求取淺層速度場的方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明實施例涉及石油勘探地震數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種求取淺層速度場的方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]求取地震速度是地震資料處理過程中一個關(guān)鍵步驟,速度譜中存在多個介質(zhì)點,每個介質(zhì)點對應(yīng)有地震速度,由速度譜中所有介質(zhì)點分別對應(yīng)的地震速度構(gòu)成地震速度場,地震速度場的精度是地震成像的關(guān)鍵因素。
[0003]通常淺層速度譜存在空白區(qū),針對該現(xiàn)象,采用根據(jù)速度趨勢向上延伸淺層速度的方式來彌補淺層速度對應(yīng)的空白區(qū)。
[0004]但是通過現(xiàn)有技術(shù)獲得的淺層速度與真實的淺層速度存在較大的誤差,導(dǎo)致淺層速度場精度較低。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]本發(fā)明實施例提供一種求取淺層速度場的方法及裝置,以獲得高精度的淺層速度場。
[0006]本發(fā)明實施例的一個方面是提供一種求取淺層速度場的方法,包括:
[0007]將地震數(shù)據(jù)的基準(zhǔn)面靜校正量基于浮動面進(jìn)行高低頻分離,獲得浮動面靜校正量、炮點高頻靜校正量和檢波點高頻靜校正量;
[0008]獲取炮點相對所述浮動面的值和檢波點相對所述浮動面的值;
[0009]依據(jù)所述浮動面靜校正量、所述炮點高頻靜校正量和所述炮點相對所述浮動面的值獲得所述炮點從地表到所述浮動面的第一校正量;
[0010]依據(jù)所述浮動面靜校正量、所述檢波點高頻靜校正量和所述檢波點相對所述浮動面的值獲得所述檢波點從地表到所述浮動面的第二校正量;
[0011]依據(jù)所述第一校正量和所述第二校正量校正所述地震數(shù)據(jù)獲得校正后的地震數(shù)據(jù),對所述校正后的地震數(shù)據(jù)拾取初至,依據(jù)所述初至進(jìn)行層析反演獲得所述淺層速度場。
[0012]本發(fā)明實施例的另一個方面是提供一種求取淺層速度場的裝置,包括:
[0013]分離模塊,用于將地震數(shù)據(jù)的基準(zhǔn)面靜校正量基于浮動面進(jìn)行高低頻分離,獲得浮動面靜校正量、炮點高頻靜校正量和檢波點高頻靜校正量;
[0014]獲取模塊,用于獲取炮點相對所述浮動面的值和檢波點相對所述浮動面的值;
[0015]處理模塊,用于依據(jù)所述浮動面靜校正量、所述炮點高頻靜校正量和所述炮點相對所述浮動面的值獲得所述炮點從地表到所述浮動面的第一校正量;依據(jù)所述浮動面靜校正量、所述檢波點高頻靜校正量和所述檢波點相對所述浮動面的值獲得所述檢波點從地表到所述浮動面的第二校正量;依據(jù)所述第一校正量和所述第二校正量校正所述地震數(shù)據(jù)獲得校正后的地震數(shù)據(jù),對所述校正后的地震數(shù)據(jù)拾取初至,依據(jù)所述初至進(jìn)行層析反演獲得所述淺層速度場。
[0016]本發(fā)明實施例提供的求取淺層速度場的方法及裝置,通過炮點從地表到浮動面的校正量和檢波點從地表到浮動面的校正量將各炮點、各檢波點校正到相應(yīng)的浮動面上,再利用初至信息通過浮動面層析反演技術(shù)實現(xiàn)淺層速度建模,將常規(guī)的初至層析反演技術(shù)創(chuàng)新應(yīng)用在浮動面的初至層析反演,提高了淺層速度場的精度。
【附圖說明】
[0017]圖1為本發(fā)明實施例提供的求取淺層速度場的方法流程圖;
[0018]圖2為本發(fā)明實施例提供的浮動面及各種校正量示意圖;
[0019]圖3A為本發(fā)明另一實施例提供的地震數(shù)據(jù)的浮動面靜校正量示意圖;
[0020]圖3B為本發(fā)明另一實施例提供的炮點高頻靜校正量示意圖;
[0021]圖3C為本發(fā)明另一實施例提供的檢波點聞頻靜校正量TJK意圖;
[0022]圖4A為本發(fā)明另一實施例提供的炮點位置浮動面平面圖;
[0023]圖4B為本發(fā)明另一實施例提供的檢波點位置浮動面平面圖;
[0024]圖5為本發(fā)明另一實施例提供的地震資料炮檢點從地表到浮動面校正量平面圖;
[0025]圖6為本發(fā)明另一實施例提供的應(yīng)用炮、檢點從地表校正到浮動面后的單炮記錄;
[0026]圖7A為本發(fā)明另一實施例提供的射線密度圖模型深度檢查及模型可靠性分析圖;
[0027]圖7B為本發(fā)明另一實施例提供的淺層速度場示意圖;
[0028]圖8A為本發(fā)明另一實施例提供的高精度的淺層速度場示意圖;
[0029]圖8B為現(xiàn)有技術(shù)求取的淺層速度場示意圖;
[0030]圖9為本發(fā)明另一實施例提供的高精度的淺層速度場與現(xiàn)有技術(shù)求取的淺層速度場的對比圖;
[0031]圖1OA為利用現(xiàn)有技術(shù)求取的淺層速度場進(jìn)行疊前偏移的共反射點道集;
[0032]圖1OB為利用本發(fā)明另一實施例提供的高精度的淺層速度場進(jìn)行疊前偏移的共反射點道集。
[0033]圖11為本發(fā)明實施例提供的求取淺層速度場的裝置結(jié)構(gòu)圖。
【具體實施方式】
[0034]圖1為本發(fā)明實施例提供的求取淺層速度場的方法流程圖。圖2為本發(fā)明實施例提供的浮動面及各種校正量示意圖。本發(fā)明實施例提供的求取淺層速度場的方法步驟如下:
[0035]步驟S101、將地震數(shù)據(jù)的基準(zhǔn)面靜校正量基于浮動面進(jìn)行高低頻分離,獲得浮動面靜校正量、炮點高頻靜校正量和檢波點高頻靜校正量;
[0036]確定固定基準(zhǔn)面,并利用炮點和檢波點高程信息生成浮動面,具體為所述炮點和所述檢波點連線的中點為浮動點,由多個炮點和多個檢波點對應(yīng)的多個浮動點構(gòu)成所述浮動面。如圖2所示,炮點S和檢波點D連線的中點C為浮動點,當(dāng)炮點為多個,檢波點也為多個時,任一炮點和任一檢波點連線的中點將形成一個浮動點,多個浮動點構(gòu)成如圖2所示的浮動面30。
[0037]所述浮動面靜校正量是所述炮點和所述檢波點對應(yīng)的浮動點相對于固定基準(zhǔn)面的值。如圖2所示,浮動面靜校正量Taiip是炮點S和檢波點D對應(yīng)的浮動點C相對于固定基準(zhǔn)面10的值;過C點的水平線為40,過炮點S的垂直線與水平線40的交點為S’,S到S’為炮點高頻靜校正量Tstat source ;過檢波點D的垂直線與水平線40的交點為D’,D到D’為檢波點高頻靜校正量T
stat detect °
[0038]步驟S102、獲取炮點相對所述浮動面的值和檢波點相對所述浮動面的值;
[0039]所述炮點相對所述浮動面的值是過所述炮點的垂直線與所述浮動面的交點相對于所述固定基準(zhǔn)面的值的一半;所述檢波點相對所述浮動面的值是過所述檢波點的垂直線與所述浮動面的交點相對于所述固定基準(zhǔn)面的值的一半。
[0040]如圖2所示,過炮點S的垂直線與浮動面30的交點為S",S"相對于所述固定基準(zhǔn)面10的值的一半為炮點相對所述浮動面的值Taiip source0過檢波點D的垂直線與浮動面30的交點為D",D"相對于所述固定基準(zhǔn)面10的值的一半為檢波點相對所述浮動面的值T
1cmp detect °
[0041]步驟S103、依據(jù)所述浮動面靜校正量、所述炮點高頻靜校正量和所述炮點相對所述浮動面的值獲得所述炮點從地表到所述浮動面的第一校正量;
[0042]S到S"為炮點從地表到所述浮動面的第一校正量Ts,所述第一校正量Ts =Tcnp/2+Tstat source-Tcnp _ra,其中,Tenp表示所述浮動面靜校正量,Tstat source表示所述炮點高頻靜校正量,Tcmp source表示所述炮點相對所述浮動面的值。
[0043]步驟S104、依據(jù)所述浮動面靜校正量、所述檢波點高頻靜校正量和所述檢波點相對所述浮動面的值獲得所述檢波點從地表到所述浮動面的第二校正量;
[0044]D到D"為檢波點從地表到所述浮動面的第二校正量Td,所述第二校正量Td =
Tcmp/2+Tstat detect ^cmp det