專利名稱:隔離測(cè)試筆的制作方法
本實(shí)用新型屬于使用各種型號(hào)萬(wàn)用表，隔離萬(wàn)用表與被測(cè)電子電路之間的干擾的測(cè)試筆。
一般的萬(wàn)用表，是二根正負(fù)表棒。這樣，在測(cè)試高內(nèi)阻，高靈敏度和高頻率的電子電路時(shí)，由于測(cè)試筆導(dǎo)線之間的分布電容及測(cè)量時(shí)導(dǎo)線接受外界干擾或被測(cè)電路通過(guò)導(dǎo)線對(duì)外幅射。因此，就不可避免地給高頻弱信號(hào)的放大或振蕩的電子電路帶來(lái)影響，甚至完全破壞它的工作狀況，給測(cè)量正常工作電路的直流電壓造成了誤差。
為了解決這一問(wèn)題，在不降低原萬(wàn)用表測(cè)試精度的情況下，隔離萬(wàn)用表與被測(cè)電子電路的干擾，提出本實(shí)用新型。
本實(shí)用新型要點(diǎn)在于萬(wàn)用表中的正表棒一端，接一只電阻作為隔離件，這只電阻和原表的電壓欄內(nèi)阻共同組成要求測(cè)試欄的內(nèi)阻。這樣，由隔離測(cè)試筆、萬(wàn)用表，及原萬(wàn)用表中的負(fù)表棒共同組成防干擾電壓測(cè)試系統(tǒng)。
附圖是隔離測(cè)試筆的示意圖。圖中(1)為接觸桿；(2)為電阻R；(3)為塑料筆桿；(4)為導(dǎo)線。
這種隔離測(cè)試筆中的R是由RTJ型金屬膜內(nèi)阻或RTZ型碳膜電阻組成。
本實(shí)用新型與原有萬(wàn)用表中正表棒相比，具有能隔離萬(wàn)用表與被測(cè)電子電路的干擾。從而能正確測(cè)量電路的直流電壓，尤其在檢修高頻電路，RC振蕩電路時(shí)，能正確測(cè)量電路的電壓值。
權(quán)利要求
一種隔離測(cè)試筆，其特征在于將原萬(wàn)用表的二根表棒中的正表棒改為在表棒的筆桿中，靠近測(cè)試點(diǎn)的一端，接一只電阻R。
專利摘要
一種隔離測(cè)試筆，是將原來(lái)萬(wàn)用表中的正表棒筆桿中加一個(gè)電阻R，這只電阻與原表的電壓欄內(nèi)阻共同組成要求測(cè)試欄的內(nèi)阻。這樣，由隔離測(cè)試筆、萬(wàn)用表及原萬(wàn)用表中的負(fù)表棒共同組成防干擾電壓測(cè)試系統(tǒng)。在測(cè)試高內(nèi)阻、高靈敏度和高頻率的電子電路時(shí)，能隔離萬(wàn)用表與被測(cè)電子電路之間的干擾。從而能正確測(cè)量電路上的電壓值，給正確檢修電器設(shè)備，提供了保障。
文檔編號(hào)G01R1/067GK86200707SQ86200707
公開(kāi)日1986年12月10日 申請(qǐng)日期1986年2月4日
發(fā)明者徐國(guó)名 申請(qǐng)人:徐國(guó)名導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan