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一種新能源汽車芯片高溫高電壓測(cè)試設(shè)備的制作方法

文檔序號(hào):39728436發(fā)布日期:2024-10-22 13:31閱讀:3來(lái)源:國(guó)知局
一種新能源汽車芯片高溫高電壓測(cè)試設(shè)備的制作方法

本發(fā)明涉及測(cè)試設(shè)備,特別是一種新能源汽車芯片高溫高電壓測(cè)試設(shè)備。


背景技術(shù):

1、隨著新能源汽車的快速發(fā)展,汽車芯片作為關(guān)鍵組件,在高溫、高電壓等極端環(huán)境下的性能表現(xiàn)至關(guān)重要。為了確保汽車芯片在這些條件下能夠穩(wěn)定、安全地工作,進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試是必不可少的環(huán)節(jié)。然而,當(dāng)前汽車芯片測(cè)試技術(shù)面臨一些挑戰(zhàn),特別是在高溫和高電壓測(cè)試方面。

2、在進(jìn)行汽車芯片測(cè)試作業(yè)時(shí),通常需要將汽車芯片安裝在特制的芯片安裝座上。這個(gè)安裝座內(nèi)部配置有測(cè)試電路板,用于與芯片進(jìn)行電氣連接,從而實(shí)現(xiàn)各種測(cè)試信號(hào)的輸入與輸出。在高電壓測(cè)試環(huán)節(jié),為了保證測(cè)試的安全性和準(zhǔn)確性,芯片安裝座與汽車芯片需要被密閉在一個(gè)特定的空間中,以便于對(duì)溫度進(jìn)行控制,然而,當(dāng)測(cè)試環(huán)境溫度升高時(shí),高溫環(huán)境會(huì)對(duì)測(cè)試電路板產(chǎn)生不利影響。由于電路板上的元器件和線路對(duì)溫度敏感,高溫可能導(dǎo)致元器件性能下降、線路老化甚至短路等問(wèn)題,進(jìn)而影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性,因此需要一種新能源汽車芯片高溫高電壓測(cè)試設(shè)備來(lái)解決上述問(wèn)題。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的旨在至少解決所述技術(shù)缺陷之一。

2、為此,本發(fā)明的一個(gè)目的在于提出一種新能源汽車芯片高溫高電壓測(cè)試設(shè)備,以解決背景技術(shù)中所提到的問(wèn)題,克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足。

3、為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明一方面的實(shí)施例提供一種新能源汽車芯片高溫高電壓測(cè)試設(shè)備,包括測(cè)試臺(tái),所述測(cè)試臺(tái)的頂部開(kāi)設(shè)有嵌入槽,所述嵌入槽的內(nèi)壁滑動(dòng)連接有承載板,所述承載板通過(guò)螺栓與測(cè)試臺(tái)固定連接,所述承載板頂面貫穿開(kāi)設(shè)有若干個(gè)通孔,所述通孔的內(nèi)壁滑動(dòng)連接有若干個(gè)測(cè)試探針,所述承載板的底面固定連接有陶瓷轉(zhuǎn)接器,所述陶瓷轉(zhuǎn)接器與測(cè)試探針固定連接,所述承載板的底面固定連接有支架,所述支架的內(nèi)壁固定連接有測(cè)試電路板,所述陶瓷轉(zhuǎn)接器與測(cè)試電路板通過(guò)通電導(dǎo)線相連接,所述測(cè)試臺(tái)的頂面固定連接有頂架,所述頂架的頂面固定連接有氣缸,所述氣缸的輸出端固定連接有防護(hù)框,所述防護(hù)框與承載板上下對(duì)應(yīng),所述承載板的內(nèi)壁固定連接有防爆玻璃,所述防護(hù)框的內(nèi)壁固定連接有電熱板,所述電熱板位于防爆玻璃的下方。

4、由上述任一方案優(yōu)選的是,所述承載板頂面固定連接有限位框,所述測(cè)試探針位于限位框內(nèi)部。

5、由上述任一方案優(yōu)選的是,所述嵌入槽的內(nèi)壁固定連接有支撐板,所述支撐板的頂面與承載板的底面相貼合。

6、由上述任一方案優(yōu)選的是,所述防護(hù)框的頂面固定連接有導(dǎo)向桿,所述導(dǎo)向桿與頂架滑動(dòng)連接。

7、由上述任一方案優(yōu)選的是,所述承載板頂面固定連接有密封墊,所述防護(hù)框的底面開(kāi)設(shè)有密封槽,所述密封墊通過(guò)密封槽與防護(hù)框滑動(dòng)連接。

8、由上述任一方案優(yōu)選的是,所述防護(hù)框的底面固定連接有定位銷,所述承載板的頂面開(kāi)設(shè)有定位孔,所述定位銷通過(guò)定位孔與承載板滑動(dòng)連接。

9、與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明所具有的優(yōu)點(diǎn)和有益效果為:

10、當(dāng)需要進(jìn)行汽車芯片的高溫高電壓測(cè)試作業(yè)時(shí),可以將待測(cè)芯片插入到限位框內(nèi)部,此時(shí)測(cè)試探針會(huì)插接入待測(cè)芯片的檢測(cè)接口內(nèi)部,此時(shí)待測(cè)芯片會(huì)通過(guò)陶瓷轉(zhuǎn)接器與測(cè)試電路板電性連接,隨后開(kāi)啟氣缸使其帶動(dòng)防護(hù)框向下運(yùn)動(dòng),直至定位銷插接入定位孔內(nèi)部后即可,隨后通過(guò)電熱板改變防護(hù)框內(nèi)部的溫度,并通過(guò)測(cè)試臺(tái)控制輸入端的電壓,可以完成汽車芯片高溫高電壓測(cè)試作業(yè),而且此時(shí)測(cè)試電路板位于承載板的下方,而且沒(méi)有與承載板接觸,可以防止防護(hù)框的高溫傳遞到上,而且陶瓷轉(zhuǎn)接器也可以防止測(cè)試探針的熱量傳遞到測(cè)試電路板上,不會(huì)影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。



技術(shù)特征:

1.一種新能源汽車芯片高溫高電壓測(cè)試設(shè)備,其特征在于:包括測(cè)試臺(tái)(1),所述測(cè)試臺(tái)(1)的頂部開(kāi)設(shè)有嵌入槽(2),所述嵌入槽(2)的內(nèi)壁滑動(dòng)連接有承載板(3),所述承載板(3)通過(guò)螺栓與測(cè)試臺(tái)(1)固定連接,所述承載板(3)頂面貫穿開(kāi)設(shè)有若干個(gè)通孔(4),所述通孔(4)的內(nèi)壁滑動(dòng)連接有若干個(gè)測(cè)試探針(5),所述承載板(3)的底面固定連接有陶瓷轉(zhuǎn)接器(6),所述陶瓷轉(zhuǎn)接器(6)與測(cè)試探針(5)固定連接,所述承載板(3)的底面固定連接有支架(7),所述支架(7)的內(nèi)壁固定連接有測(cè)試電路板(8),所述陶瓷轉(zhuǎn)接器(6)與測(cè)試電路板(8)通過(guò)通電導(dǎo)線相連接,所述測(cè)試臺(tái)(1)的頂面固定連接有頂架(9),所述頂架(9)的頂面固定連接有氣缸(10),所述氣缸(10)的輸出端固定連接有防護(hù)框(11),所述防護(hù)框(11)與承載板(3)上下對(duì)應(yīng),所述承載板(3)的內(nèi)壁固定連接有防爆玻璃(12),所述防護(hù)框(11)的內(nèi)壁固定連接有電熱板(13),所述電熱板(13)位于防爆玻璃(12)的下方。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種新能源汽車芯片高溫高電壓測(cè)試設(shè)備,其特征在于:所述承載板(3)頂面固定連接有限位框(14),所述測(cè)試探針(5)位于限位框(14)內(nèi)部。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種新能源汽車芯片高溫高電壓測(cè)試設(shè)備,其特征在于:所述嵌入槽(2)的內(nèi)壁固定連接有支撐板(15),所述支撐板(15)的頂面與承載板(3)的底面相貼合。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種新能源汽車芯片高溫高電壓測(cè)試設(shè)備,其特征在于:所述防護(hù)框(11)的頂面固定連接有導(dǎo)向桿(16),所述導(dǎo)向桿(16)與頂架(9)滑動(dòng)連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種新能源汽車芯片高溫高電壓測(cè)試設(shè)備,其特征在于:所述承載板(3)頂面固定連接有密封墊(17),所述防護(hù)框(11)的底面開(kāi)設(shè)有密封槽(18),所述密封墊(17)通過(guò)密封槽(18)與防護(hù)框(11)滑動(dòng)連接。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種新能源汽車芯片高溫高電壓測(cè)試設(shè)備,其特征在于:所述防護(hù)框(11)的底面固定連接有定位銷(19),所述承載板(3)的頂面開(kāi)設(shè)有定位孔(20),所述定位銷(19)通過(guò)定位孔(20)與承載板(3)滑動(dòng)連接。


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,特別是一種新能源汽車芯片高溫高電壓測(cè)試設(shè)備,包括測(cè)試臺(tái),所述測(cè)試臺(tái)的頂部開(kāi)設(shè)有嵌入槽,所述嵌入槽的內(nèi)壁滑動(dòng)連接有承載板,所述承載板通過(guò)螺栓與測(cè)試臺(tái)固定連接,所述承載板頂面貫穿開(kāi)設(shè)有若干個(gè)通孔。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:開(kāi)啟氣缸使其帶動(dòng)防護(hù)框向下運(yùn)動(dòng),直至定位銷插接入定位孔內(nèi)部后即可,隨后通過(guò)電熱板改變防護(hù)框內(nèi)部的溫度,并通過(guò)測(cè)試臺(tái)控制輸入端的電壓,可以完成汽車芯片高溫高電壓測(cè)試作業(yè),而且此時(shí)測(cè)試電路板位于承載板的下方,沒(méi)有與承載板接觸,可以防止防護(hù)框的高溫傳遞到上,陶瓷轉(zhuǎn)接器也以防止測(cè)試探針的熱量傳遞到測(cè)試電路板上,不會(huì)影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

技術(shù)研發(fā)人員:馮白華,陳焯堅(jiān),歐志源,陳正仕
受保護(hù)的技術(shù)使用者:三壹聯(lián)光智能裝備(深圳)有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2024/10/21
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