一種靜電測試的方法和裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及測試技術(shù)領(lǐng)域，具體地，涉及一種靜電測試的方法和裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 可靠性試驗是對產(chǎn)品進行可靠性調(diào)查、分析和評價的一種手段。實驗結(jié)果包括故 障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達到指標要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性試驗所采 用的方法和目的，可靠性試驗可W分為可靠性驗證試驗和可靠性測定試驗。可靠性測定試 驗是為測定可靠性特性或其量值而做的試驗，通常用來提供可靠性數(shù)據(jù)?？煽啃则炞C試驗 是用來驗證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗，一般將可靠性鑒定 和驗收試驗統(tǒng)稱為可靠性驗證試驗。其中，電磁兼容試驗中的靜電測試屬于可靠性試驗的 一種。
[0003] 現(xiàn)有的技術(shù)方法在進行可靠性試驗中的靜電測試時，除傳統(tǒng)試驗方法外，還有一 種方法就是仿真軟件進行仿真測試，例如可W利用電磁仿真技術(shù)進行仿真測試。電磁仿真 技術(shù)中運用的主要計算電磁學方法大致可分為2類；精確算法和高頻近似方法。精確計算 方法包括差分法（抑TD，抑抑）、有限元（陽M)、矩量法（MoM) W及基于矩量法的快速算法巧口 快速多極子FMM和多層快速多極子MLFM)等。其中，在解決電大目標電磁問題中最有效的 方法為多層快速多極子方法。高頻方法一般可歸作2類；一類基于射線光學，包括幾何光學 (GO)、幾何繞射理論（GTD) W及在GTD基礎(chǔ)上發(fā)展起來的一致性繞射理論（UTD)等；另一類 基于波前光學，包括物理光學（P0)、物理繞射理論（PTD)、等效電磁流方法（MEC) W及增量 長度繞射系數(shù)法（ILDC)等。
[0004] 電磁兼容仿真預(yù)測的研究內(nèi)容主要是建立電磁兼容H要素：電磁干擾源、禪合路 徑和敏感設(shè)備的數(shù)學模型，并采用適當?shù)臄?shù)值計算方法求解該些模型，W評估系統(tǒng)各敏感 設(shè)備是否滿足預(yù)定的電磁干擾裕度要求。完整的電磁仿真流程如圖1所示，首先系統(tǒng)建模， 然后進行數(shù)值計算工具選擇，之后利用計算機進行仿真模擬，得到仿真結(jié)果后可W確定所 建模型的不足之處，然后對模型進行修改，再利用數(shù)值計算工具進行計算機仿真。其中，利 用數(shù)值計算工具進行計算機仿真還可W用于新計算工具和數(shù)值方法開發(fā)，當開發(fā)出新的計 算工具后還可W應(yīng)用于上述建模仿真過程。
[0005] 由于仿真軟件價格非常貴，精確的仿真模型參數(shù)非常復(fù)雜，同時，電磁兼容理論高 深，算法復(fù)雜，也不可能增加大量的額外的建模計算，該些建模仿真雖說有必要，但不是每 個研發(fā)試驗人員都有能力有時間進行計算。成本高、研發(fā)周期長、問題描述不直觀、真實性 不一定可W保證，而且不直接面對現(xiàn)實中的問題，從而導(dǎo)致中小型企業(yè)很難實現(xiàn)。
[0006] 另外，對于測試有問題的電路板通常采取W下幾種方法進行改進：
[0007] 1、板級防護；板級CPU周圍加屏蔽罩；
[000引 2、外殼防護；結(jié)構(gòu)外殼加密封圈；
[0009] 3、H防漆防護；某些關(guān)鍵電路部分涂H防漆。該些都做過后，還存在問題的情況下 才考慮修改電路板。
[0010] 但是W上幾種防護方式不能從根本上直接解決電路的可靠性問題，問題實際上依 然存在，而且沒有直觀的面對問題，主要是防護，甚至是繞過可靠性的要求。沒有找到發(fā)生 問題的關(guān)鍵點，只是將其保護起來避免其受干擾，萬一發(fā)生不可抗的情況時，其后果堪憂。 現(xiàn)有技術(shù)在解決電路靜電測試時，對于問題網(wǎng)絡(luò)是進行保護，防止其被干擾，采取屏蔽，密 封，防護方法避免發(fā)生干擾。該個缺點在于未從根本上解決問題，問題依然存在于設(shè)備中， 可靠性存在一定的風險。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0011] 本發(fā)明是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中在靜電測試時不能快速找到發(fā)生問題的關(guān)鍵點的 缺陷，根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提出一種靜電測試的方法。
[0012] 根據(jù)本發(fā)明實施例的一種靜電測試的方法，包括；依次選取受試設(shè)備的測試點，并 在測試點處進行放電測試；確定故障測試點、第一故障發(fā)生率W及相對應(yīng)的試驗條件，故障 測試點為受試設(shè)備進行放電測試時發(fā)生故障的測試點；根據(jù)故障測試點處發(fā)生的故障確定 產(chǎn)生故障的一條或多條網(wǎng)絡(luò)；依次從一條或多條網(wǎng)絡(luò)中選取一條試驗網(wǎng)絡(luò)并為試驗網(wǎng)絡(luò)外 接引出線，并在故障測試點處W與第一故障發(fā)生率相對應(yīng)的試驗條件進行放電測試，確定 第二故障發(fā)生率；將第二故障發(fā)生率與第一故障發(fā)生率作對比，當故障發(fā)生率的變化值達 到預(yù)設(shè)闊值時，確定選取的試驗網(wǎng)絡(luò)存在缺陷。
[0013] 優(yōu)選的，引出線是長度為8-15畑1的導(dǎo)線。
[0014] 優(yōu)選的，引出線是長度為10cm的導(dǎo)線。
[0015] 優(yōu)選的，在測試點處進行放電測試，包括：確定受試設(shè)備上的電荷已經(jīng)被消除；通 過靜電放電發(fā)生器在測試點處W單次放電的方式施加靜電放電脈沖；靜電放電脈沖的試驗 電壓逐漸增高，放電重復(fù)率保持不變。
[001引優(yōu)選的，放電測試為空氣放電測試。
[0017] 本發(fā)明實施例提供的一種靜電測試的方法，首先根據(jù)放電測試的結(jié)果初步確定可 能存在問題的網(wǎng)絡(luò)，之后依次為其中一條網(wǎng)絡(luò)外接引出線，W相同的試驗條件再次進行放 電測試。利用引出線可W增大信號的作用，通過對比兩次故障的發(fā)生頻率可W具體確定存 在問題的網(wǎng)絡(luò)。該方法成本低、定位快，且可W盡快鎖定故障點，提高了測試效率，而且可W 從電路的角度制定優(yōu)化方案進行優(yōu)化和改進。
[0018] 本發(fā)明是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中在靜電測試時不能快速找到發(fā)生問題的關(guān)鍵點的 缺陷，根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提出一種靜電測試的裝置。
[0019] 根據(jù)本發(fā)明實施例的一種靜電測試的裝置，包括：
[0020] 放電測試模塊，用于依次選取受試設(shè)備的測試點，并在測試點處進行放電測試；
[0021] 第一處理模塊，用于確定故障測試點、第一故障發(fā)生率W及相對應(yīng)的試驗條件，故 障測試點為受試設(shè)備進行放電測試時發(fā)生故障的測試點；
[0022] 分析模塊，用于根據(jù)故障測試點處發(fā)生的故障確定產(chǎn)生故障的一條或多條網(wǎng)絡(luò)；
[0023] 第二處理模塊，用于依次從一條或多條網(wǎng)絡(luò)中選取一條試驗網(wǎng)絡(luò)并為試驗網(wǎng)絡(luò)外 接引出線，并在故障測試點處W與第一故障發(fā)生率相對應(yīng)的試驗條件進行放電測試，確定 第二故障發(fā)生率；
[0024] 對比處理模塊，用于將第二故障發(fā)生率與第一故障發(fā)生率作對比，當故障發(fā)生率 的變化值達到預(yù)設(shè)闊值時，確定選取的試驗網(wǎng)絡(luò)存在缺陷。
[002引優(yōu)選的，引出線是長度為8-15cm的導(dǎo)線。
[0026] 優(yōu)選的，引出線是長度為10cm的導(dǎo)線。
[0027] 優(yōu)選的，放電測試模塊包括：
[0028] 分析單元，用于確定受試設(shè)備上的電荷已經(jīng)被消除；
[0029] 脈沖施加單元，用于通過靜電放電發(fā)生器在測試點處W單次放電的方式施加靜電 放電脈沖；靜電放電脈沖的試驗電壓逐漸增高，放電重復(fù)率保持不變。
[0030] 優(yōu)選的，放電測試為空氣放電