光纖性能測試用的連接器接口轉(zhuǎn)換盒的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種光纖性能測試用的連接器接口轉(zhuǎn)換盒，以快速適配不同接頭形式光纖性能測試。
【背景技術(shù)】
[0002]光纖由透明的光學(xué)材料制成的芯和包層、涂敷層組成。光纖本身為絕緣體不受電磁干擾，而且本身不產(chǎn)生電磁場。由于光纖傳輸?shù)墓庑盘柧哂锌垢蓴_能力高、損耗小、傳輸速度快等特點(diǎn)，在高壓直流輸電控制保護(hù)裝置接口設(shè)計中，大量采用的光纖接口形式的各類總線。許繼集團(tuán)研制的DPS3000系列裝置TDM總線，快速點(diǎn)對點(diǎn)IFC總線，光纖環(huán)網(wǎng)的現(xiàn)場總線等都采用了光纖接口形式。
[0003]在光纖鋪設(shè)過程中人為造成的光纖衰減的主要因素有:彎曲，擠壓，對接等。在直流輸電工程換流站現(xiàn)場，由于工程施工環(huán)境復(fù)雜，鋪設(shè)的粗重電纜種類繁多，容易造成光纖衰減。光纖彎曲時，光纖內(nèi)的光會因散射而損失掉;光纖受到擠壓時產(chǎn)生的微小彎曲而產(chǎn)生的損耗;光纖對接時由于不同軸，端面與軸心不垂直，端面不平，對接心不匹配和熔接質(zhì)量差等原因引起的光衰。
[0004]為了保證直流輸電系統(tǒng)可靠運(yùn)行，需要對鋪設(shè)的光纖進(jìn)行光纜傳輸、技術(shù)特性的檢驗(yàn)，即測量每根光纖的功率傳輸衰減值。目前，國內(nèi)用的較多的測量光衰的工具有光時域反射計(0TDR)和美國FLUKE的FTK光纖檢測工具。OTDR基于光的背向散射與菲涅耳反射原理制作，利用光在光纖中傳播時產(chǎn)生的后向散射光來獲取衰減的信息，可用于測量光纖衰減、接頭損耗、光纖故障點(diǎn)定位以及了解光纖沿長度的損耗分布情況等。美國FLUKE的FTK光纖檢測工具基于插入損耗法計算原理，由光源和檢測表計組成。它通過測量光的不同功率值，來計算光衰。
[0005]光纖連接器接頭目前有ST，SC，F(xiàn)C，LC等多種形式。光纖接頭形式ST連接器插入牢固，但需要旋轉(zhuǎn)半周后被卡扣固定。SC連接器直接插接，使用方便，缺點(diǎn)是容易松動。FC連接器一般電信網(wǎng)絡(luò)采用，用螺絲帽擰到適配器上，優(yōu)點(diǎn)是牢靠，防灰塵，缺點(diǎn)安裝時間較長。LC連接器采用操作方便的模塊化插孔閂索機(jī)理制成。根據(jù)這幾種連接器接頭的優(yōu)點(diǎn)，直流控制保護(hù)裝置較多采用有ST，SC，F(xiàn)C，LC接頭光纖接頭形式。但上述兩種測量工具配置的光纖接口種類比較單一，一般配置為ST或SC國外常用的光纖接口形式，不能滿足我國光纖接口的眾多的測試需求。尤其對兩端都為DLC接頭光纖接頭形式光纖進(jìn)行測試時，單光源的光衰測量工具在工程現(xiàn)場無法提供有效的測試方法。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0006]本實(shí)用新型的目的在于提供一種光纖性能測試用的連接器接口轉(zhuǎn)換盒，提高高壓直流輸電領(lǐng)域控制保護(hù)裝置間光纖衰減測量適用范圍，減少光纖接口形式不匹配無法進(jìn)行光纖性能測試的影響。
[0007]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型的方案包括:
[0008]光纖性能測試用的連接器接口轉(zhuǎn)換盒，包括底座，底座上設(shè)置有至少一個光纖連接器，所述光纖連接器的一個接口為ST、SC、FC接口之一，所述光纖連接器的另一個接口為LC、ST 接口之一。
[0009]還包括一個LC連接器，該LC連接器的兩接口均為LC接口。
[0010]所述底座上設(shè)有四個光纖連接器，四個光纖連接器的接口分別為DLC/DLC接口、SC/ST接口、FC/ST接口、ST/ST接口。
[0011]所述底座上還設(shè)有吸附磁鐵。
[0012]本實(shí)用新型為解決光纖接口形式不匹配不能進(jìn)行光纖性能測試問題，它提供一種低成本，高可靠性，易于實(shí)現(xiàn)的方式。
[0013]光纖連接器接口轉(zhuǎn)換盒采用特殊安裝方式，底部為磁鐵，可以可靠吸附在鐵質(zhì)的材質(zhì)上面，便于方便、快捷地安裝在復(fù)雜的測試環(huán)境中，比如該盒子可方便、可靠地懸掛于測試現(xiàn)場，便于現(xiàn)場光纖測試。
【附圖說明】
[0014]圖1是連接器接口轉(zhuǎn)換盒在OTDR光纖測試工具中的應(yīng)用示意圖；
[0015]圖2是連接器接口轉(zhuǎn)換盒在FLUKE的FTK光纖檢測工具中的應(yīng)用示意圖；
[0016]圖3是連接器接口轉(zhuǎn)換盒的雙LC(DLC)光纖測試使用示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型做進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
[0018]針對OTDR光纖測試工具和FLUKE的FTK光纖檢測工具配置的光纖接口種類比較單一，一般配置為ST或SC國外常用的光纖接口形式，不能滿足我國光纖接口的眾多的測試需求的問題，本實(shí)用新型的主要思路是在光纖測試回路中，增加測試轉(zhuǎn)換回路。
[0019]該測試轉(zhuǎn)換回路包括(光纖)連接器接口轉(zhuǎn)換盒和適配光纖兩部分。
[0020]測試轉(zhuǎn)換回路3設(shè)置在測試工具與被測試光纖4之間。如圖1所示，在OTDR光纖測試工具中，連接器接口轉(zhuǎn)換盒I通過適配光纖2連接到OTDR光纖測試工具。OTDR光纖測試工具包括光源5、定向耦合器6、脈沖發(fā)生器7、數(shù)據(jù)分析及顯示單元8、光檢測器9、放大器10。
[0021]用于FLUKE的FTK光纖檢測工具時，如圖2所示，連接器接口轉(zhuǎn)換盒I配置了DLC/DLC、ST/SC、ST/FC、ST/ST這4種接口類型的光纖連接器，可以方便把測試光纖中的ST，SC，F(xiàn)C，LC(DLC)等多種連接形式進(jìn)行轉(zhuǎn)化為LC，ST連接器形式。本文中，LC接口包括單LC接口和雙 LC(DLC)接口。
[0022]適配光纖2共有兩芯，分別為LC/ST接頭形式和ST/ST接頭形式。圖2中使用的是ST/ST接頭形式，一條ST/ST接頭形式適配光纖連接測試光源11，另一條ST/ST接頭形式適配光纖連接測試光衰表計光源12，分別連接兩個連接器接口轉(zhuǎn)換盒ST接口，兩個連接器接口轉(zhuǎn)換盒的SC接口用于連接被測試光纖4。
[0023]LC/ST接頭形式適配光纖是為了解決單光源光衰測量工具在工程現(xiàn)場無測試雙LC(DLC)接頭光纖特意設(shè)計的。當(dāng)進(jìn)行光纖測試時，SC、FC、ST三接頭預(yù)制被測試光纖插在對應(yīng)兩端光纖連接器轉(zhuǎn)接盒的適配器中，兩端用適配光纖ST/ST來接連接光衰測試裝置與光纖測試回路。DLC待測預(yù)制光纖的插在對應(yīng)兩端光纖連接器轉(zhuǎn)接盒的適配器中，用適配光纖ST/LC來接連接光衰測試裝置與光纖測試回路，如圖3所示。
[0024]DLC適配器有一對光纖接口A口和B 口 ；DLC適配器另一端DLC的A口插入LC/ST接頭形式的適配光纖，其ST接頭端直接插入測試光衰工具的ST對應(yīng)接口即可。測試完成DLC待測光纖的A口光纜芯線，再把LC/ST接頭形式的適配光纖插入到光纖連接器接口轉(zhuǎn)換盒DLC適配器另一端DLC的B口，即可方便的完成DLC待測光纖的B口光纜芯線測試。
[0025]本方案從效果及實(shí)現(xiàn)方法上，具有成本低，易于實(shí)現(xiàn)等特點(diǎn)。目前，采用這種光衰測試回路中增加測試轉(zhuǎn)換回路，只需連接器接口轉(zhuǎn)換盒和簡單適配光纖，就可完成待測光纖中的ST，SC，F(xiàn)C，LC (DLC)等多種連接形式進(jìn)行簡單化轉(zhuǎn)化，對光衰測試工具的接口要求更為簡單，就可滿足直流輸電工程現(xiàn)場對光纖性能檢驗(yàn)的要求。
[0026]另外，光纖連接器接口轉(zhuǎn)換盒的底座中設(shè)有磁鐵，可以采用磁鐵吸附的安裝方式簡單、方便，維護(hù)成本低廉，易于實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場測試放置。目前這種光衰測試回路中增加光纖連接器轉(zhuǎn)換回路的實(shí)現(xiàn)方法已通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證可以簡單，有效的解光纖接口形式不匹配無法進(jìn)行光纖性能測試。
[0027]以上給出了本實(shí)用新型涉及的【具體實(shí)施方式】，但本實(shí)用新型不局限于所描述的實(shí)施方式。在本實(shí)用新型給出的思路下，采用對本領(lǐng)域技術(shù)人員而言容易想到的方式對上述實(shí)施例中的技術(shù)手段進(jìn)行變換、替換、修改，并且起到的作用與本實(shí)用新型中的相應(yīng)技術(shù)手段基本相同、實(shí)現(xiàn)的實(shí)用新型目的也基本相同，這樣形成的技術(shù)方案是對上述實(shí)施例進(jìn)行微調(diào)形成的，這種技術(shù)方案仍落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.光纖性能測試用的連接器接口轉(zhuǎn)換盒，包括底座，其特征在于，底座上設(shè)置有至少一個光纖連接器，所述光纖連接器的一個接口為ST、SC、FC接口之一，所述光纖連接器的另一個接口為LC、ST接口之一。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光纖性能測試用的連接器接口轉(zhuǎn)換盒，其特征在于，還包括一個LC連接器，該LC連接器的兩接口均為LC接口。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光纖性能測試用的連接器接口轉(zhuǎn)換盒，其特征在于，所述底座上設(shè)有四個光纖連接器，四個光纖連接器的接口分別為DLC/DLC接口、SC/ST接口、FC/ST接口、ST/ST接口。4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的光纖性能測試用的連接器接口轉(zhuǎn)換盒，其特征在于，所述底座上還設(shè)有吸附磁鐵。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種光纖性能測試用的連接器接口轉(zhuǎn)換盒，包括底座，底座上設(shè)置有至少一個光纖連接器，所述光纖連接器的一個接口為ST、SC、FC接口之一，所述光纖連接器的另一個接口為LC、ST接口之一。本實(shí)用新型為解決光纖接口形式不匹配不能進(jìn)行光纖性能測試問題，它提供一種低成本，高可靠性，易于實(shí)現(xiàn)的方式。
【IPC分類】G02B6/38, G01M11/00
【公開號】CN205352657
【申請?zhí)枴緾N201521005681
【發(fā)明人】楊廣羽, 劉敏, 鮮亞偉, 任大新, 王愛枝, 劉高峰, 崔佳佳, 王彥賓, 王清堅(jiān), 肖紅帥, 劉星星
【申請人】許繼電氣股份有限公司, 許繼集團(tuán)有限公司, 國家電網(wǎng)公司
【公開日】2016年6月29日
【申請日】2015年12月7日