本公開(kāi)涉及計(jì)算機(jī)，尤其涉及一種應(yīng)用程序的測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、在傳統(tǒng)的應(yīng)用程序的測(cè)試過(guò)程中，一般依賴(lài)于代碼覆蓋率，如果要實(shí)現(xiàn)場(chǎng)景覆蓋率的測(cè)試，通常依賴(lài)于人工，測(cè)試的效率較低，并且可靠性和充分性無(wú)法保證。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本公開(kāi)提供了一種應(yīng)用程序的測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)。

2、本公開(kāi)實(shí)施例提供了一種應(yīng)用程序的測(cè)試方法，所述方法包括：

3、獲取目標(biāo)應(yīng)用程序的多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景；

4、獲取所述目標(biāo)應(yīng)用程序的線(xiàn)上測(cè)試數(shù)據(jù)，并基于所述多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景確定所述線(xiàn)上測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)線(xiàn)上數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的多個(gè)第一場(chǎng)景；

5、獲取所述目標(biāo)應(yīng)用程序的線(xiàn)下測(cè)試數(shù)據(jù)，并基于所述多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景確定所述線(xiàn)下測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)線(xiàn)下數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的多個(gè)第二場(chǎng)景；

6、將所述多個(gè)第一場(chǎng)景和所述多個(gè)第二場(chǎng)景進(jìn)行對(duì)比，確定所述目標(biāo)應(yīng)用程序的場(chǎng)景覆蓋率。

7、本公開(kāi)實(shí)施例還提供了一種應(yīng)用程序的測(cè)試裝置，所述裝置包括：

8、基礎(chǔ)模塊，用于獲取目標(biāo)應(yīng)用程序的多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景；

9、第一獲取模塊，用于獲取所述目標(biāo)應(yīng)用程序的線(xiàn)上測(cè)試數(shù)據(jù)，并基于所述多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景確定所述線(xiàn)上測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)線(xiàn)上數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的多個(gè)第一場(chǎng)景；

10、第二獲取模塊，用于獲取所述目標(biāo)應(yīng)用程序的線(xiàn)下測(cè)試數(shù)據(jù)，并基于所述多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景確定所述線(xiàn)下測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)線(xiàn)下數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的多個(gè)第二場(chǎng)景；

11、對(duì)比模塊，用于將所述多個(gè)第一場(chǎng)景和所述多個(gè)第二場(chǎng)景進(jìn)行對(duì)比，確定所述目標(biāo)應(yīng)用程序的場(chǎng)景覆蓋率。

12、本公開(kāi)實(shí)施例還提供了一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括：處理器；用于存儲(chǔ)所述處理器可執(zhí)行指令的存儲(chǔ)器；所述處理器，用于從所述存儲(chǔ)器中讀取所述可執(zhí)行指令，并執(zhí)行所述指令以實(shí)現(xiàn)如本公開(kāi)實(shí)施例提供的應(yīng)用程序的測(cè)試方法。

13、本公開(kāi)實(shí)施例還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序用于執(zhí)行如本公開(kāi)實(shí)施例提供的應(yīng)用程序的測(cè)試方法。

14、本公開(kāi)實(shí)施例提供的技術(shù)方案與現(xiàn)有技術(shù)相比具有如下優(yōu)點(diǎn)：本公開(kāi)實(shí)施例提供的應(yīng)用程序的測(cè)試方案，獲取目標(biāo)應(yīng)用程序的多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景；獲取目標(biāo)應(yīng)用程序的線(xiàn)上測(cè)試數(shù)據(jù)，并基于多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景確定線(xiàn)上測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)線(xiàn)上數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的多個(gè)第一場(chǎng)景；獲取目標(biāo)應(yīng)用程序的線(xiàn)下測(cè)試數(shù)據(jù)，并基于多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景確定線(xiàn)下測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)線(xiàn)下數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的多個(gè)第二場(chǎng)景；將多個(gè)第一場(chǎng)景和多個(gè)第二場(chǎng)景進(jìn)行對(duì)比，確定目標(biāo)應(yīng)用程序的場(chǎng)景覆蓋率。采用上述技術(shù)方案，獲取目標(biāo)應(yīng)用程序的多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景、線(xiàn)上測(cè)試數(shù)據(jù)和線(xiàn)下測(cè)試數(shù)據(jù)，并根據(jù)多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景對(duì)線(xiàn)上測(cè)試數(shù)據(jù)和線(xiàn)下測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行場(chǎng)景對(duì)應(yīng)，并將分別對(duì)應(yīng)的場(chǎng)景對(duì)比確定場(chǎng)景覆蓋率，大大減少人工操作，提升應(yīng)用程序測(cè)試的自動(dòng)化程度、可靠性和充分性，保證應(yīng)用程序測(cè)試的準(zhǔn)確性。

技術(shù)特征：

1.一種應(yīng)用程序的測(cè)試方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取目標(biāo)應(yīng)用程序的多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，獲取所述目標(biāo)應(yīng)用程序的線(xiàn)上測(cè)試數(shù)據(jù)，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景確定所述線(xiàn)上測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)線(xiàn)上數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的多個(gè)第一場(chǎng)景，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，將所述多個(gè)第一場(chǎng)景和所述多個(gè)第二場(chǎng)景進(jìn)行對(duì)比，確定所述目標(biāo)應(yīng)用程序的場(chǎng)景覆蓋率，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一關(guān)聯(lián)場(chǎng)景包括具有關(guān)聯(lián)性的至少兩個(gè)第一場(chǎng)景，所述第二關(guān)聯(lián)場(chǎng)景包括具有關(guān)聯(lián)性的至少兩個(gè)第二場(chǎng)景。

8.一種應(yīng)用程序的測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

9.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括：

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序用于執(zhí)行上述權(quán)利要求1-7中任一所述的應(yīng)用程序的測(cè)試方法。

技術(shù)總結(jié)
本公開(kāi)實(shí)施例涉及一種應(yīng)用程序的測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)，其中該方法包括：獲取目標(biāo)應(yīng)用程序的多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景；獲取目標(biāo)應(yīng)用程序的線(xiàn)上測(cè)試數(shù)據(jù)，并基于多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景確定線(xiàn)上測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)線(xiàn)上數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的多個(gè)第一場(chǎng)景；獲取目標(biāo)應(yīng)用程序的線(xiàn)下測(cè)試數(shù)據(jù)，并基于多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景確定線(xiàn)下測(cè)試數(shù)據(jù)中多個(gè)線(xiàn)下數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的多個(gè)第二場(chǎng)景；將多個(gè)第一場(chǎng)景和多個(gè)第二場(chǎng)景進(jìn)行對(duì)比，確定目標(biāo)應(yīng)用程序的場(chǎng)景覆蓋率。本公開(kāi)獲取目標(biāo)應(yīng)用程序的多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景，并根據(jù)多個(gè)基礎(chǔ)場(chǎng)景對(duì)線(xiàn)上測(cè)試數(shù)據(jù)和線(xiàn)下測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行場(chǎng)景對(duì)應(yīng)，并將分別對(duì)應(yīng)的場(chǎng)景對(duì)比確定場(chǎng)景覆蓋率，減少人工操作，提升應(yīng)用程序測(cè)試的自動(dòng)化程度、可靠性和充分性，保證應(yīng)用程序測(cè)試的準(zhǔn)確性。

技術(shù)研發(fā)人員：魏俊杰,施政,林鵬
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技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/10/21