長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置的制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置，包括標(biāo)定測試裝置、第一恒溫浴裝置和第二恒溫浴裝置、以及測溫儀；標(biāo)定測試裝置包括兩端封閉的測試筒、由內(nèi)向外依次設(shè)置在測試筒外圍的恒溫層和保溫層；測試筒上設(shè)有第一恒溫介質(zhì)入口和第一恒溫介質(zhì)出口，第一恒溫介質(zhì)入口和第一恒溫介質(zhì)出口連接第一恒溫浴裝置，形成第一恒溫介質(zhì)循環(huán)回路；恒溫層上設(shè)有第二恒溫介質(zhì)入口和第二恒溫介質(zhì)出口，第二恒溫介質(zhì)入口和第二恒溫介質(zhì)出口連接第二恒溫浴裝置，形成第二恒溫介質(zhì)循環(huán)回路。本實用新型通過兩級恒溫浴裝置的設(shè)置，實現(xiàn)恒溫介質(zhì)在測試筒內(nèi)和恒溫層內(nèi)的逆向循環(huán)流動，提高流體的溫度穩(wěn)定性和均勻性，校準(zhǔn)性能更可靠，提高了校準(zhǔn)結(jié)果的準(zhǔn)確度。
【專利說明】
長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實用新型涉及一種叫校準(zhǔn)裝置，尤其涉及一種長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]長桿鉑電阻是核電廠測量海水溫度的專用儀器，其測量的準(zhǔn)確度關(guān)系到核電廠的熱效率，因此對其進(jìn)行校準(zhǔn)是相當(dāng)重要的工作。通常，長桿鉑電阻長度可達(dá)3100mm，感溫區(qū)長度長達(dá)2800_，為了測量準(zhǔn)確，需要將全部的感溫區(qū)置于恒溫度場中進(jìn)行校準(zhǔn)。所以，需要專門的校準(zhǔn)裝置對長桿鉑電阻進(jìn)行校準(zhǔn)。
[0003]現(xiàn)有的校準(zhǔn)裝置大都只設(shè)置一級的恒溫浴，對長桿鉑電阻校準(zhǔn)的校準(zhǔn)準(zhǔn)確度不尚O
【實用新型內(nèi)容】
[0004]本實用新型要解決的技術(shù)問題在于，提供一種方便、準(zhǔn)確地進(jìn)行長桿鉑電阻校準(zhǔn)的長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置。
[0005]本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:提供一種長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置，包括用于插接待校準(zhǔn)的長桿鉑電阻溫度計的標(biāo)定測試裝置、與所述標(biāo)定測試裝置連接的第一恒溫浴裝置和第二恒溫浴裝置、以及測溫儀;所述標(biāo)定測試裝置包括兩端封閉的測試筒、由內(nèi)向外依次設(shè)置在所述測試筒外圍的恒溫層和保溫層；
[0006]所述測試筒上設(shè)有第一恒溫介質(zhì)入口和第一恒溫介質(zhì)出口，所述第一恒溫介質(zhì)入口和第一恒溫介質(zhì)出口連接所述第一恒溫浴裝置，形成第一恒溫介質(zhì)循環(huán)回路;所述恒溫層上設(shè)有第二恒溫介質(zhì)入口和第二恒溫介質(zhì)出口，所述第二恒溫介質(zhì)入口和第二恒溫介質(zhì)出口連接所述第二恒溫浴裝置，形成第二恒溫介質(zhì)循環(huán)回路。
[0007]優(yōu)選地，所述恒溫層和所述測試筒外壁之間留有間隔，形成空氣層。
[0008]優(yōu)選地，所述恒溫層為包覆在所述測試筒上的環(huán)形筒狀結(jié)構(gòu)。
[0009]優(yōu)選地，所述保溫層為包括在所述恒溫層上的石棉層或發(fā)泡材料層。
[0010]優(yōu)選地，所述標(biāo)定測試裝置還包括數(shù)根供待校準(zhǔn)的長桿鉑電阻溫度計插設(shè)其中的電阻套管、以及至少一個用于支撐所述電阻套管的支撐擋板；
[0011]所述支撐擋板沿所述測試筒徑向設(shè)置在測試筒內(nèi)；所述電阻套管一端固定在所述測試筒的一端上，另一端伸入所述測試筒內(nèi)，沿所述測試筒軸向延伸并穿過所述支撐擋板。
[0012]優(yōu)選地，所述支撐擋板上設(shè)有供所述電阻套管穿過的穿孔；
[0013]所述支撐擋板上還設(shè)有供恒溫介質(zhì)通過的通孔;和/或，多個所述支撐擋板在所述測試筒內(nèi)交錯設(shè)置。
[0014]優(yōu)選地，所述標(biāo)定測試裝置還包括數(shù)支沿所述測試筒軸向間隔分布的精密鉑電阻溫度計，所述精密鉑電阻溫度計與所述測溫儀連接；
[0015]所述精密鉑電阻溫度計依次穿過所述保溫層和恒溫層進(jìn)入所述測試筒內(nèi)。
[0016]優(yōu)選地，所述第一恒溫介質(zhì)入口位于所述測試筒的一端下方，所述第一恒溫介質(zhì)出口位于所述測試筒的另一端的上方；
[0017]所述第二恒溫介質(zhì)入口位于所述恒溫層的一端上方，所述第二恒溫介質(zhì)出口位于所述恒溫層的另一端的下方。
[0018]優(yōu)選地，所述第一恒溫介質(zhì)出口和第二恒溫介質(zhì)入口位于所述標(biāo)定測試裝置的同一側(cè)。
[0019]優(yōu)選地，所述第一恒溫浴裝置包括盛裝恒溫介質(zhì)的第一恒溫浴循環(huán)槽，分別連接在所述第一恒溫浴循環(huán)槽和第一恒溫介質(zhì)入口之間、以及所述第一恒溫浴循環(huán)槽和第一恒溫介質(zhì)出口之間的第一循環(huán)管路；
[0020]所述第二恒溫浴裝置包括盛裝恒溫介質(zhì)的第二恒溫浴循環(huán)槽，分別連接在所述第二恒溫浴循環(huán)槽和第二恒溫介質(zhì)入口之間、以及所述第二恒溫浴循環(huán)槽和第二恒溫介質(zhì)出口之間的第二循環(huán)管路。
[0021]本實用新型的長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置，通過兩級恒溫浴裝置的設(shè)置，實現(xiàn)恒溫介質(zhì)在測試筒內(nèi)和恒溫層內(nèi)的逆向循環(huán)流動，提高了裝置內(nèi)流體的溫度穩(wěn)定性和均勻性，可以實現(xiàn)裝置內(nèi)流體溫度的均勻性優(yōu)于〇.〇2°C，校準(zhǔn)性能更加可靠，提高了長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)結(jié)果的準(zhǔn)確度。
[0022]另外，通過布置在測試筒內(nèi)的支撐擋板，在支撐電阻套管的同時，改變恒溫介質(zhì)的流動狀態(tài)，減少流體的層流層，增加換熱效果?！靖綀D說明】
[0023]下面將結(jié)合附圖及實施例對本實用新型作進(jìn)一步說明，附圖中:
[0024]圖1是本實用新型一實施例的長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0025]圖2是圖1中支撐擋板的剖面結(jié)構(gòu)示意圖?！揪唧w實施方式】
[0026]為了對本實用新型的技術(shù)特征、目的和效果有更加清楚的理解，現(xiàn)對照附圖詳細(xì)說明本實用新型的【具體實施方式】。
[0027]如圖1所示，本實用新型一實施例的長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置，包括供待校準(zhǔn)的長桿鉑電阻溫度計插設(shè)其上的標(biāo)定測試裝置3、與標(biāo)定測試裝置3連接的第一恒溫浴裝置1 和第二恒溫浴裝置2、以及測溫儀(未圖示)。[〇〇28]其中，標(biāo)定測試裝置3包括兩端封閉的測試筒30、由內(nèi)向外依次設(shè)置在測試筒30外圍的恒溫層31和保溫層32。測試筒30上設(shè)有第一恒溫介質(zhì)入口 301和第一恒溫介質(zhì)出口 302，第一恒溫介質(zhì)入口 301和第一恒溫介質(zhì)出口 302連接第一恒溫浴裝置1，形成第一恒溫介質(zhì)循環(huán)回路，第一恒溫浴裝置1的恒溫介質(zhì)通過第一恒溫介質(zhì)入口 301進(jìn)入測試筒30內(nèi)腔，再從第一恒溫介質(zhì)出口 302流出測試筒30。
[0029] 恒溫層31上設(shè)有第二恒溫介質(zhì)入口 311和第二恒溫介質(zhì)出口 312,第二恒溫介質(zhì)入口 311和第二恒溫介質(zhì)出口 312連接第二恒溫浴裝置2,形成第二恒溫介質(zhì)循環(huán)回路，第二恒溫浴裝置2的恒溫介質(zhì)通過第二恒溫介質(zhì)入口 311進(jìn)入恒溫層31，再從第一恒溫介質(zhì)出口 312流出恒溫層31。第二恒溫介質(zhì)循環(huán)回路和第一恒溫介質(zhì)循環(huán)回路內(nèi)的恒溫介質(zhì)流動方向相反，實現(xiàn)兩者內(nèi)流體的逆向循環(huán)流動。
[0030]具體地，測試筒30為采用不銹鋼材料制成的筒體，優(yōu)選圓筒，且內(nèi)壁光滑;筒體內(nèi)腔供恒溫介質(zhì)在其中流動。筒體的一端封閉、另一端開放，開放的一端通過法蘭封閉。
[0031]恒溫層31和保溫層32依次包覆在測試筒30上。恒溫層31內(nèi)部為中空結(jié)構(gòu)，供恒溫介質(zhì)在其中循環(huán)進(jìn)出；該恒溫層31在測試筒30上的設(shè)置，提供測試筒30內(nèi)流體的溫度穩(wěn)定性和均勻性。恒溫層31可為不銹鋼制成的環(huán)形筒體結(jié)構(gòu)。保溫層32可以采用發(fā)泡材料或石棉形成，包裹在恒溫層31的外表面上，避免恒溫層31內(nèi)的恒溫介質(zhì)與外界進(jìn)行冷熱交換。
[0032]優(yōu)選地，恒溫層31和測試筒30外壁之間留有間隔，形成空氣層33。
[0033]校準(zhǔn)長桿鉑電阻溫度計時，測試筒30橫放在測試臺上。
[0034]第一恒溫介質(zhì)入口 301位于測試筒30的一端下方，第一恒溫介質(zhì)出口 302位于測試筒30的另一端的上方，使得恒溫介質(zhì)采用下進(jìn)上出的方式進(jìn)出測試筒30。
[0035]第二恒溫介質(zhì)入口 311位于恒溫層31的一端上方，第二恒溫介質(zhì)出口 312位于恒溫層31的另一端的下方，使得恒溫介質(zhì)采用上進(jìn)下出的方式進(jìn)出恒溫層31，并且與測試筒30的恒溫介質(zhì)的流向相反。恒溫層31與測試筒30的恒溫介質(zhì)可以進(jìn)行對流換熱，使得溫度補(bǔ)償穩(wěn)定。
[0036]如圖1中所示，第一恒溫介質(zhì)出口 302和第二恒溫介質(zhì)入口 311位于標(biāo)定測試裝置3的同一側(cè);第一恒溫介質(zhì)入口 301和第二恒溫介質(zhì)出口 312位于標(biāo)定測試裝置3的同一側(cè)。
[0037]標(biāo)定測試裝置3還包括數(shù)根電阻套管34，供待校準(zhǔn)的長桿鉑電阻溫度計插設(shè)其中；標(biāo)定測試裝置3還包括至少一個用于支撐電阻套管34的支撐擋板35。其中，支撐擋板35沿測試筒30徑向設(shè)置在測試筒30內(nèi)；電阻套管34—端固定在測試筒30的一端上，另一端伸入測試套筒30內(nèi)，沿測試筒30軸向延伸并穿過支撐擋板35。恒溫介質(zhì)在測試筒30內(nèi)包裹電阻套管34。
[0038]電阻套管34的一端可固定在測試筒30開放端的法蘭上，另一端位于測試筒30內(nèi)且不與測試筒30另一端連接。待校準(zhǔn)的長桿鉑電阻溫度計從電阻套管34位于法蘭上的一端插入其中，并且還通過連接線與測溫儀連接。
[0039]電阻套管34采用紫銅材料制成，為一端封閉、一端開放的筒狀結(jié)構(gòu)，開放端位于測試筒30開放端的法蘭上，用于待校準(zhǔn)的長桿鉑電阻溫度計的插入以及方便往其內(nèi)灌注硅油。電阻套管34的內(nèi)壁光滑，避免刮傷長桿鉑電阻溫度計。
[0040]支撐擋板35上設(shè)有供電阻套管34穿過的穿孔350。多根電阻套管34在測試筒30內(nèi)沿測試筒30的圓周方向間隔分布，支撐擋板35上的穿孔350與電阻套管34對應(yīng)設(shè)置。支撐擋板35可采用銅制成，具有散熱作用。
[0041 ]優(yōu)選地，支撐擋板35的尺寸小于測試筒30內(nèi)尺寸，其可通過一端固定在測試筒30內(nèi)的上部或下部；多個支撐擋板35在測試筒30內(nèi)交錯設(shè)置，使得測試筒30內(nèi)的循環(huán)介質(zhì)可沿測試筒30軸向通過支撐擋板35與測試筒30內(nèi)壁之間的間隙。和/或，在支撐擋板35上設(shè)通孔351，供恒溫介質(zhì)通過。通孔351數(shù)量不限。
[0042]標(biāo)定測試裝置3中，通過支撐擋板35在測試筒30內(nèi)的設(shè)置，不僅支撐電阻套管34，還改變標(biāo)定測試裝置3內(nèi)恒溫介質(zhì)的流動狀態(tài)，減少流體的層流層，增強(qiáng)標(biāo)定測試裝置3內(nèi)恒溫介質(zhì)的換熱，減小沿測試筒30徑向方向的溫度梯度。
[0043]標(biāo)定測試裝置3還包括數(shù)支沿測試筒30軸向間隔分布的精密鉑電阻溫度計36，精密鉑電阻溫度計36與測溫儀連接。精密鉑電阻溫度計36依次穿過保溫層32和恒溫層31進(jìn)入測試筒30內(nèi)。
[0044]如圖1所示，本實施例中，標(biāo)定測試裝置3包括五根精密鉑電阻溫度計36,兩根分別靠近恒溫介質(zhì)進(jìn)出口設(shè)置在測試筒30的兩端處，其余間隔分布在測試筒30的兩端之間。
[0045]其中，第一恒溫浴裝置1包括盛裝恒溫介質(zhì)的第一恒溫浴循環(huán)槽11，分別連接在第一恒溫浴循環(huán)槽11和第一恒溫介質(zhì)入口 301之間、以及第一恒溫浴循環(huán)槽11和第一恒溫介質(zhì)出口 302之間的第一循環(huán)管路12。第二恒溫浴裝置2包括盛裝恒溫介質(zhì)的第二恒溫浴循環(huán)槽21，分別連接在第二恒溫浴循環(huán)槽21和第二恒溫介質(zhì)入口 311之間、以及第二恒溫浴循環(huán)槽21和第二恒溫介質(zhì)出口 312之間的第二循環(huán)管路22。
[0046]上述的恒溫介質(zhì)通常采用水;對于低溫要求的，恒溫介質(zhì)采用硅油。
[0047]本實用新型在使用時，將待校準(zhǔn)的長桿鉑電阻溫度計整支插入電阻套管34,電阻套管34內(nèi)可加入適量硅油或者在待校準(zhǔn)的長桿鉑電阻溫度計感溫部分涂抹導(dǎo)熱硅脂，減小傳熱熱阻。開啟第一恒溫浴裝置1，將第一恒溫浴裝置1的溫度設(shè)定為略低于長桿鉑電阻溫度計的校準(zhǔn)溫度點，等第一恒溫浴裝置1內(nèi)的溫度穩(wěn)定后，再開啟第二恒溫浴裝置2，調(diào)節(jié)至預(yù)設(shè)溫度，進(jìn)行恒溫介質(zhì)循環(huán)?？稍跍y溫儀上讀取長桿鉑電阻溫度計、精密鉑電阻溫度計36 上的溫度數(shù)值以完成校準(zhǔn)。
[0048]長桿鉑電阻溫度計的校準(zhǔn)測試點為精密鉑電阻溫度計36的溫度讀數(shù)的平均值。待插接在測試筒30上間隔最大的兩支精密鉑電阻溫度計36溫度相差在0.05°C之內(nèi)時，即視作測試筒30內(nèi)恒溫介質(zhì)溫度均勻，即可開始長桿鉑電阻溫度計的校準(zhǔn)。當(dāng)長桿鉑電阻溫度計比電阻套管34長度小時，可以以距離長桿鉑電阻溫度計感溫段最近的精密鉑電阻溫度計36 的測量結(jié)果的平均值作為測試筒30介質(zhì)的溫度，同時以其差值作為恒溫介質(zhì)的溫度均勻性。
[0049]以上所述僅為本實用新型的實施例，并非因此限制本實用新型的專利范圍，凡是利用本實用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置，其特征在于，包括用于插接待校準(zhǔn)的長桿鉑電阻 溫度計的標(biāo)定測試裝置(3)、與所述標(biāo)定測試裝置(3)連接的第一恒溫浴裝置(1)和第二恒 溫浴裝置(2)、以及測溫儀;所述標(biāo)定測試裝置(3)包括兩端封閉的測試筒(30)、由內(nèi)向外依 次設(shè)置在所述測試筒(30)外圍的恒溫層(31)和保溫層(32);所述測試筒(30)上設(shè)有第一恒溫介質(zhì)入口(301)和第一恒溫介質(zhì)出口(302)，所述第一 恒溫介質(zhì)入口(301)和第一恒溫介質(zhì)出口(302)連接所述第一恒溫浴裝置(1)，形成第一恒 溫介質(zhì)循環(huán)回路；所述恒溫層(31)上設(shè)有第二恒溫介質(zhì)入口(311)和第二恒溫介質(zhì)出口 (312)，所述第二恒溫介質(zhì)入口(311)和第二恒溫介質(zhì)出口(312)連接所述第二恒溫浴裝置(2)，形成第二恒溫介質(zhì)循環(huán)回路。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述恒溫層(31)和 所述測試筒(30)外壁之間留有間隔，形成空氣層(33)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述恒溫層(31)為 包覆在所述測試筒(30)上的環(huán)形筒狀結(jié)構(gòu)。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述保溫層(32)為 包括在所述恒溫層(31)上的石棉層或發(fā)泡材料層。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述標(biāo)定測試裝置(3)還包括數(shù)根供待校準(zhǔn)的長桿鉑電阻溫度計插設(shè)其中的電阻套管(34)、以及至少一個用 于支撐所述電阻套管(34)的支撐擋板(35);所述支撐擋板(35)沿所述測試筒(30)徑向設(shè)置在測試筒(30)內(nèi)；所述電阻套管(34) — 端固定在所述測試筒(30)的一端上，另一端伸入所述測試筒(30)內(nèi)，沿所述測試筒(30)軸 向延伸并穿過所述支撐擋板(35)。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述支撐擋板(35) 上設(shè)有供所述電阻套管(34)穿過的穿孔(350);所述支撐擋板(35)上還設(shè)有供恒溫介質(zhì)通過的通孔(351);和/或，多個所述支撐擋板 (35 )在所述測試筒(30 )內(nèi)交錯設(shè)置。7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述標(biāo)定測試裝置 (3)還包括數(shù)支沿所述測試筒(30)軸向間隔分布的精密鉑電阻溫度計(36)，所述精密鉑電 阻溫度計(36)與所述測溫儀連接；所述精密鉑電阻溫度計(36)依次穿過所述保溫層(32)和恒溫層(31)進(jìn)入所述測試筒 (30)內(nèi)。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述第一恒溫介質(zhì) 入口(301)位于所述測試筒(30)的一端下方，所述第一恒溫介質(zhì)出口(302)位于所述測試筒 (30)的另一端的上方；所述第二恒溫介質(zhì)入口(311)位于所述恒溫層(31)的一端上方，所述第二恒溫介質(zhì)出 口(312)位于所述恒溫層(31)的另一端的下方。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述第一恒溫介質(zhì) 出口(302)和第二恒溫介質(zhì)入口(311)位于所述標(biāo)定測試裝置(3)的同一側(cè)。10.根據(jù)權(quán)利要求1-9任一項所述的長桿鉑電阻溫度計校準(zhǔn)裝置，其特征在于，所述第 一恒溫浴裝置(1)包括盛裝恒溫介質(zhì)的第一恒溫浴循環(huán)槽(11)，分別連接在所述第一恒溫浴循環(huán)槽(11)和第一恒溫介質(zhì)入口(301)之間、以及所述第一恒溫浴循環(huán)槽(11)和第一恒溫介質(zhì)出口(302)之間的第一循環(huán)管路(12);所述第二恒溫浴裝置(2)包括盛裝恒溫介質(zhì)的第二恒溫浴循環(huán)槽(21)，分別連接在所述第二恒溫浴循環(huán)槽(21)和第二恒溫介質(zhì)入口(311)之間、以及所述第二恒溫浴循環(huán)槽(21)和第二恒溫介質(zhì)出口(312)之間的第二循環(huán)管路(22)。
【文檔編號】G01K15/00GK205642674SQ201620427942
【公開日】2016年10月12日
【申請日】2016年5月12日
【發(fā)明人】謝岱良, 王琪, 周孝章
【申請人】廣西防城港核電有限公司, 中國廣核集團(tuán)有限公司