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金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置的制作方法

文檔序號(hào):5987668閱讀:374來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種檢測(cè)裝置,尤其涉及一種金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)
罐頭和易拉罐的封罐質(zhì)量,對(duì)其盛載的產(chǎn)品質(zhì)量有決定性的意義。倘若封罐不理想,不但有損罐頭和易拉罐的感觀質(zhì)量,空氣和細(xì)菌更有機(jī)會(huì)進(jìn)入罐內(nèi)使其承載產(chǎn)品變質(zhì)、變壞和漏罐等現(xiàn)象,縮短貨架期。二重卷邊封罐技術(shù)能牢牢地把罐蓋與罐身連接起來(lái),形成不透氣的密封狀態(tài)和光滑的卷邊,在提高罐的感觀質(zhì)量之余,產(chǎn)品的貨架期也得以延長(zhǎng)。傳統(tǒng)的金屬包裝罐卷邊封口過行檢測(cè)通常使用專用的光學(xué)投影儀或?qū)S每ǔ呋蚓磉厹y(cè)微儀進(jìn)行檢測(cè),上述檢測(cè)方法受檢測(cè)人員人工操作的影響具有不易操作、精度低。不能適應(yīng)自動(dòng)化生產(chǎn)的使用要求。因此,如何解決上述問題,成為亟待解決的問題。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種自動(dòng)化檢測(cè)的金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,具有檢測(cè)精度高、操作簡(jiǎn)便,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、運(yùn)行平穩(wěn),可靠和使用更安全的技術(shù)效果。為解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型的一種金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,包括密封機(jī)體、計(jì)算控制機(jī)構(gòu)和檢測(cè)裝置,檢測(cè)裝置設(shè)置在密封機(jī)體中的水平工作平臺(tái)上,其所述檢測(cè)裝置包括X-RAY發(fā)射源和X-RAY檢測(cè)器、三維平移臺(tái)和被測(cè)樣品夾具,X-RAY發(fā)射源和X-RAY檢測(cè)器相對(duì)設(shè)置水平工作平臺(tái)兩側(cè),被測(cè)樣品夾具設(shè)置在三維平移臺(tái)上、置于X-RAY發(fā)射源和X-RAY檢測(cè)器之間。上述的金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,三維平移臺(tái)包括依次為定位座的X軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)和Y軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)和Z軸運(yùn)動(dòng)臺(tái),被測(cè)樣品夾具設(shè)置在Z軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)上。上述的金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,所述X軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)通過X向?qū)к壎ㄎ辉谒焦ぷ髌脚_(tái)上、設(shè)置X軸驅(qū)動(dòng)電機(jī)絲桿驅(qū)動(dòng),Y軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)設(shè)置在充當(dāng)導(dǎo)軌的X軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)上、通過Y軸驅(qū)動(dòng)電機(jī)絲桿驅(qū)動(dòng),Z軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)通過Z軸導(dǎo)柱定位在Y軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)上、設(shè)置Z軸驅(qū)動(dòng)電機(jī)絲桿驅(qū)動(dòng),被測(cè)樣品夾具設(shè)置在Z軸運(yùn)動(dòng)部分的Z軸升降臺(tái)上。上述的金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,所述計(jì)算控制機(jī)構(gòu)包括操作面板、計(jì)算機(jī)主機(jī)和X-RAY指示燈,所述計(jì)算機(jī)主機(jī)高置在密封機(jī)體中的下部,操作面板和X-RAY指示燈設(shè)置在密封機(jī)體外側(cè)。上述的金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,密封機(jī)體上部設(shè)有被測(cè)樣品放置窗,被測(cè)樣品放置窗與被測(cè)樣品夾具垂直相對(duì)。上述的金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,密封機(jī)體側(cè)設(shè)有觀察窗,觀察窗與被測(cè)樣品夾具水平相對(duì)。上述的金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,觀察窗為鉛玻璃觀察窗。上述的金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,密封機(jī)體為具防輻射功能的機(jī)體。本實(shí)用新型的激光切割裝置由于采用了以上技術(shù)方案,通過X-RAY發(fā)射源發(fā)出X-RAY射線,被測(cè)樣品夾通過三維平移臺(tái)進(jìn)行調(diào)節(jié)所檢測(cè)位置與X-RAY射線相對(duì)位置,X-RAY射線經(jīng)被測(cè)樣品后通過X-RAY檢測(cè)器測(cè)算X射線探測(cè)效率,通過計(jì)算控制機(jī)構(gòu)計(jì)算出相應(yīng)的參數(shù),實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化檢測(cè)金屬罐封罐質(zhì)量的技術(shù)效果。本實(shí)用新型按GB/T14251—1993《鍍錫薄鋼板圓形罐頭容器技術(shù)條件》檢驗(yàn),檢驗(yàn)二重卷邊的光滑均勻,卷邊部位不得有快口、假卷和大塌邊,也不應(yīng)有卷邊不完全、卷邊牙齒、鐵舌、跳封、卷邊碎裂、填料擠出、銳邊、垂唇、雙線等缺陷。身鉤長(zhǎng)度、蓋鉤長(zhǎng)度、卷邊厚度、卷邊寬度,迭接長(zhǎng)度、迭接率、緊密度。本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比的優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)精度高、操作簡(jiǎn)便,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、運(yùn)行平穩(wěn),可靠和使用更安全的技術(shù)效果。

下面將結(jié)合附圖中的實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步地詳細(xì)說明,但不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的任何限制。圖I為本實(shí)用新型具體實(shí)施例的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖;·圖2為本實(shí)用新型具體實(shí)施例的外側(cè)面結(jié)構(gòu)示意圖;圖3為本實(shí)用新型具體實(shí)施例三維平移臺(tái)的立體結(jié)構(gòu)示意圖;圖4為本實(shí)用新型具體實(shí)施例三維平移臺(tái)的俯視結(jié)構(gòu)示意圖;圖5為圖4的A-A剖面結(jié)構(gòu)示意圖。圖中1為密封機(jī)體,11為被測(cè)樣品放置窗,12為觀察窗,2為計(jì)算控制機(jī)構(gòu),21為操作面板,22為計(jì)算機(jī)主機(jī),23為X-RAY指示燈,3為檢測(cè)裝置,31為X-RAY發(fā)射源,32為X-RAY檢測(cè)器,33為三維平移臺(tái),33a為X軸運(yùn)動(dòng)臺(tái),33a3為X軸驅(qū)動(dòng)電機(jī),33b為Y軸運(yùn)動(dòng)臺(tái),33b2為Y軸驅(qū)動(dòng)電機(jī),33c為Z軸運(yùn)動(dòng)臺(tái),33c3為Z軸驅(qū)動(dòng)電機(jī),34為被測(cè)樣品夾具,4為水平工作平臺(tái)。
具體實(shí)施方式
如圖I 圖5所示,本實(shí)用新型的一種金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,包括密封機(jī)體I、計(jì)算控制機(jī)構(gòu)2和檢測(cè)裝置3,檢測(cè)裝置3設(shè)置在密封機(jī)體I中的水平工作平臺(tái)4上,檢測(cè)裝置3包括X-RAY發(fā)射源31和X-RAY檢測(cè)器32、三維平移臺(tái)33和被測(cè)樣品夾具34,X-RAY發(fā)射源31和X-RAY檢測(cè)器32相對(duì)設(shè)置水平工作平臺(tái)5兩側(cè),被測(cè)樣品夾具34設(shè)置在三維平移臺(tái)33上、置于X-RAY發(fā)射源31和X-RAY檢測(cè)器32之間。三維平移臺(tái)33包括依次為定位座的X軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)33a和Y軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)33b和Z軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)33c,被測(cè)樣品夾具34設(shè)置在Z軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)33c上。X軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)33a通過X向?qū)к壎ㄎ辉谒焦ぷ髌脚_(tái)4上、設(shè)置X軸驅(qū)動(dòng)電機(jī)33a3絲桿驅(qū)動(dòng),Y軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)33b設(shè)置在充當(dāng)導(dǎo)軌的X軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)33a上、通過Y軸驅(qū)動(dòng)電機(jī)33b2絲桿驅(qū)動(dòng),Z軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)33c通過Z軸導(dǎo)柱定位在Y軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)33b上、設(shè)置Z軸驅(qū)動(dòng)電機(jī)33c3絲桿驅(qū)動(dòng),被測(cè)樣品夾具34設(shè)置在Z軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)33c上。計(jì)算控制機(jī)構(gòu)2包括操作面板21、計(jì)算機(jī)主機(jī)22和X-RAY指示燈23,計(jì)算機(jī)主機(jī)22高置在密封機(jī)體I中的下部,操作面板21和X-RAY指示燈23設(shè)置在密封機(jī)體I外側(cè)。密封機(jī)體I上部設(shè)有被測(cè)樣品放置窗11,被測(cè)樣品放置窗11與被測(cè)樣品夾具34垂直相對(duì)。[0026]密封機(jī)體I側(cè)設(shè)有觀察窗12,觀察窗12與被測(cè)樣品夾具34水平相對(duì)。觀察窗12為鉛玻璃觀察窗。密封機(jī)體I為具防輻射功能的機(jī)體。本實(shí)用新型檢測(cè)器采用CsI直接存儲(chǔ)輸入屏幕,改進(jìn)X射線探測(cè)效率;同時(shí)具有非常精巧的柱子形結(jié)構(gòu),帶防反射涂層的一個(gè)厚玻璃輸出窗口上還有薄輸出屏幕。其中X-RAY發(fā)射源原理=X-RAY發(fā)射源也稱X射線管,X射線管中電子從熱陰極中出來(lái),通過一個(gè)電場(chǎng),向陽(yáng)極加速。在撞到陽(yáng)極時(shí)停止同時(shí)釋放出X射線。碰撞區(qū)域的大小就是X射線源的大小,它以毫米為單位;X_SEAM采用微焦點(diǎn)X射線管,電子通過陽(yáng)極上的一個(gè)小孔進(jìn)入磁電子透鏡,該透鏡中的磁場(chǎng)力使電子束聚焦在陰極靶上一個(gè)直徑只有幾微米的焦點(diǎn)上。通過這種方式X射線源變得很小,在高放大率的情況下能得到分辨率在微米范圍內(nèi)的清晰圖像。本實(shí)用新型在具體使用時(shí),X-RAY發(fā)射源31發(fā)出X-RAY射線,被測(cè)樣品夾34通 過三維平移臺(tái)進(jìn)行調(diào)節(jié)所檢測(cè)位置與X-RAY射線相對(duì)位置,X-RAY射線經(jīng)被測(cè)樣品后通過X-RAY檢測(cè)器32測(cè)算X射線探測(cè)效率,通過計(jì)算控制機(jī)構(gòu)計(jì)算出相應(yīng)的參數(shù)并顯示。以上所述的實(shí)施例僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說,在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下,還可以做出若干結(jié)構(gòu)的調(diào)整和改進(jìn),這些也應(yīng)視為屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,包括密封機(jī)體(I)、計(jì)算控制機(jī)構(gòu)(2)和檢測(cè)裝置(3),檢測(cè)裝置(3)設(shè)置在密封機(jī)體(I)中的水平工作平臺(tái)(4)上,其特征在于所述檢測(cè)裝置(3)包括X-RAY發(fā)射源(31)和X-RAY檢測(cè)器(32)、三維平移臺(tái)(33)和被測(cè)樣品夾具(34),X-RAY發(fā)射源(31)和X-RAY檢測(cè)器(32)相對(duì)設(shè)置水平工作平臺(tái)(4)兩側(cè),被測(cè)樣品夾具(34)設(shè)置在三維平移臺(tái)(33)上、置于X-RAY發(fā)射源(31)和X-RAY檢測(cè)器(32)之間。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于三維平移臺(tái)(33)包括依次為定位座的X軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)(33a)和Y軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)(33b)和Z軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)(33c),被測(cè)樣品夾具(34)設(shè)置在Z軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)(33c)上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于所述X軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)(33a)通過X向?qū)к壎ㄎ辉谒焦ぷ髌脚_(tái)(4)上、設(shè)置X軸驅(qū)動(dòng)電機(jī)(33a3)絲桿驅(qū)動(dòng),Y軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)(33b)設(shè)置在充當(dāng)導(dǎo)軌的X軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)(33a)上、通過Y軸驅(qū)動(dòng)電機(jī)(33b2)絲桿驅(qū)動(dòng),Z軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)(33c)通過Z軸導(dǎo)柱定位在Y軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)(33b)上、設(shè)置Z軸驅(qū)動(dòng)電機(jī)(33c3)絲桿驅(qū)動(dòng),被測(cè)樣品夾具(34)設(shè)置在Z軸升降臺(tái)(33C)上。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于所述計(jì)算控制機(jī)構(gòu)(2 )包括操作面板(21)、計(jì)算機(jī)主機(jī)(22 )和X-RAY指示燈(23 ),所述計(jì)算機(jī)主機(jī)(22 )高置在密封機(jī)體(I)中的下部,操作面板(21)和X-RAY指示燈(23)設(shè)置在密封機(jī)體(I)外側(cè)。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于密封機(jī)體(I)上部設(shè)有被測(cè)樣品放置窗(11),被測(cè)樣品放置窗(11)與被測(cè)樣品夾具(34)垂直相對(duì)。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于密封機(jī)體(I)側(cè)設(shè)有觀察窗(12),觀察窗(12)與被測(cè)樣品夾具(34)水平相對(duì)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于觀察窗(12)為鉛玻璃觀察窗。
8.根據(jù)權(quán)利要求I或5或6所述的金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于密封機(jī)體(O為具防輻射功能的機(jī)體。
專利摘要本實(shí)用新型提供了一種金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,包括密封機(jī)體、計(jì)算控制機(jī)構(gòu)和檢測(cè)裝置,檢測(cè)裝置設(shè)置在密封機(jī)體中的水平工作平臺(tái)上,其所述檢測(cè)裝置包括X-RAY發(fā)射源和X-RAY檢測(cè)器、三維平移臺(tái)和被測(cè)樣品夾具,X-RAY發(fā)射源和X-RAY檢測(cè)器相對(duì)設(shè)置水平工作平臺(tái)兩側(cè),被測(cè)樣品夾具設(shè)置在三維平移臺(tái)上、置于X-RAY發(fā)射源和X-RAY檢測(cè)器之間;本實(shí)用新型提供一種自動(dòng)化檢測(cè)的金屬罐封罐質(zhì)量檢測(cè)裝置,具有檢測(cè)精度高、操作簡(jiǎn)便,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、運(yùn)行平穩(wěn),可靠和使用更安全的技術(shù)效果。
文檔編號(hào)G01N23/04GK202710492SQ20122034798
公開日2013年1月30日 申請(qǐng)日期2012年7月18日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月18日
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