元并用以執(zhí)行以下步驟。由復數(shù)個零件名稱中選取復數(shù)個電子特性字符串。零件名稱對應該布局檔內的復數(shù)個零件。將電子特性字符串轉換為復數(shù)個電子特性數(shù)值。將電子特性數(shù)值與參考值比較以決定至少一特定零件。列出至少一特定零件。
[0011]在本發(fā)明公開內容的一實施例中，該至少一特定零件的至少一電子特性數(shù)值等于該參考值。
[0012]在本發(fā)明公開內容的一實施例中，該處理單元還用以執(zhí)行:由該布局檔中選擇該些零件。
[0013]在本發(fā)明公開內容的一實施例中，其中列出該至少一特定零件的步驟包含:
[0014]列出該至少一特定零件每一者的一線路名稱、一零件名稱與一材料編號。
[0015]在本發(fā)明公開內容的一實施例中，其中該些電子特性數(shù)值為電阻值。
[0016]綜上所述，本發(fā)明公開內容可準確且有效率地列出電路設計中特定電子特性數(shù)值的零件與其所屬線路。如此一來，不僅可縮短電路布局的設計時間，亦可降低人為疏失的可會K。
[0017]以下將以實施方式對上述的說明作詳細的描述，并對本揭示內容的技術方案提供更進一步的解釋。
【附圖說明】
[0018]為了讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征、優(yōu)點與實施例更明顯易懂，所附圖示的說明如下:
[0019]圖1為說明本發(fā)明公開內容一實施例的布局檢查系統(tǒng)不意圖；以及
[0020]圖2為說明本發(fā)明公開內容一實施例的布局檢查方法流程圖。
[0021]100:布局檢查系統(tǒng)
[0022]110:處理單元
[0023]120:記憶單元
[0024]200:布局檢查方法
[0025]S202 ?S208:步驟
【具體實施方式】
[0026]為了使本揭示內容的敘述更加詳盡與完備，可參照附圖及以下所述的各種實施例。但所提供的實施例并非用以限制本發(fā)明所涵蓋的范圍；步驟的描述亦非用以限制其執(zhí)行的順序，任何由重新組合，所產生具有均等功效的裝置，皆為本發(fā)明所涵蓋的范圍。
[0027]在實施方式與申請專利范圍中，除非內文中對于冠詞有所特別限定，否則“一”與“該”可泛指單一個或復數(shù)個。將進一步理解的是，本文中所使用的“包含”、“包括”、“具有”及相似詞匯，指明其所記載的特征、區(qū)域、整數(shù)、步驟、操作、元件與/或組件，但不排除其所述或額外的其一個或多個其它特征、區(qū)域、整數(shù)、步驟、操作、元件、組件，與/或其中的群組。
[0028]關于本文中所使用的“約”、“大約”或“大致約” 一般通常為指數(shù)值的誤差或范圍約百分之二十以內，較好地是約百分之十以內，而更佳地則是約百分五之以內。文中若無明確說明，其所提及的數(shù)值皆視作為近似值，即如“約”、“大約”或“大致約”所表示的誤差或范圍。
[0029]另外，關于本文中所使用的“耦接”及“連接”，均可指二或多個元件相互直接作實體接觸或電性接觸，相互間接作實體接觸或電性接觸，或是透過無線連接，而“耦接”還可指二或多個元件相互操作或動作。
[0030]請參考圖1與圖2。圖1為說明本發(fā)明公開內容一實施例的布局檢查系統(tǒng)100示意圖。圖2為說明本發(fā)明公開內容一實施例的布局檢查方法200流程圖。布局檢查方法200具有多個步驟S202?S208，其可應用于如圖1所述的布局檢查系統(tǒng)100。然熟習本發(fā)明的技藝者應了解到，在上述實施例中所提及的步驟，除特別敘明其順序者外，均可依實際需要調整其前后順序，甚至可同時或部分同時執(zhí)行。具體實作方式如前揭示，此處不再重復敘述。布局檢查系統(tǒng)100包含處理單元110與記憶單元120。記憶單元120用以儲存布局檔。
[0031]處理單元110電性耦接記憶單元120，并用以執(zhí)行以下步驟。步驟S202，處理單元110由復數(shù)個零件名稱中選取復數(shù)個電子特性(例如電阻值、電容值)字符串。上述零件名稱對應于布局檔的復數(shù)個零件(例如電阻、電容器)。舉例而言，零件為電阻，零件名稱可以是“l(fā)k_5% _2”，其代表零件的信息。“l(fā)k”表示電阻值為1千歐姆(Ohm)，“5% ”表示電阻值公差(Tolerance)為百分之五，“2”表示零件具有兩個接腳(Pin)。此外，為了區(qū)別同一布局檔內不同的電阻，每一電阻具有對應的零件代號，例如R4502、R1310等。
[0032]具體而言，處理單元110可依照條件(例如零件代號含有“R”)選擇上述零件(例如電阻)。接著，處理單元110將所選零件的零件名稱選取出電子特性字符串(例如lk)。因此，處理單元110可有效率地選取出布局檔內所有電阻的電阻值。
[0033]在步驟S204，處理單元110將電子特性字符串轉換為復數(shù)個電子特性數(shù)值。具體而言，由于選取出的電子特性字符串的屬性為字符串，處理單元110可將屬性轉換為數(shù)值以進行后續(xù)的運算過程。舉例而言，處理單元110可將電子特性字符串“l(fā)k”轉換為電子特性數(shù)值“1000”。
[0034]在步驟S206，處理單元110將電子特性數(shù)值與參考值比較以決定至少一特定零件。舉例而言，若使用者欲找出布局檔內所有零歐姆的電阻，可設定參考值為零。處理單元110將步驟S204的所有電子特性數(shù)值與參考值比較以決定所有零歐姆的電阻(亦即特定零件)。在一實施例中，處理單元110將電子特性數(shù)值與參考值相減，并檢查相減結果是否等于零，以決定電子特性數(shù)值是否等于參考值。上述參考值、比較方式可依實際需求設計，本揭示內容不以此為限。
[0035]在步驟S208，處理單元110列出特定零件。在一實施例中，處理單元110列出特定零件每一者的線路名稱、零件名稱與材料編號。舉例而言，處理單元110列出步驟S206決定出的零歐姆電阻、其所屬的線路名稱、零件名稱、材料編號等。在一實施例中，處理單元110列出每一線路的特定零件(例如零歐姆電阻)數(shù)量。
[0036]實作上，處理單元110可以是獨立的微處理器(Microcontroller)或中央處理單元(Central Processing Unit，CPU)。記憶單元 120可以是硬盤(Hard Disk)、光盤(OpticalDisc)、或快閃存儲器(Flash Memory) ο
[0037]綜上所述，本揭示內容得以經由上述實施例，準確且有效率地列出電路設計中特定電子特性數(shù)值的零件與其所屬線路。如此一來，不僅可縮短電路布局的設計時間，亦可降低人為疏失的可能。
[0038]雖然本揭示內容已以實施方式揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟習此技藝者，在不脫離本揭示內容的精神和范圍內，當可作各種的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍當視申請專利范圍所界定者為準。
【主權項】
1.一種布局檢查方法，其特征在于，所述布局檢查方法包含: 由復數(shù)個零件名稱中選取復數(shù)個電子特性字符串，其中該些零件名稱對應一布局檔內的復數(shù)個零件； 將該些電子特性字符串轉換為復數(shù)個電子特性數(shù)值； 將該些電子特性數(shù)值與一參考值比較以決定至少一特定零件；以及 列出該至少一特定零件。2.如權利要求1所述的布局檢查方法，其特征在于，其中該至少一特定零件的至少一電子特性數(shù)值等于該參考值。3.如權利要求1所述的布局檢查方法，其特征在于，所述布局檢查方法還包含: 由該布局檔中選擇該些零件。4.如權利要求1所述的布局檢查方法，其特征在于，其中列出該至少一特定零件的步驟包含: 列出該至少一特定零件每一者的一線路名稱、一零件名稱與一材料編號。5.如權利要求1所述的布局檢查方法，其特征在于，其中該些電子特性數(shù)值為電阻值。6.一種布局檢查系統(tǒng)，其特征在于，所述布局檢查系統(tǒng)包含: 一記憶單元，用以儲存一布局檔；以及 一處理單元，電性耦接該記憶單元并用以執(zhí)行以下步驟: 由復數(shù)個零件名稱中選取復數(shù)個電子特性字符串，其中該些零件名稱對應該布局檔內的復數(shù)個零件； 將該些電子特性字符串轉換為復數(shù)個電子特性數(shù)值； 將該些電子特性數(shù)值與一參考值比較以決定至少一特定零件；以及 列出該至少一特定零件。7.如權利要求6所述的布局檢查系統(tǒng)，其特征在于，其中該至少一特定零件的至少一電子特性數(shù)值等于該參考值。8.如權利要求6所述的布局檢查系統(tǒng)，其特征在于，該處理單元還用以執(zhí)行: 由該布局檔中選擇該些零件。9.如權利要求6所述的布局檢查系統(tǒng)，其特征在于，其中列出該至少一特定零件的步驟包含: 列出該至少一特定零件每一者的一線路名稱、一零件名稱與一材料編號。10.如權利要求6所述的布局檢查系統(tǒng)，其特征在于，其中該些電子特性數(shù)值為電阻值。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種布局檢查系統(tǒng)及其方法，其中布局檢查系統(tǒng)包含記憶單元與處理單元。記憶單元用以儲存布局檔。處理單元電性耦接該記憶單元并用以執(zhí)行以下步驟。由復數(shù)個零件名稱中選取復數(shù)個電子特性字符串。零件名稱對應該布局檔內的復數(shù)個零件。將電子特性字符串轉換為復數(shù)個電子特性數(shù)值。將電子特性數(shù)值與參考值比較以決定至少一特定零件。列出至少一特定零件。本發(fā)明提供的布局檢查系統(tǒng)及其方法可準確且有效率地列出電路設計中特定電子特性數(shù)值的零件與其所屬線路，從而縮短電路布局的設計時間以及降低人為疏失的可能。
【IPC分類】G06F17/50
【公開號】CN105335583
【申請?zhí)枴緾N201510861988
【發(fā)明人】曾協(xié)淳, 鄭永健
【申請人】英業(yè)達科技有限公司, 英業(yè)達股份有限公司
【公開日】2016年2月17日
【申請日】2015年11月30日