專利名稱：瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法。
背景技術(shù)：
對(duì)于射頻電磁場(chǎng)，IEC61000系列標(biāo)準(zhǔn)給出了兩種電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法, 即恒定場(chǎng)強(qiáng)校準(zhǔn)法和恒定功率校準(zhǔn)法。恒定場(chǎng)強(qiáng)校準(zhǔn)法是通過(guò)調(diào)整前向輸出功率建立一個(gè)場(chǎng)強(qiáng)恒定的均勻場(chǎng)，然后用一個(gè)經(jīng)校準(zhǔn)的場(chǎng)強(qiáng)探頭以指定的步長(zhǎng)在每個(gè)頻段對(duì)待測(cè)區(qū)域內(nèi)的各個(gè)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量。恒定功率校準(zhǔn)法與之不同的是測(cè)量時(shí)保持前向輸出功率恒定。對(duì)于瞬變電磁場(chǎng)，MIL-STD-461F標(biāo)準(zhǔn)采用了上述恒定場(chǎng)強(qiáng)校準(zhǔn)法。但是，恒定場(chǎng)強(qiáng)校準(zhǔn)法存在以下不足(I)瞬變電磁場(chǎng)由脈沖信號(hào)源觸發(fā)的單脈沖信號(hào)產(chǎn)生，為了獲得恒定的電磁場(chǎng)， 需要反復(fù)調(diào)節(jié)脈沖信號(hào)源的輸出功率，因此必須既可以準(zhǔn)確監(jiān)測(cè)所用脈沖信號(hào)源的輸出功率，又可以對(duì)所用脈沖信號(hào)源的輸出功率進(jìn)行微調(diào)，對(duì)包括脈沖信號(hào)源在內(nèi)的瞬變電磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置的要求高；(2)通常需要用高壓探頭監(jiān)測(cè)脈沖信號(hào)源的輸出功率，在實(shí)際應(yīng)用中有時(shí)很難實(shí)現(xiàn)；(3)校準(zhǔn)時(shí)間較長(zhǎng)，使用不方便。對(duì)于瞬變電磁場(chǎng)，如果采用恒定功率校準(zhǔn)法，也存在以下問(wèn)題(I)需要脈沖信號(hào)源多次觸發(fā)輸出多個(gè)單脈沖信號(hào)，各個(gè)單脈沖信號(hào)的幅度很難完全保持一致，即存在脈沖信號(hào)源輸出的各個(gè)單脈沖信號(hào)不穩(wěn)定的問(wèn)題，導(dǎo)致瞬變電磁場(chǎng)均勻性校準(zhǔn)的準(zhǔn)確度降低；(2)對(duì)脈沖信號(hào)源輸出穩(wěn)定性的要求導(dǎo)致瞬變電磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置的成本較高。目前，非常需要一種對(duì)包括脈沖信號(hào)源在內(nèi)的瞬變電磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置要求低、快速、 準(zhǔn)確且低成本的瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法及系統(tǒng)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法。本發(fā)明的另一目的是提供一種用于校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的雙探頭系統(tǒng)。本發(fā)明提供的瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法包括如下步驟在待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)選定一個(gè)參考點(diǎn)和多個(gè)測(cè)量點(diǎn),所述參考點(diǎn)與所述多個(gè)測(cè)量點(diǎn)的位置不同；對(duì)每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)，同時(shí)測(cè)量該測(cè)量點(diǎn)和所述參考點(diǎn)的電磁場(chǎng)，分別得到每一測(cè)量點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值和與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值；根據(jù)每一測(cè)量點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值和與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值計(jì)算該測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值；
根據(jù)所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值得到所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性。優(yōu)選地，根據(jù)每一測(cè)量點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值和與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值計(jì)算該測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值的步驟進(jìn)一步包括用每一測(cè)量點(diǎn)的以dB為單位的場(chǎng)強(qiáng)值減去與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的以dB為單位的參考場(chǎng)強(qiáng)值得到的場(chǎng)強(qiáng)差值即該測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值。優(yōu)選地，根據(jù)所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值得到所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的步驟進(jìn)一步包括若全部測(cè)量點(diǎn)中有75%以上的測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值在-OdB +6dB范圍內(nèi)，則判定所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性合格，否則，則判定所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性不合格。優(yōu)選地，在根據(jù)所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值得到所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的步驟之前將所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值進(jìn)行排序。本發(fā)明提供的用于校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的雙探頭系統(tǒng)包括示波器、第一探頭和第二探頭，所述第一探頭和所述第二探頭與所述示波器電連接。優(yōu)選地，所述第一探頭和所述第二探頭與所述示波器通過(guò)光纖連接。優(yōu)選地，測(cè)量瞬變電磁場(chǎng)時(shí)，所述第一探頭和所述第二探頭應(yīng)工作在其線性區(qū)。本發(fā)明具有如下有益效果所述校準(zhǔn)方法及系統(tǒng)對(duì)包括脈沖信號(hào)源在內(nèi)的瞬變電磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置的要求低，能夠快速、準(zhǔn)確地對(duì)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性進(jìn)行校準(zhǔn)，而且使用方便，成本低。


圖I為本發(fā)明提供的用于校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的雙探頭系統(tǒng)的示意圖；圖2為本發(fā)明提供的瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法的流程圖；圖3為本發(fā)明實(shí)施例I提供的瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法的流程圖；圖4為本發(fā)明實(shí)施例2提供的瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本發(fā)明的發(fā)明內(nèi)容作進(jìn)一步的描述。實(shí)施例I :如圖I所示，本實(shí)施例提供的用于校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的雙探頭系統(tǒng)包括示波器I、第一探頭2和第二探頭3。所述第一探頭2和所述第二探頭3均與所述示波器I 電連接。在本實(shí)施例中，所述第一探頭2和所述第二探頭3均與所述示波器I通過(guò)例如光纖連接。所述第一探頭2和所述第二探頭3用于感測(cè)電磁場(chǎng)的場(chǎng)強(qiáng)。所述示波器I用于測(cè)量所述第一探頭2和/或所述第二探頭3的輸出以計(jì)算場(chǎng)強(qiáng)值。如圖2所示，本實(shí)施例提供的瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法包括如下步驟在待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)選定一個(gè)參考點(diǎn)和多個(gè)測(cè)量點(diǎn),所述參考點(diǎn)與所述多個(gè)測(cè)量點(diǎn)的位置不同；對(duì)每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)，同時(shí)測(cè)量該測(cè)量點(diǎn)和所述參考點(diǎn)的電磁場(chǎng)，分別得到每一測(cè)量點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值和與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值；
根據(jù)每一測(cè)量點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值和與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值計(jì)算該測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值；根據(jù)所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值得到所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性。在本實(shí)施例中，如圖3所示，瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法包括如下步驟SI :在待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)選定一個(gè)參考點(diǎn)例如O點(diǎn)和多個(gè)測(cè)量點(diǎn)例如A點(diǎn)、B點(diǎn)、C點(diǎn)、 D點(diǎn)……等等，所述參考點(diǎn)與所述多個(gè)測(cè)量點(diǎn)的位置不同，且在后續(xù)的測(cè)量過(guò)程中所述參考點(diǎn)的位置固定不變；S2 :當(dāng)脈沖信號(hào)源輸出一個(gè)單脈沖產(chǎn)生瞬變電磁場(chǎng)時(shí)，用例如第一探頭2測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn)例如A點(diǎn)的電磁場(chǎng)，與之同時(shí)用例如第二探頭3測(cè)量所述參考點(diǎn)O點(diǎn)的電磁場(chǎng)，分別得到A點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值Ea和O點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值Εω，并將場(chǎng)強(qiáng)值Em作為與A點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值；S3 :重復(fù)上述步驟S2，得到每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值和與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值；S4:根據(jù)每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值和與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值計(jì)算該測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值；S5:根據(jù)所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值得到所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性。在上述步驟S4中，根據(jù)每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值和參考場(chǎng)強(qiáng)值計(jì)算該測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值的步驟進(jìn)一步包括用每一測(cè)量點(diǎn)的以dB為單位的場(chǎng)強(qiáng)值減去與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的以dB為單位的參考場(chǎng)強(qiáng)值得到的場(chǎng)強(qiáng)差值即該測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值。在本實(shí)施例中，例如用A點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值Ea減去與A點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值Em得到的場(chǎng)強(qiáng)差值(Ea-Em)即A 點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值見(jiàn)。在上述步驟S5中，根據(jù)所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值得到所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的步驟進(jìn)一步包括若全部測(cè)量點(diǎn)中有75%以上的測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值在-OdB +6dB范圍內(nèi)，則判定所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性合格，否則， 則判定所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性不合格。在根據(jù)所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值得到所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的步驟之前將所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值進(jìn)行排序。在本實(shí)施例中，先將所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值進(jìn)行例如升序排列，然后對(duì)所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性進(jìn)行判斷。實(shí)施例2 本實(shí)施例提供的用于校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的雙探頭系統(tǒng)與實(shí)施例I相同。如圖2所示，本實(shí)施例提供的瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法包括如下步驟
在待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)選定一個(gè)參考點(diǎn)和多個(gè)測(cè)量點(diǎn)，所述參考點(diǎn)與所述多個(gè)測(cè)量點(diǎn)的位置不同；對(duì)每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)，同時(shí)測(cè)量該測(cè)量點(diǎn)和所述參考點(diǎn)的電磁場(chǎng)，分別得到每一測(cè)量點(diǎn)場(chǎng)強(qiáng)值和與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值；根據(jù)每一測(cè)量點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值和與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值計(jì)算該測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值；根據(jù)所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值得到所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性。在本實(shí)施例中，如圖4所示，瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法包括如下步驟
SI :在待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)選定一個(gè)參考點(diǎn)例如O點(diǎn)和多個(gè)測(cè)量點(diǎn)例如A點(diǎn)、B點(diǎn)、C點(diǎn)、 D點(diǎn)……等等，所述參考點(diǎn)與所述多個(gè)測(cè)量點(diǎn)的位置不同，且在后續(xù)的測(cè)量過(guò)程中所述參考點(diǎn)的位置固定不變；S2 :當(dāng)脈沖信號(hào)源輸出一個(gè)單脈沖產(chǎn)生瞬變電磁場(chǎng)時(shí)，用例如第一探頭2測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn)例如A點(diǎn)的電磁場(chǎng)，與之同時(shí)用例如第二探頭3測(cè)量所述參考點(diǎn)O點(diǎn)的電磁場(chǎng)，分別得到A點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值Ea和O點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值Εω，并將場(chǎng)強(qiáng)值Em作為與A點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值；S3 :根據(jù)A點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值Ea和與A點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值Em計(jì)算A點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)S4 :重復(fù)上述步驟S2和步驟S3，得到與每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值；S5:根據(jù)所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值得到所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性。 在步驟S3中，根據(jù)A點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值Ea和與A點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值Em計(jì)算A點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值見(jiàn)進(jìn)一步包括例如用A點(diǎn)的以dB為單位的場(chǎng)強(qiáng)值Ea減去與A點(diǎn)相應(yīng)的以dB 為單位的參考場(chǎng)強(qiáng)值Em得到的場(chǎng)強(qiáng)差值(Ea-Em)即A點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值兄。在步驟S5中，根據(jù)所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值得到所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的步驟進(jìn)一步包括如果全部測(cè)量點(diǎn)中有75%以上的點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值與所述最小值或最大值的差值在-OdB +6dB范圍內(nèi)，則判定待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性合格，否則，則判定待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性不合格。在根據(jù)所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值判斷所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的步驟之前將所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值進(jìn)行排序。在本實(shí)施例中，先將所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值進(jìn)行例如降序排列，然后對(duì)所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性進(jìn)行判斷。應(yīng)當(dāng)理解，以上借助優(yōu)選實(shí)施例對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行的詳細(xì)說(shuō)明是示意性的而非限制性的。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在閱讀本發(fā)明說(shuō)明書(shū)的基礎(chǔ)上可以對(duì)各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施例技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法，其特征在于，該方法包括如下步驟在待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)選定一個(gè)參考點(diǎn)和多個(gè)測(cè)量點(diǎn)，所述參考點(diǎn)與所述多個(gè)測(cè)量點(diǎn)的位置不同；對(duì)每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)，同時(shí)測(cè)量該測(cè)量點(diǎn)和所述參考點(diǎn)的電磁場(chǎng)，分別得到每一測(cè)量點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值和與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值；根據(jù)每一測(cè)量點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值和與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值計(jì)算該測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值；根據(jù)所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值得到所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法，其特征在于，根據(jù)每一測(cè)量點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值和與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值計(jì)算該測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值的步驟進(jìn)一步包括用每一測(cè)量點(diǎn)的以dB為單位的場(chǎng)強(qiáng)值減去與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的以dB為單位的參考場(chǎng)強(qiáng)值得到的場(chǎng)強(qiáng)差值即該測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法，其特征在于，根據(jù)所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值得到所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的步驟進(jìn)一步包括若全部測(cè)量點(diǎn)中有75%以上的測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值在-OdB +6dB范圍內(nèi)，則判定所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性合格，否則，則判定所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性不合格。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法，其特征在于，在根據(jù)所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值得到所述待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的步驟之前將所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值進(jìn)行排序。
5.用于校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的雙探頭系統(tǒng)，其特征在于，包括示波器(I)、第一探頭(2)和第二探頭(3)，所述第一探頭(2)和所述第二探頭(3)與所述示波器(I)電連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的雙探頭系統(tǒng)，其特征在于，所述第一探頭(2)和所述第二探頭(3)與所述示波器(I)通過(guò)光纖連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的雙探頭系統(tǒng)，其特征在于，測(cè)量瞬變電磁場(chǎng)時(shí)，所述第一探頭(2)和所述第二探頭(3)應(yīng)工作在其線性區(qū)。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法及系統(tǒng)。該方法包括如下步驟在待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)選定一個(gè)參考點(diǎn)和多個(gè)測(cè)量點(diǎn)，參考點(diǎn)與多個(gè)測(cè)量點(diǎn)的位置不同；對(duì)每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)，同時(shí)測(cè)量該測(cè)量點(diǎn)和參考點(diǎn)的電磁場(chǎng)，分別得到每一測(cè)量點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值和與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值；根據(jù)每一測(cè)量點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)值和與該測(cè)量點(diǎn)相應(yīng)的參考場(chǎng)強(qiáng)值計(jì)算該測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值；根據(jù)所有測(cè)量點(diǎn)的歸一化場(chǎng)強(qiáng)值得到待校準(zhǔn)區(qū)域內(nèi)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性。該系統(tǒng)包括示波器、第一探頭和第二探頭，第一探頭和第二探頭與示波器電連接。所述方法及系統(tǒng)對(duì)包括脈沖信號(hào)源在內(nèi)的瞬變電磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置的要求低，能夠快速、準(zhǔn)確地對(duì)瞬變電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性進(jìn)行校準(zhǔn)。
文檔編號(hào)G01R29/08GK102590642SQ20121005060
公開(kāi)日2012年7月18日 申請(qǐng)日期2012年2月29日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月29日
發(fā)明者姚利軍, 沈濤 申請(qǐng)人:北京無(wú)線電計(jì)量測(cè)試研究所