專利名稱：缺陷像素地址檢測方法以及檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種檢測液晶顯示器面板、等離子顯示器面板等顯示面板的缺陷像素 的地址的缺陷像素地址檢測方法以及檢測裝置。
背景技術(shù)：
對于液晶顯示器面板等顯示面板，通常在單元步驟的最終檢查中進(jìn)行使面板實(shí)際 點(diǎn)亮來調(diào)查有無缺陷像素的點(diǎn)亮檢查。點(diǎn)亮檢查通過對連接于作為檢查對象的顯示面板的 像素的信號線從外部供給信號來進(jìn)行，但該信號的供給方式大致可分為全接觸方式和短路 棒方式兩個(gè)種類。全接觸方式是使檢查探針以一對一對應(yīng)的方式與各對應(yīng)于有源矩陣基板的X、Y 信號線的電極接觸并使顯示面板點(diǎn)亮的方式，因?yàn)榭梢允垢鱾€(gè)像素分別點(diǎn)亮，因此原則上 能夠?qū)θ毕菹袼氐牡刂愤M(jìn)行確定。但是，要通過全接觸方式實(shí)際確定缺陷像素的地址，需要 利用信號發(fā)生器進(jìn)行檢查對象面板的點(diǎn)亮控制并算出地址，因?yàn)榫哂械刂匪愠龉δ艿男盘?發(fā)生器一般價(jià)格較高，因此通過全接觸方式檢測缺陷像素的地址，具有裝置價(jià)格高的缺點(diǎn)。另一方面，短路棒方式是連接多個(gè)信號線的電極進(jìn)行共通化，一下子對多個(gè)像素 供給信號并使其一并點(diǎn)亮的方式，因此，即便發(fā)現(xiàn)缺陷像素，確定該缺陷像素的地址通常還 是非常困難的。為了解決短路棒方式中的上述缺點(diǎn)，例如在專利文獻(xiàn)1中提出這樣一種裝置，其 采用與作為檢查對象的液晶面板相對配置的、被稱為調(diào)制器的面板，和與該調(diào)制器有一定 的位置關(guān)系、將調(diào)制器的表面捕捉為一張圖像的CCD攝像裝置，根據(jù)CCD攝像裝置所拍攝的 圖像與液晶面板的像素地址的對應(yīng)關(guān)系，檢測缺陷像素的地址。但是，該裝置需要靈敏度良 好的CXD攝像裝置和顯示面板尺寸的調(diào)制器，因此不能便宜地構(gòu)成檢查裝置?，F(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)1 日本專利特開平9-50013號公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問題本發(fā)明是為了消除上述現(xiàn)有的點(diǎn)亮檢查裝置所具有的缺點(diǎn)而做成的，其目的在于 提供一種不需要高價(jià)的信號發(fā)生器或調(diào)制器等的裝置就可以通過便宜的手段高精度地檢 測缺陷像素的地址的缺陷像素地址檢測方法和缺陷像素地址檢測裝置。解決問題的手段本發(fā)明的發(fā)明者為了解決上述課題而反復(fù)銳意研究，結(jié)果發(fā)現(xiàn)采用可以對作為檢 查對象的顯示面板的一部分進(jìn)行拍攝的、能夠移動的拍攝裝置，使該拍攝裝置移動對被發(fā) 現(xiàn)的缺陷像素進(jìn)行拍攝，根據(jù)在被拍攝的圖像上確定了缺陷像素的位置時(shí)的該拍攝裝置的 移動距離和作為檢查對象的顯示面板的像素尺寸以及有關(guān)其排列形態(tài)的信息，可以求出缺陷像素的地址，從而完成了本發(fā)明。即，本發(fā)明通過提供一種缺陷像素地址檢測方法來解決上述課題，該缺陷像素地 址檢測方法對由多個(gè)像素構(gòu)成的顯示面板的缺陷像素的地址進(jìn)行檢測，其特征在于，至少 包括以下步驟(a)將作為檢查對象的顯示面板放置于檢查部，使其點(diǎn)亮的步驟；(b)對點(diǎn)亮了的顯示面板有無缺陷像素進(jìn)行檢查的步驟；(c)在發(fā)現(xiàn)了缺陷像素時(shí)，使所述拍攝裝置移動以對缺陷像素進(jìn)行拍攝，并在被拍 攝的圖像上確定缺陷像素的位置的步驟；(d)根據(jù)與被確定的缺陷像素在圖像上的位置和所述拍攝裝置的相對于原點(diǎn)在 Χ、γ軸方向上的移動距離、以及該顯示面板的像素的尺寸和其排列形態(tài)有關(guān)的信息，求出被 確定的缺陷像素在顯示面板上的地址的步驟。又，本發(fā)明通過提供一種缺陷像素地址檢測裝置來解決上述課題，所述缺陷像素 地址檢測裝置，其特征在于，包括檢查部，至少具有放置臺和探測單元，能夠使作為檢查對 象的顯示面板點(diǎn)亮；拍攝裝置，能夠相對于被放置在檢查部上的顯示面板在X、Y軸方向上 移動；測量裝置，對所述拍攝裝置的X、Y軸方向的移動距離進(jìn)行測量；顯示裝置，顯示被所 述拍攝裝置拍攝的圖像；存儲裝置，對與作為檢查對象的所述顯示面板的像素的尺寸和其 排列形態(tài)有關(guān)的信息進(jìn)行存儲；地址運(yùn)算裝置，其被程序化，若被顯示于所述顯示裝置上的 圖像上缺陷像素的位置被確定，則根據(jù)該缺陷像素在該圖像上的位置和此時(shí)的所述拍攝裝 置的X、Y軸方向的移動距離、以及與存儲于所述存儲裝置中的所述顯示面板的像素的尺寸 和其排列形態(tài)有關(guān)的信息，求出所述顯示面板中缺陷像素的地址。在本發(fā)明的缺陷像素地址檢測方法及檢測裝置中，最好設(shè)置使用能夠移動的拍攝 裝置對作為該拍攝裝置的移動軸的Χ、γ軸和作為檢查對象的顯示面板的Χ、γ軸的偏移進(jìn)行 校正的校準(zhǔn)步驟或者校準(zhǔn)裝置。作為拍攝裝置的移動軸的x、Y軸和作為檢查對象的顯示面 板的Χ、γ軸的偏移例如可以通過能夠移動的拍攝裝置對設(shè)置在顯示面板的2邊上的合計(jì)三 個(gè)的對齊標(biāo)記進(jìn)行拍攝，通過讀取求出那些對齊標(biāo)記的X-Y坐標(biāo)來求出。這樣的校準(zhǔn)步驟 或者校準(zhǔn)裝置最好在作為檢查對象的顯示面板的品種變更的情況下進(jìn)行。通過設(shè)置校準(zhǔn)步 驟或者校準(zhǔn)裝置，對拍攝裝置的X、Y移動軸相對于品種各異的顯示面板的X、Y軸的歪斜進(jìn) 行校正，能夠更準(zhǔn)確地檢測缺陷像素地址。又，在本發(fā)明的缺陷像素地址檢測方法及檢測裝置中，最好設(shè)置面板傾斜校正步 驟或者面板傾斜校正裝置。作為檢查對象的顯示面板每次被新裝載在檢查部上都要對齊到 所期望的檢查位置，但是每個(gè)顯示面板可能會產(chǎn)生些許的偏移，因此尤其是在發(fā)現(xiàn)了缺陷 像素時(shí)，通過面板傾斜校正步驟或者面板傾斜校正裝置，對該顯示面板的傾斜進(jìn)行校正。面 板傾斜校正步驟或者面板傾斜校正裝置例如是這樣進(jìn)行校正的通過能夠移動的拍攝裝置 對設(shè)在顯示面板的1邊上的至少兩個(gè)地方的對齊標(biāo)記進(jìn)行拍攝，讀取其X-Y坐標(biāo)，求得與之 前通過校準(zhǔn)步驟或者校準(zhǔn)裝置求出的對應(yīng)的兩個(gè)地方的對齊標(biāo)記的X-Y坐標(biāo)的差，根據(jù)該 差對在校準(zhǔn)步驟得到的X軸和/或Y軸坐標(biāo)軸的偏移量進(jìn)行校正。進(jìn)一步地，在本發(fā)明的缺陷像素地址檢測方法及檢測裝置中，最好設(shè)置顏色校驗(yàn) 步驟或者顏色校驗(yàn)裝置。在彩色顯示的情況下，顯示面板是有規(guī)則地排列RGB三色的像素 而構(gòu)成的，因此拍攝裝置如果是彩色拍攝裝置，則通過觀察由拍攝裝置拍攝的缺陷像素的周圍的像素的顏色，可以容易地辨別在圖像上確定的缺陷像素的顏色是RGB中的哪一個(gè)。 因此，校驗(yàn)缺陷像素的被辨別出的顏色是否與對應(yīng)于被求出的缺陷像素的地址的顯示面板 的像素的顏色一致，在一致的情況下，將該地址作為要求出的地址來使用，在不一致的情況 下，則選擇與該地址最接近、且與該被辨別出的顏色相同的像素的地址，將其作為要求出的 欠陷畫素的地址來使用，由此可以進(jìn)一步提高缺陷像素地址的檢測精度。進(jìn)一步地，本發(fā)明的缺陷像素地址檢測方法及檢測裝置的較佳實(shí)施形態(tài)是設(shè)有位 移校正步驟或者位移校正裝置。位移校正步驟或者位移校正裝置，在發(fā)現(xiàn)了缺陷像素時(shí)，使 所述拍攝裝置移動，對與缺陷像素相同的X軸和/或Y軸坐標(biāo)上的顯示面板的像素矩陣的 邊部附近進(jìn)行拍攝，求出該邊部附近的像素相對于所述拍攝裝置的X軸和/或Y軸原點(diǎn)向 哪個(gè)方向位移多少，并將其用于缺陷像素地址的檢測。這樣，在設(shè)有位移校正步驟或者位移 校正裝置的情況下，即便在上述顏色校驗(yàn)步驟或者顏色校驗(yàn)裝置不能充分確定缺陷像素的 地址的情況下，也能夠更準(zhǔn)確地求出缺陷像素地址。又，本發(fā)明的缺陷像素地址檢測方法及檢測裝置的較佳實(shí)施形態(tài)為設(shè)有地址校正 步驟或者地址校正裝置。地址校正步驟或者地址校正裝置，預(yù)先存儲之前對缺陷像素進(jìn)行 的顏色校驗(yàn)步驟或者顏色校驗(yàn)裝置所求出的像素地址的校正值、或者存儲位移校正步驟或 者位移校正裝置所求出的像素地址的校正值，根據(jù)該校正值對同一顯示面板的后續(xù)的缺陷 像素的被求出的地址進(jìn)行校正。該地址校正步驟或者地址校正裝置在以下這樣的情況下是 有效的，即由拍攝裝置拍攝的圖像上的缺陷像素的位置和實(shí)際的顯示面板上的缺陷像素的 位置的偏移方向以及偏移量無論同一顯示面板中顯示面板上的位置如何都大致一樣。在具 有該地址校正步驟或者地址校正裝置的情況下，具有這樣的優(yōu)點(diǎn)，即如果通過顏色校驗(yàn)步 驟或者位移校正步驟預(yù)先求得一次地址的校正值，則對于其后被檢測的缺陷像素就不要進(jìn) 行顏色校驗(yàn)步驟或者位移校正步驟。本發(fā)明的缺陷像素地址檢測方法及檢測裝置也能夠應(yīng)用于全體接觸方式以及短 路棒方式中的某一種點(diǎn)亮方式，作為對象的顯示面板也不限于液晶顯示器面板，只要是由 複數(shù)O像素構(gòu)成的顯示面板，可以將任何類型的顯示面板作為對象。例如，等離子顯示器面 板、EL顯示器面板、使用LED的顯示器面板、FED面板等顯示面板都可以作為本發(fā)明的缺陷 像素地址檢測方法及檢測裝置的對象。發(fā)明的效果本發(fā)明的缺陷像素地址檢測方法及檢測裝置使用能夠移動的拍攝裝置的結(jié)構(gòu)為， 根據(jù)該拍攝裝置的移動距離和與作為檢查對象的顯示面板的像素尺寸及其排列形態(tài)有關(guān) 的信息，求出缺陷像素的地址，因此具有能簡單且低價(jià)地制造裝置、且能夠求得缺陷像素的 準(zhǔn)確的地址的優(yōu)點(diǎn)。又，由于具備校準(zhǔn)步驟或者裝置、面板傾斜校正步驟或者裝置、顏色校 驗(yàn)步驟或者裝置、或者位移校正步驟裝置，因此具有能夠更高精度地檢測缺陷像素地址的 優(yōu)點(diǎn)。


圖1是示出本發(fā)明的缺陷像素地址檢測裝置的一個(gè)實(shí)例的主視圖。圖2是僅示出圖1的關(guān)鍵部分的圖。圖3是示出本發(fā)明的缺陷像素地址檢測方法的一個(gè)實(shí)例的步驟的流程圖。
圖4是示出監(jiān)視器畫面的一個(gè)實(shí)例的圖。圖5是圖4的部分放大圖。圖6示意性地示出使構(gòu)成顯示面板的像素矩陣的多個(gè)像素的排列形態(tài)與實(shí)物對 應(yīng)而顯示出的排列地圖。圖7是例示出缺陷像素和排列地圖的其他位置關(guān)系的圖。圖8是例示出缺陷像素和排列地圖的另一其他位置關(guān)系的圖。圖9是示出通過拍攝裝置拍攝了 Y軸原點(diǎn)附近的像素矩陣的狀態(tài)的圖。圖10是示出通過拍攝裝置拍攝了 X軸原點(diǎn)附近的像素矩陣的狀態(tài)的圖。符號說明1缺陷像素檢測裝置2檢查部3裝載部4顯示面板5a、5b數(shù)據(jù)側(cè)·門側(cè)探測單元6a、6b數(shù)據(jù)側(cè)·門側(cè)探測塊7a、7b、7c對齊用攝像裝置8監(jiān)視器畫面9控制裝置10拍攝裝置11 手柄12X軸引導(dǎo)機(jī)構(gòu)13Y軸引導(dǎo)機(jī)構(gòu)14a、14b、14c 對齊標(biāo)記15 圖像16排列地圖17像素矩陣c 像素S基準(zhǔn)點(diǎn)Gp顯示面板原點(diǎn)。
具體實(shí)施例方式下面，使用附圖對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明，但本發(fā)明當(dāng)然并不限于圖示的形態(tài)。圖1是示出本發(fā)明的缺陷像素地址檢測裝置的一個(gè)實(shí)例的主視圖。在圖1中，1是 缺陷像素地址檢測裝置，2是其檢查部，3是裝載部，4是作為檢查對象的顯示面板。在本例 中，是對顯示面板4為液晶面板的情形進(jìn)行說明，但如上所述，本發(fā)明當(dāng)作檢測對象的顯示 面板4并不限于液晶面板。5a、5b分別是數(shù)據(jù)側(cè)探測單元以及門側(cè)探測單元，6a、6b分別是 數(shù)據(jù)側(cè)探測塊以及門側(cè)探測塊。如圖所示，分別在各個(gè)數(shù)據(jù)側(cè)探測單元5a以及門側(cè)探測單 元5b上安裝多個(gè)數(shù)據(jù)側(cè)探測塊6a以及門側(cè)探測塊6b。7a、7b、7c是對齊用攝像裝置，8是 監(jiān)視器畫面，9是控制裝置，控制裝置9具有未圖示的各種存儲裝置、運(yùn)算處理裝置，在與外部之間輸入輸出信號或數(shù)據(jù)的輸入輸出接口、以及輸入輸出裝置。10是能夠移動的拍攝裝置。作為拍攝裝置10，例如可以使用C⑶攝像裝置。由拍 攝裝置10拍攝的圖像例如被顯示在監(jiān)視器畫面8上。11是使拍攝裝置10移動的手柄，12 是能夠沿X軸移動地支撐拍攝裝置10的X軸引導(dǎo)機(jī)構(gòu)，13,13是能夠沿Y軸移動地支撐X 軸引導(dǎo)機(jī)構(gòu)12和拍攝裝置10的Y軸引導(dǎo)機(jī)構(gòu)。在X軸引導(dǎo)機(jī)構(gòu)12以及Y軸引導(dǎo)機(jī)構(gòu)13、 13或者拍攝裝置10上，設(shè)置有至少能夠以μ m單元測量拍攝裝置10的X軸方向以及Y軸 方向的移動的線性標(biāo)度，例如檢查人員利用手柄11使拍攝裝置10在X、Y軸方向上移動時(shí)， 測量其X軸方向以及Y軸方向的移動距離，與拍攝裝置10的拍攝圖像一起顯示在監(jiān)視器畫 面8上。在拍攝裝置10或者Χ、Υ軸引導(dǎo)機(jī)構(gòu)12、13上設(shè)置驅(qū)動機(jī)構(gòu)，能夠使得拍攝裝置10 的沿X軸引導(dǎo)機(jī)構(gòu)12以及Y軸引導(dǎo)機(jī)構(gòu)13、13的移動以自動方式進(jìn)行。作為驅(qū)動機(jī)構(gòu)，例 如能夠使用脈沖電動機(jī)，在這種情況下，通過對驅(qū)動脈沖電動機(jī)的脈沖數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù)，能夠 測量拍攝裝置10的移動距離。另外，以自動方式使拍攝裝置10移動的情況下，通過監(jiān)視器 畫面8、或設(shè)置在控制裝置9上的未圖示的輸入裝置，檢查人員能夠適當(dāng)?shù)刂甘酒湟苿臃较?以及移動距離。圖2是僅取出圖1的關(guān)鍵部分進(jìn)行顯示的圖。出于方便，將數(shù)據(jù)側(cè)探測單元5a和 門側(cè)探測單元5b顯示在從顯示面板4稍微離開的位置上。如圖2所示，在顯示面板4的上 邊和左邊的各個(gè)角上，總計(jì)設(shè)有3個(gè)對齊標(biāo)記14a、14b、14c。一邊利用對齊用攝像裝置7a、 7b,7c對該對齊標(biāo)記14a、14b、14c進(jìn)行拍攝，一邊進(jìn)行對齊。又，如圖2所示，拍攝裝置10沿著X軸引導(dǎo)機(jī)構(gòu)12以及Y軸引導(dǎo)機(jī)構(gòu)13、13在圖 中箭頭所示的方向上移動，能夠以能移動到顯示面板4上的任何位置的方式對顯示面板4 的表面進(jìn)行拍攝。拍攝裝置10的移動路徑設(shè)定在相比數(shù)據(jù)側(cè)以及門側(cè)的各個(gè)探測塊6a、 6b、對齊用攝像裝置7a、7b、7c更加遠(yuǎn)離顯示面板4的位置，因此探測塊6a、6b、對齊用攝像 裝置7a、7b、7c不會妨礙拍攝裝置10的X、Y軸方向的移動。另外，如后文所述，在本發(fā)明的缺陷像素地址檢測裝置中，需要利用拍攝裝置10 對對齊標(biāo)記14a、14b、14c進(jìn)行拍攝，因此對齊用攝像裝置7a、7b、7c能夠移動地安裝于數(shù)據(jù) 側(cè)探測單元5a或者門側(cè)探測單元5b上，在利用拍攝裝置10對對齊標(biāo)記14a、14b、或者14c 進(jìn)行拍攝時(shí)，能夠移動到不妨礙其拍攝的位置上。又，可以根據(jù)情況，利用拍攝裝置10代替 對齊用攝像裝置7a、7b、7c中的某一個(gè)或者兩個(gè)以上使用。圖3是示出本發(fā)明的缺陷像素地址檢測方法的步驟的流程圖。下面，根據(jù)圖1所示 缺陷像素地址檢測裝置以及圖3所示流程圖對本發(fā)明的缺陷像素地址檢測方法進(jìn)行說明。新品種面板裝載裝載部3利用例如機(jī)械手，從未圖示的輸送裝置取得作為檢查對象的液晶面板， 將其放置于能夠向XYZ θ方向移動的放置臺上，并輸送至檢查部2。由此，裝載部3將顯示 面板4裝載在檢查部2上。圖3的流程圖中的“新品種面板裝載”表示的是改換作為檢查 對象的顯示面板4的品種，將新的品種的顯示面板4裝載在檢查部2上的步驟。< 對齊 >新品種的顯示面板4被輸送到檢查部2上后，接著進(jìn)行對齊步驟。該對齊步驟是 將檢查部2的數(shù)據(jù)側(cè)以及門側(cè)的探測塊6a、6b的所有探針和顯示面板4的所有電極對準(zhǔn)以使得兩者可靠地接觸的步驟，這與至今為止進(jìn)行的對齊沒有什么變化。即，被放置在放置臺 上的顯示面板4被裝載在檢查部2上后，載置有放置臺的XYZ θ驅(qū)動臺被驅(qū)動，使得顯示面 板4移動，并將顯示面板4對準(zhǔn)到檢查部2的規(guī)定的檢查位置上，以使得數(shù)據(jù)側(cè)以及門側(cè) 的探測塊6a、6b的全部探針與顯示面板4的全部電極可靠地接觸。該對齊是這樣進(jìn)行的 通常通過對齊用攝像裝置7a、7b、7c對對齊標(biāo)記14a、14b、或者14c中的至少兩個(gè)對齊標(biāo)記 進(jìn)行拍攝，并使得放置臺移動，從而使得這些至少兩個(gè)對齊用標(biāo)記來到對齊用攝像裝置7a、 7b,7c的視野內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)位置。另外，此時(shí)，可以使用未圖示的顯微鏡來確認(rèn)數(shù)據(jù)側(cè)以及門側(cè) 的探測塊6a、6b的所有探針是否與顯示面板4的所有電極可靠地接觸。(校準(zhǔn))對齊步驟結(jié)束后，如圖3所示進(jìn)行校準(zhǔn)步驟。該校準(zhǔn)步驟是取得拍攝裝置10的X、 Y移動軸與由顯示面板4的3個(gè)對齊標(biāo)記14a、14b、14c形成的X、Y軸的偏移的步驟，該步 驟是在改變檢查對象面板的品種，將新品種的顯示面板4裝載到檢查部2上時(shí)進(jìn)行。校準(zhǔn) 步驟并不限于檢查對象面板的品種改變時(shí)進(jìn)行，也可以在相同品種面板的檢查中根據(jù)需要 在適當(dāng)?shù)臅r(shí)刻進(jìn)行。又，在能夠預(yù)想拍攝裝置10的X、Y移動軸和由顯示面板4的3個(gè)對齊 標(biāo)記14a、14b、14c形成的X、Y軸之間沒有偏移的情況下，或者在已經(jīng)獲得有關(guān)該品種的面 板的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的情況下，可以不進(jìn)行校準(zhǔn)步驟。校準(zhǔn)通過利用能夠移動的拍攝裝置10拍攝三個(gè)對齊標(biāo)記14a、14b、14c來進(jìn)行。 即，首先將拍攝裝置10的視野內(nèi)的基準(zhǔn)點(diǎn)與顯示面板4中位于設(shè)有三個(gè)對齊標(biāo)記14a、14b、 14c的兩邊的交點(diǎn)處的對齊標(biāo)記14a的基準(zhǔn)位置對齊。作為拍攝裝置10的基準(zhǔn)點(diǎn)，例如可 以將其視野的中心點(diǎn)作為基準(zhǔn)點(diǎn)，視野內(nèi)的中心點(diǎn)可采用改變了亮度或顏色的點(diǎn)、或垂直 相交的十字線的交點(diǎn)等來表示。又，作為對齊標(biāo)記14a的基準(zhǔn)位置，例如在對齊標(biāo)記14a是 十字形的圖形時(shí)，可以將該中心點(diǎn)或十字形圖形的重心位置作為基準(zhǔn)位置。該位置對準(zhǔn)通 過設(shè)置在控制裝置9內(nèi)的運(yùn)算處理裝置的圖像處理和模式匹配自動地進(jìn)行。拍攝裝置10的視野內(nèi)的基準(zhǔn)點(diǎn)與對齊標(biāo)記14a的基準(zhǔn)位置一致時(shí)，控制裝置9將 此時(shí)的拍攝裝置10的位置，即通過X軸線性標(biāo)度以及Y軸線性標(biāo)度或者電動機(jī)的脈沖數(shù)量 表示的拍攝裝置10相對于任意點(diǎn)在X軸以及Y軸方向的移動距離作為拍攝裝置10的原點(diǎn) 的X、Y坐標(biāo)存儲在存儲裝置中。另外，拍攝裝置10的原點(diǎn)的X、Y坐標(biāo)可以是拍攝裝置10 的相對于任意點(diǎn)在Χ、γ軸方向的移動距離，但最好是在拍攝裝置10的視野內(nèi)的基準(zhǔn)點(diǎn)與對 齊標(biāo)記14a的基準(zhǔn)位置一致時(shí)，將通過X軸線性標(biāo)度以及Y軸線性標(biāo)度或者電動機(jī)的脈沖 數(shù)量表示的拍攝裝置10的X、Y軸方向的移動距離都重設(shè)為“0(μπι)”，將拍攝裝置10的原 點(diǎn)的Χ、Υ坐標(biāo)設(shè)為(0，0)。此時(shí)，將對齊標(biāo)記14a的基準(zhǔn)位置選擇作為顯示面板4的原點(diǎn)的話，如上所述，通 過使拍攝裝置10的視野內(nèi)的基準(zhǔn)點(diǎn)與對齊標(biāo)記14a的基準(zhǔn)位置一致，通過將此時(shí)的拍攝裝 置10的位置作為原點(diǎn)，使得拍攝裝置10的原點(diǎn)與顯示面板4的原點(diǎn)一致。另外，使拍攝裝置10的原點(diǎn)與顯示面板4的原點(diǎn)一致的操作能夠與校準(zhǔn)步驟分開 進(jìn)行。例如，在選擇構(gòu)成顯示面板4的像素矩陣的最左上的像素的左上角作為顯示面板4的 原點(diǎn)的情況下，在對齊結(jié)束，或者如后述那樣在對齊后的點(diǎn)亮檢查中發(fā)現(xiàn)了缺陷像素時(shí)，使 拍攝裝置10移動，使得其視野內(nèi)的基準(zhǔn)點(diǎn)與選擇作為顯示面板4的原點(diǎn)的像素矩陣的最左 上的像素的左上角一致，將該位置作為拍攝裝置10的原點(diǎn)來進(jìn)行設(shè)定，由此能夠使拍攝裝置10的原點(diǎn)與顯示面板4的原點(diǎn)一致。這樣，通過使拍攝裝置10的原點(diǎn)與顯示面板4的 原點(diǎn)一致，使得顯示面板4的特定位置與拍攝裝置10的位置相對應(yīng)，因此拍攝裝置10的位 置、即拍攝裝置10的X、Y坐標(biāo)與顯示面板4的X、Y坐標(biāo)相對應(yīng)。如上所述，使拍攝裝置10的視野內(nèi)的基準(zhǔn)點(diǎn)與對齊標(biāo)記14a的基準(zhǔn)位置一致，將 此時(shí)的拍攝裝置10的X、Y坐標(biāo)(xl，yl)存儲之后，進(jìn)一步地使拍攝裝置10移動，以使得其 視野內(nèi)的基準(zhǔn)點(diǎn)與位于顯示面板4的上邊的右角的對齊標(biāo)記14b的基準(zhǔn)位置一致，讀取此 時(shí)拍攝裝置10的相對于原點(diǎn)的移動距離即X、Y坐標(biāo)(x2，y2)。通過X軸引導(dǎo)機(jī)構(gòu)12引導(dǎo)的拍攝裝置10的X軸與由對齊標(biāo)記14a以及14b構(gòu)成 的顯示面板4的X軸一致的情況下，應(yīng)該yl = y2，但假如yl興y2時(shí)，則拍攝裝置10的X 軸與顯示面板4的X軸有偏移，該偏移的量相對于對齊標(biāo)記14a和14b的距離(x2_xl)為 (y2_yl)?？刂蒲b置9將這兩個(gè)值(x2_xl)以及(y2_yl)作為X軸的偏移量與對齊標(biāo)記14b 的坐標(biāo)(x2，y2) —起存儲在適當(dāng)?shù)拇鎯ρb置中。控制裝置9根據(jù)(x2-xl)以及(y2_yl)的 值算出拍攝裝置10的X軸和由對齊標(biāo)記14a以及14b構(gòu)成的顯示面板4的X軸之間的角 度，將該角度作為X軸的偏移量存儲在存儲裝置中。同樣的，接下來，使拍攝裝置10的基準(zhǔn)點(diǎn)與位于顯示面板4的左邊下角的對齊標(biāo) 記14c的基準(zhǔn)位置一致，讀取此時(shí)的拍攝裝置10的相對于原點(diǎn)的移動距離即X、Y坐標(biāo)(χ3， y3)。通過Y軸引導(dǎo)機(jī)構(gòu)13、13引導(dǎo)的拍攝裝置10的Y軸與由對齊標(biāo)記14a以及14c構(gòu) 成的顯示面板4的Y軸一致的情況下，應(yīng)該是xl = x3,假如xl Φ χ3時(shí)，拍攝裝置10的 Y軸與顯示面板4的Y軸有偏移，其偏移的量相對于對齊標(biāo)記14a和14c的距離(y3_yl) 為(x3-xl)，控制裝置9將這兩個(gè)值(x3-xl)以及(y3-yl)作為Y軸的偏移量與對齊標(biāo)記 14c的坐標(biāo)(x3，y3) 一起存儲在適當(dāng)?shù)拇鎯ρb置中。與X軸的情形相同，控制裝置9根據(jù) (x3-xl)以及(y3-yl)的值算出拍攝裝置10的Y軸和由對齊標(biāo)記14a以及14c構(gòu)成的顯示 面板4的Y軸之間的角度，將該角度作為Y軸的偏移量存儲在存儲裝置中。另外，以上的說明中，校準(zhǔn)步驟是通過利用能夠移動的拍攝裝置10對三個(gè)對齊標(biāo) 記14a、14b、14c進(jìn)行拍攝來進(jìn)行的。但當(dāng)記號代替對齊標(biāo)記14a、14b、14c的存在于顯示面 板4上的情況下，也可以利用能夠移動的拍攝裝置10對這些記號進(jìn)行拍攝，獲得這些記號 的X、Y坐標(biāo)，求出顯示面板4的X、Y坐標(biāo)軸和拍攝裝置10的X、Y移動軸的偏移量。(點(diǎn)亮檢查)以及(缺陷的有無)如上所述，對齊步驟以及校準(zhǔn)步驟結(jié)束后，接下來控制裝置9通過數(shù)據(jù)側(cè)探測塊 6a以及門側(cè)探測塊6b將信號供給顯示面板4的電極，使顯示面板4點(diǎn)亮。在點(diǎn)亮狀態(tài)下， 通過操作人員的目視檢查缺陷像素的有無。另外，有無缺陷像素的檢查也可以不是操作人 員的目視檢查，而是機(jī)械的自動檢查。例如，可以利用CCD攝像裝置等對顯示面板4的顯示 面進(jìn)行拍攝，通過對其圖像進(jìn)行圖像處理來自動地檢查缺陷像素的有無。(校正面板傾斜)在點(diǎn)亮檢查中發(fā)現(xiàn)缺陷像素時(shí)，在顯示面板4為在校準(zhǔn)步驟之后新進(jìn)行了對齊步 驟的顯示面板的情況下，進(jìn)行面板傾斜校正步驟。即，在校準(zhǔn)步驟后進(jìn)行的對齊步驟與上述 對齊步驟一樣，通過對齊用攝像裝置7a、7b、7c對對齊標(biāo)記14a、14b、或者14c中的至少兩個(gè) 對齊標(biāo)記進(jìn)行拍攝，并使得放置臺移動，從而使得這些至少兩個(gè)對齊用標(biāo)記來到對齊用攝 像裝置7a、7b、7c的視野內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)位置，但通過該新的對齊步驟放置在檢查位置上的顯示面板4的位置可能與進(jìn)行了校準(zhǔn)步驟時(shí)的顯示面板4的位置有微妙的偏移，因此為了對該 偏移進(jìn)行校正所進(jìn)行的步驟就是面板傾斜校正步驟。另外，在每次對齊時(shí)顯示面板4的位 置都不會偏移的情況下，可以不進(jìn)行面板傾斜校正步驟。面板傾斜校正步驟是通過利用拍攝裝置10對至少兩個(gè)位置的對齊標(biāo)記進(jìn)行拍攝 而進(jìn)行的。即，首先，使撮影裝置10移動對對齊標(biāo)記14a進(jìn)行拍攝，讀取對齊標(biāo)記14的基 準(zhǔn)位置的X、Y坐標(biāo)(Xl，，yl，)，接下來，對對齊標(biāo)記14b進(jìn)行拍攝，讀取對齊標(biāo)記14b的X、 Y坐標(biāo)(x2’，y2’)。如果初次的對齊與其后的對齊中顯示面板4的位置沒有變化，則應(yīng)該為 xl，=xl、yl，=71，且乂2，=x2，y2，= y2。但是，在這些四個(gè)等式中的任一個(gè)不成立的 情況下，則顯示面板4的位置具有偏差，顯示面板4相比初次對齊時(shí)發(fā)生傾斜，因此控制裝 置9將表示原點(diǎn)的偏移量(χΓ-χΙ)以及(yl’-yl)的值、和表示相對于初次對齊的傾斜量 的(χ2’-χΓ)以及{(y2’-y2)-(yl’-yl)}作為面板傾斜校正量存儲在存儲裝置中。另外， 控制裝置9可以將根據(jù)表示原點(diǎn)的偏移量的(xl，-xl)以及(yl'-yl)的值、和(χ2，-χΓ) 以及{(y2’-y2)-(yl’-yl)}的值算出的、初次對齊與此次對齊的顯示面板4的X軸的偏移 角度作為面板傾斜校正量進(jìn)行存儲。另外，關(guān)于顯示面板4的Y軸的傾斜度，可以通過利用拍攝裝置10對對齊標(biāo)記14c 進(jìn)行拍攝來求得，但由于能夠合理地推測顯示面板4的傾斜度在X軸和Y軸都相同，因此能 夠?qū)⑾惹蟮玫腦軸的傾斜量或者偏移的角度利用于Y軸。因此，在面板傾斜校正步驟中，利 用拍攝裝置10所拍攝的對象是位于顯示面板4的同一邊上的至少2處的對齊標(biāo)記14a以 及14b、或者14a以及14c就足夠了。另外，在上述實(shí)例中，至少兩處的對齊標(biāo)記的拍攝和基準(zhǔn)位置坐標(biāo)的讀取都使用 能夠移動的拍攝裝置10來進(jìn)行，但也可以使用對齊用攝像裝置7a、7b、或者7c對兩處對齊 標(biāo)記中的兩處或者一處進(jìn)行拍攝和基準(zhǔn)位置坐標(biāo)的讀取。在使用對齊用攝像裝置7a、7b、或 者7c對至少兩處對齊標(biāo)記中的兩處或者一處進(jìn)行拍攝的情況下，由于無需使拍攝裝置10 移動到其位置，因此具有可以節(jié)約移動所需的時(shí)間的優(yōu)點(diǎn)。又，在以上說明中，面板傾斜校正步驟是通過利用拍攝裝置10或者對齊用攝像裝 置7a、7b、7c對至少兩處的對齊標(biāo)記14a、14b、或者14c進(jìn)行拍攝來進(jìn)行的，但在記號代替對 齊標(biāo)記14a、14b、14c存在于顯示面板4，校準(zhǔn)步驟通過根據(jù)這些記號的X、Y坐標(biāo)求得顯示 面板4的X、Y坐標(biāo)軸和拍攝裝置10的Χ、Υ移動軸的偏移量來進(jìn)行的情況下，在面板傾斜校 正步驟中，也可以代替對齊標(biāo)記14a、14b、或者14c，而使用與校準(zhǔn)步驟中采用的記號相同 的記號中的至少2處記號。(拍攝裝置向缺陷像素移動)面板傾斜校正結(jié)束后，使拍攝裝置10移動到所發(fā)現(xiàn)的缺陷像素的位置，并對包含 缺陷像素的顯示面板4的表面區(qū)域進(jìn)行拍攝。拍攝裝置10的移動通過檢查人員手持例如 拍攝裝置10的手柄11手動地進(jìn)行。在拍攝裝置10是由設(shè)置于拍攝裝置10或者X軸以及 Y軸引導(dǎo)機(jī)構(gòu)12、13上的驅(qū)動機(jī)構(gòu)驅(qū)動的自動式拍攝裝置的情況下，可以通過從適當(dāng)?shù)妮?入裝置介由控制裝置9指定移動方向或移動距離從而使得拍攝裝置10移動。被拍攝的圖 像被顯示在監(jiān)視器畫面8上。圖4示意性地示出監(jiān)視器畫面的一個(gè)實(shí)例。在圖4中，8是監(jiān)視器畫面，由拍攝裝置10拍攝的圖像15顯示在監(jiān)視器畫面8上。 C、C、C……是像素。在本實(shí)施例中，顯示面板4是彩色顯示面板，對其拍攝的拍攝裝置10也是彩色拍攝裝置，因此顯示面板4顯示出分別示出R(紅)、G(綠)、或者B(藍(lán))的顏色的 像素縱橫規(guī)則地排列的像素矩陣圖像15(圖中，通過在各像素的中央顯示“R”、“G”、“B”，表 示各像素的顏色)。Lx、Ly是顯示于拍攝圖像的視野的縱橫的中心線，中心線Lx以及Ly的 交點(diǎn)S是拍攝視野的中心，是拍攝裝置10的基準(zhǔn)點(diǎn)?；鶞?zhǔn)點(diǎn)S的X、Y坐標(biāo)，即相對于原點(diǎn)的X軸方向以及Y軸方向的移動距離作為“基 準(zhǔn)位置”顯示在圖像15的右側(cè)。在圖示的例子中，基準(zhǔn)點(diǎn)S的X坐標(biāo)是“331. 528mm”，Y坐 標(biāo)是“210. 227mm”。在“基準(zhǔn)位置”的上部，分別以角度表示通過“校準(zhǔn)”得到的偏移量和通 過面板傾斜校正得到的面板傾斜校正量。在圖示的例子中，在校準(zhǔn)步驟求出的X軸的偏移 量為“0. 500度”，Y軸的偏移量為“-0. 200度”，面板傾斜校正量為“0. 040度”。表示于“基 準(zhǔn)位置”的基準(zhǔn)點(diǎn)的X、Y坐標(biāo)是考慮了 Χ、Υ軸的偏移量的校正以及面板傾斜校正量而進(jìn)行 校正后的值，但也可以顯示校正前的值。另外，根據(jù)在校準(zhǔn)步驟求出的X軸以及Y軸的偏移量校正基準(zhǔn)點(diǎn)S的X、Y坐標(biāo)的 方法并沒有什么特別的。例如，能夠通過以旋轉(zhuǎn)排列或歪斜排列進(jìn)行坐標(biāo)變換的已知的數(shù) 學(xué)方法對基準(zhǔn)點(diǎn)S的X、Y坐標(biāo)進(jìn)行校正。面板傾斜校正量也是同樣，在面板傾斜校正量以角度表示的情況下，可以單純地 對在校準(zhǔn)步驟求出的X軸以及Y軸的偏移量的角度加上或減去該角度，與上述同樣地求出 基準(zhǔn)點(diǎn)S的被校正后的X、Y坐標(biāo)。無論如何，根據(jù)在校準(zhǔn)步驟求出的偏移量以及面板傾斜 校正量校正基準(zhǔn)點(diǎn)S的X、Y坐標(biāo)是純粹的數(shù)學(xué)問題，想出各種方法對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員 來說是顯而易見的。上述方法只不過是其一個(gè)例子，本發(fā)明并不限于上述的校正方法。(確定缺陷像素)在圖4中，在基準(zhǔn)點(diǎn)S的右下附有陰影的像素Cn示出缺陷像素的一個(gè)實(shí)例。檢查 人員判斷像素Cn是缺陷像素時(shí)，在監(jiān)視器畫面8上確定該像素Cn。確定能夠通過用手指等 在監(jiān)視器畫面8上觸碰、或使鼠標(biāo)的指針移動到像素Cn的位置，在該位置點(diǎn)擊來進(jìn)行。確 定像素Cn后，算出該像素Cn的X、Y坐標(biāo)。該算出例如如下述那樣進(jìn)行。圖5是圖4的部分放大圖，僅放大表示了圖像15中的缺陷像素Cn的周邊?？刂?裝置9對圖像15進(jìn)行圖像處理，識別出缺陷像素Cn的各邊的邊緣部分，根據(jù)該圖像15上 的位置算出相對于基準(zhǔn)點(diǎn)S的各邊的距離Δχ 、Δχ2、AyU Ay2。接下來，控制裝置9對 表示在圖4的“基準(zhǔn)位置”中的基準(zhǔn)點(diǎn)S的X、Y坐標(biāo)加上或減去被算出的值，求出在X軸方 向以及Y軸方向具有寬度的缺陷像素位置，在作為“像素位置”顯示在監(jiān)視器畫面8上的本 實(shí)例中，缺陷像素Cn在X軸方向位于“331. 538mm”至“331. 558mm”的范圍，在y軸方向處 于 “210. 248mm” 至 “210. 288mm” 的范圍。另外，校準(zhǔn)所進(jìn)行的偏移量的校正以及面板傾斜校正量的校正可以如上所述對基 準(zhǔn)點(diǎn)S的X、Y坐標(biāo)進(jìn)行，也可以在對基準(zhǔn)點(diǎn)S的X、Y坐標(biāo)加上或減去從基準(zhǔn)點(diǎn)S到缺陷像 素Cn各邊的距離之后進(jìn)行。(辨別缺陷像素的顏色)缺陷像素Cn由于某些原因沒有被驅(qū)動，因此在圖像15上只看得見黑色，其本來的 顯示顏色不清楚。但是，顯示面板4的像素矩陣通常根據(jù)其顯示顏色RGB有規(guī)則地排列，因 此能夠根據(jù)周圍的像素的顯示顏色知道缺陷像素Cn本來的顯示顏色。例如在圖5的實(shí)例中，像素矩陣的橫方向的行從左向右以R-G-B-R……的順序排列，各縱方向的列從上向下如R — R — R……、G-G-G……那樣，都是排列相同的 顏色。因此，將該排列的規(guī)則性應(yīng)用于缺陷像素Cn時(shí)，可知缺陷像素Cn本來的顯示顏色是 “G”。這樣的辨別通常通過利用控制裝置9對圖像15進(jìn)行信號處理來自動地進(jìn)行，但檢查 人員通過目視對圖像15進(jìn)行辨別也可以。被辨別的缺陷像素Cn的顯示顏色在圖4的監(jiān)視 器畫面8上顯示在“像素位置”下的“顯示顏色” 一欄中。另外，這樣的缺陷像素Cn的本來的顯示顏色的辨別如后述，是為了更準(zhǔn)確地檢測 缺陷像素地址而進(jìn)行的，進(jìn)行上述辨別當(dāng)然更理想，但未必是必要的。(算出地址值)接下來，根據(jù)如上述那樣求得的缺陷像素Cn的位置，算出缺陷像素Cn的顯示面板 4上的地址。該算出如下述那樣進(jìn)行。圖6對于顯示面板4示意性地示出使構(gòu)成像素矩陣的多個(gè)像素的排列形態(tài)與實(shí)物 對應(yīng)而顯示出的排列地圖的一個(gè)實(shí)例。圖中，16是排列地圖，17是像素矩陣，標(biāo)注符號C的 各長方形表示像素。對于該顯示面板4，能夠根據(jù)預(yù)先知道的與各像素的尺寸和其排列形態(tài) 有關(guān)的信息，即各像素的縱橫的尺寸和顯示顏色、像素矩陣的行數(shù)、列數(shù)、構(gòu)成各行、各列的 像素的數(shù)量、各像素的配置間隔等作成該排列地圖16。這樣的信息在每當(dāng)新品種的顯示面 板成為檢查對象時(shí)，從適當(dāng)?shù)妮斎胙b置輸入到控制裝置9中。或者，在預(yù)先知道這些信息和 顯示面板的品種的對應(yīng)關(guān)系的情況下，可以由裝載部3或者檢查部2自動地讀取附加在顯 示面板上的識別號碼等，從控制裝置9內(nèi)的存儲裝置讀出、或者通過適當(dāng)?shù)耐ㄐ艈卧獜耐?部的存儲裝置讀取。在本實(shí)例中，排列地圖16將位于像素矩陣17的最左上方的像素的左上角Gp作為 原點(diǎn)而作成的，原點(diǎn)Gp的X、Y坐標(biāo)如圖所示為(0，0)。另外，拍攝裝置10的原點(diǎn)與顯示面 板4上的該原點(diǎn)Gp —致。缺陷像素的地址通過將前面求出的圖像15上的缺陷像素Cn的存 在位置應(yīng)用于該排列地圖16上而求出的。該應(yīng)用如下述那樣進(jìn)行。即，被拍攝在圖像15中 的缺陷像素其X軸坐標(biāo)為“331. 538-331. 558mm”的范圍，Y軸坐標(biāo)為“210. 248-210. 288mm” 的范圍，因此控制裝置9將缺陷像素Cn的X坐標(biāo)以及Y坐標(biāo)分別除以構(gòu)成顯示面板4的像 素的橫向的大小以及縱向的大小加上配置間隔后的數(shù)值，通過求出其商，能夠在排列地圖 16上求出處于與這些X、Y坐標(biāo)對應(yīng)的位置的像素的地址。順便說一下，在缺陷像素Cn的 X、Y坐標(biāo)的范圍在排列地圖16上跨越多個(gè)像素時(shí)，控制裝置9將與缺陷像素Cn的X、Y坐 標(biāo)的范圍重疊的面積最大的像素判斷為缺陷像素，將其地址作為缺陷像素地址輸出?？刂蒲b置9被程序化，以便通過上述那樣的方法算出缺陷像素地址，控制裝置9與 這些程序成為一體，形成缺陷像素的地址運(yùn)算裝置。另外，在存在有多個(gè)與缺陷像素Cn的 X、Y坐標(biāo)的范圍重疊的面積最大且彼此相等的像素的情況下，不能僅根據(jù)排列地圖16最終 決定缺陷像素的地址，后述的顏色校驗(yàn)步驟、位移校正步驟是有效的。能取為原點(diǎn)Gp的地方并不限于位于像素矩陣17的最左上方的像素的左上角。也 可以位于像素矩陣17的最左下方的像素的左下角，在設(shè)于顯示面板4的左上角的對齊標(biāo)記 14a的基準(zhǔn)位置與像素矩陣的位置關(guān)系清楚的情況下，也可以是對齊標(biāo)記14a的基準(zhǔn)位置。 如果與像素矩陣17的位置關(guān)系清楚、且拍攝裝置10的原點(diǎn)與顯示面板4的被選擇的原點(diǎn) 一致，則取哪個(gè)點(diǎn)作為原點(diǎn)Gp是自由的。所求得的缺陷像素Cn的地址(α，β)在圖4所示的監(jiān)視器畫面8中作為“像素地址”顯示，檢查人員按下“確認(rèn)”按鈕時(shí)，缺陷像素Cn的地址信息被存儲在控制裝置9的 存儲裝置中，或者被發(fā)送到聯(lián)網(wǎng)的主機(jī)上，由此檢測出缺陷像素地址。另外，以上是對缺陷為點(diǎn)缺陷且缺陷像素為獨(dú)立1個(gè)的像素的情形進(jìn)行了說明， 但在缺陷為線缺陷或者面缺陷、相鄰的多個(gè)像素為缺陷像素的情況下，也可以與上述同樣 地求出缺陷像素地址。即，當(dāng)檢查人員發(fā)現(xiàn)了由圖像15上相鄰的多個(gè)缺陷像素構(gòu)成的缺陷 時(shí)，將各個(gè)缺陷像素依次在圖像15上確定。確定多個(gè)缺陷像素時(shí)，設(shè)在控制裝置9上的地 址運(yùn)算裝置求出由相鄰的多個(gè)缺陷像素形成的缺陷區(qū)域的各個(gè)頂點(diǎn)的X、Y坐標(biāo)，將這些X、 Y坐標(biāo)應(yīng)用于上述排列地圖16中，或者通過計(jì)算根據(jù)這些Χ、Υ坐標(biāo)算出多個(gè)缺陷像素地址， 并辨別缺陷的種類。有關(guān)所得到的缺陷像素的地址以及缺陷種類的信息被存儲在控制裝置 9內(nèi)的存儲裝置中，或者被發(fā)送到聯(lián)網(wǎng)的主機(jī)上，從而同時(shí)檢測出缺陷像素地址和缺陷的種 類。另外，缺陷的種類的辨別可以由檢查人員進(jìn)行。(校驗(yàn)顏色)如上所述，能夠根據(jù)由拍攝裝置10拍攝的缺陷像素Cn的X、Y坐標(biāo)求出缺陷像素 地址，但是如果將缺陷像素的顯示顏色放進(jìn)判斷材料的話，缺陷像素地址的檢測更準(zhǔn)確，故 比較理想。將顏色校驗(yàn)步驟設(shè)為“ON”使控制裝置9進(jìn)行顏色校驗(yàn)步驟時(shí)，控制裝置9將以前 根據(jù)圖像15上周圍的像素的顯示顏色辨別的缺陷像素Cn的顯示顏色“G”和所求出的像素 C(a,0)的顯示顏色“G”進(jìn)行比較。所求出的像素C(a,e)的顯示顏色為“G”可以根據(jù)與該顯 示面板4的像素的排列形態(tài)有關(guān)的信息知道。由于缺陷像素Cn的顯示顏色和像素C(a, 的顯示顏色都一致為“G”，控制裝置9將像素C(a,e)的地址(a，β)判斷為缺陷像素地址。 另外，由于像素C(a, 的顯示顏色作為“地址顏色”顯示在監(jiān)視器畫面8上，因此檢查人員 可以在監(jiān)視器畫面8上確認(rèn)缺陷像素Cn的顯示顏色和被顯示的“地址顏色”是否一致。圖7是例示出缺陷像素和排列地圖16的其他位置關(guān)系的圖。例如，將缺陷像素Cn 的X、Y坐標(biāo)應(yīng)用于排列地圖16時(shí)，如圖7上段所示，在缺陷像素Cn1的位置跨越兩個(gè)像素 即C(a3,M)和C(a4,M)這兩個(gè)像素的請況下，控制裝置9將(α3，β )和C(a4，β 1)兩個(gè) 地址作為缺陷像素的地址候補(bǔ)，僅根據(jù)排列地圖16或者坐標(biāo)計(jì)算不能最終決定缺陷像素 的地址。這樣的情況下進(jìn)行顏色校驗(yàn)是有效。即，將顏色校驗(yàn)步驟設(shè)為“ON”使控制裝置9進(jìn)行顏色校驗(yàn)步驟時(shí)，控制裝置9首 先將作為第1個(gè)候補(bǔ)的(a 3，β 1)的顯示顏色與根據(jù)圖像15辨別的缺陷像素Cn1的顯示 顏色“G”進(jìn)行比較。像素C(a3,M)的顯示顏色是“R”，缺陷像素Cn1的顯示顏色是“G”，兩者 不一致，因此控制裝置9判斷地址(a 3，β 1)不是缺陷像素Cn1的地址并將其從地址候補(bǔ) 中去掉，同時(shí)尋找與地址(α3，β1)最接近、且顯示顏色與缺陷像素他的‘義”相同的?！? 01)，將該像素的地址(α4，β )作為缺陷像素的地址。接下來，控制裝置9將作為第2個(gè)候補(bǔ)的(α4，β 1)的顯示顏色與缺陷像素Cn1 的顯示顏色“G”進(jìn)行比較。像素C(a4,M)的顯示顏色是“G”，與缺陷像素Cn1的顯示顏色一 致，因此控制裝置9將地址(α 4，β 1)作為缺陷像素Cn1的地址。這樣，對兩個(gè)候補(bǔ)進(jìn)行的顏色校驗(yàn)步驟的結(jié)果，都是相同的地址(a 4，β 1)作為 缺陷像素地址得到，因此，控制裝置9將該地址(α4，β 1)作為缺陷像素地址輸出到監(jiān)視器 畫面8上。
同樣，如圖7中段所示，缺陷像素Cn2的位置與像素C(a2,02)大致重疊時(shí)，如果沒有 顏色校驗(yàn)步驟，控制裝置9可能會將像素C(a2, 02)的地址(α2，β 2)判斷為缺陷像素的地 址。但是，這樣的情況下，進(jìn)行顏色校驗(yàn)步驟時(shí)，控制裝置9將像素C(a2,02)的顏色“B”與缺 陷像素Cn2的顯示顏色“G”進(jìn)行比較，由于兩顏色不一致，因此控制裝置9判斷地址(a 2， β 2)不是缺陷像素Cn1的地址。同時(shí)，控制裝置9找到與地址(α 2，β 2)最接近、且顯示顏 色與缺陷像素Cn2的“G”相同的像素C(al, 02)，將該地址(α 1，β 2)作為缺陷像素的地址。 這樣，由于經(jīng)過顏色校驗(yàn)步驟，可以更準(zhǔn)確地進(jìn)行缺陷像素地址的檢測。接下來，如圖7下段所示，缺陷像素&13的位置跨越像素C(a4,02)、C(a4,e3)、C(a5,e2)、 以及C(a5, 03)4個(gè)像素時(shí)，控制裝置9選擇與缺陷像素Cn3的X、Y坐標(biāo)的范圍重疊的面積最 大的像素。其結(jié)果，如果C(a4,03)以及C(a5,03)兩個(gè)像素與缺陷像素Cn3重疊的面積最大， 且都作為相同像素留下的情況下，如以前圖7的上段所示的例子的說明，通過將顏色校驗(yàn) 步驟設(shè)為“ON”使控制裝置9進(jìn)行顏色校驗(yàn)步驟，可以將顯示顏色為與缺陷像素Cn3相同的 “G”的像素C(a4,03)的地址(α4，β3)作為缺陷像素的準(zhǔn)確的地址?？刂蒲b置9被程序化為通過上述那樣的方法進(jìn)行顏色校驗(yàn)步驟，控制裝置9與該 程序成為一體，形成顏色校驗(yàn)裝置。另外，上述那樣的顏色校驗(yàn)步驟通過形成顏色校驗(yàn)裝置 的控制裝置自動地進(jìn)行，但是檢查人員也可以通過比較缺陷像素的顯示顏色和所求的地址 的像素的顯示顏色來進(jìn)行。即，將顯示在監(jiān)視器畫面8上的“顯示顏色”欄中的缺陷像素的 顯示顏色與顯示在該監(jiān)視器畫面8上的“地址顏色”欄中的顯示顏色進(jìn)行比較，在兩顏色不 一致的情況下，檢查人員按下監(jiān)視器畫面8的“變更”按鈕，通過位于其上的箭頭按鈕將像 素地址向上下左右的任一方向變更，使顯示于“顯示顏色”欄中的顏色與顯示在“地址顏色” 欄中的顏色一致，在兩顏色一致的狀態(tài)下，按下“確認(rèn)”按鈕，可以將該變更了的地址作為缺 陷像素的地址。但是，在顯示顏色不一致的情況下，將與所求出的地址最接近、顯示顏色與缺陷像 素相同的像素的地址作為缺陷像素的地址需要以以下情況為前提的經(jīng)過上述校準(zhǔn)步驟、 面板傾斜校正步驟等，根據(jù)拍攝裝置10的相對于原點(diǎn)的移動距離求出的缺陷像素的Χ、Υ坐 標(biāo)與顯示面板4的排列地圖16的Χ、Υ坐標(biāo)的偏移，即使存在也停留在最低限度。這樣的前 提通常是正確成立的，但在希望進(jìn)行更準(zhǔn)確的地址檢測的情況下，可以進(jìn)行以下所示的位 移校正步驟?！次灰菩Ｕ翟诎l(fā)現(xiàn)了缺陷像素Cn時(shí)，使拍攝裝置10移動，對與缺陷像素Cn相同的X軸和/ 或Y軸坐標(biāo)上的顯示面板4的像素矩陣17的邊部附近進(jìn)行拍攝，調(diào)查該邊部附近的像素相 對于拍攝裝置10的X軸/或者Y軸原點(diǎn)向哪個(gè)方向位移了多少，在求出缺陷像素Cn的地 址時(shí)加入考慮所求得的位移方向和/或位移量就是位移校正步驟，例如在如下的情況下進(jìn) 行。圖8是例示出缺陷像素Cn和排列地圖16的另一其他位置關(guān)系的圖。例如，將缺 陷像素Cn4的X、Y坐標(biāo)應(yīng)用于排列地圖16上時(shí)，如圖8所示，與像素C(a 13,012)重疊的情況 下，在圖像15上被辨別的缺陷像素Cn4的顯示顏色如果為“R”，則像素C(al3, Μ2)的顯示顏 色也為“R”，因此即使經(jīng)過顏色校驗(yàn)步驟，缺陷像素Cn4的地址還是被判斷為(α13，β 12)。 但是，此時(shí)如果期望更加準(zhǔn)確，則可以進(jìn)行上述那樣的位移校正步驟。
即，缺陷像素Cn4的中心的X軸坐標(biāo)假如是“0. 274mm”時(shí)，移動拍攝裝置10，對與 缺陷像素Cn4相同的X軸坐標(biāo)“0. 274mm”上的顯示面板4的像素矩陣17的邊部附近進(jìn)行 拍攝。圖9示出所拍攝的狀態(tài)。如圖9所示，拍攝裝置10的基準(zhǔn)點(diǎn)S的X、Y坐標(biāo)是(0. 274mm, 0. 000mm)，基準(zhǔn)點(diǎn) S在與缺陷像素Cn4相同的X軸坐標(biāo)上，拍攝裝置10移動到成為拍攝裝置10的Y軸原點(diǎn)的 位置為止，對顯示面板4的像素矩陣17的上邊附近進(jìn)行拍攝。顯示在圖像15中的Lx線與 拍攝裝置10的Y軸原點(diǎn)(即，Y坐標(biāo)為“0”的線)一致。另外，這時(shí)，拍攝裝置10的原點(diǎn) 如上所述，與顯示面板4的像素矩陣17的最左上的像素的左上角Gp —致。在該狀態(tài)下看圖9可知，顯示面板4的像素矩陣17的上邊，在X坐標(biāo)“0. 274mm” 中，向上偏移拍攝裝置10的Y軸原點(diǎn)大約0. 75像素長(像素的縱的長度)的程度。控制 裝置9解析圖像15，求出處于X坐標(biāo)“0. 274mm”的位置的像素C(al3, M)的上邊的邊緣部的 位置，求出拍攝裝置10相對于Y軸原點(diǎn)的位移方向，并對該位移的大小進(jìn)行測量?？刂蒲b 置9將所求出的位移的方向以及位移的大小反映在缺陷像素Cn4的地址計(jì)算中，再次對缺 陷像素Cn4的X、Y坐標(biāo)進(jìn)行計(jì)算。在本實(shí)施例的情況下，被再次計(jì)算的缺陷像素Cn4的Χ、Υ 坐標(biāo)變?yōu)閺膱D8所示的位置向上移動大約0.75像素長(像素的縱向的長度)的程度的位 置，因此大部分與像素C(al3,M1)重疊，控制裝置9將當(dāng)初設(shè)定為(a 13，β 12)的缺陷像素 Cn4的地址變更為(a 13，β 11)。又，如圖8所示，將缺陷像素Cn5的Χ、Υ坐標(biāo)應(yīng)用于排列地圖16上時(shí)，大部分與像 素C(a 12，β 13)重疊，但是在像素C(al2,M3)的顯示顏色“B”與在畫像15上辨別的缺陷像 素Cn5的顯示顏色“G”不一致時(shí)，采用上述顏色校驗(yàn)步驟，判斷缺陷像素Cn5的地址是與像 素C(al2, _最接近、顯示顏色為與缺陷像素Cn5相同的“G”的像素C(all,M3)。在這樣的情 況下，如果期望更加準(zhǔn)確，則可以進(jìn)行上述那樣的位移校正步驟。即，缺陷像素Cn5的中心的Y軸坐標(biāo)假如是“1. 370mm”時(shí)，移動拍攝裝置10，對與 缺陷像素Cn5相同的Y軸坐標(biāo)“1. 370mm”上的顯示面板4的像素矩陣17的邊部附近進(jìn)行 拍攝。圖10示出所拍攝的狀態(tài)。如圖10所示，拍攝裝置10的基準(zhǔn)點(diǎn)S的X、Y坐標(biāo)是(0. 000mm, 1. 370mm)，基準(zhǔn)點(diǎn)
S在與缺陷像素Cn5相同的Y軸坐標(biāo)上，拍攝裝置10移動到成為拍攝裝置10的X軸原點(diǎn)的 位置為止，對顯示面板4的像素矩陣17的左邊附近進(jìn)行拍攝。顯示在圖像15中的Ly線與 拍攝裝置10的X軸原點(diǎn)(即，X軸坐標(biāo)為“0”的線)一致。在該狀態(tài)下看圖10可知，顯示面板4的像素矩陣17的左邊，在Y坐標(biāo)“1. 370mm”， 比拍攝裝置10的X軸原點(diǎn)向右偏移了大約1.5像素寬度(像素的橫向的長度)的程度?？?制裝置9解析圖像15，求出處于X坐標(biāo)“1. 370mm”的位置的像素C(al, 的左邊的邊緣部 的位置，求出拍攝裝置10相對于X軸原點(diǎn)的位移方向，并對該位移的大小進(jìn)行測量?？刂?裝置9將所求出的位移的方向以及位移的大小反映在缺陷像素Cn5的地址計(jì)算中，再次對 缺陷像素Cn5的X、Y坐標(biāo)進(jìn)行計(jì)算。在本實(shí)施例的情況下，被再次計(jì)算的缺陷像素Cn5的 X、Y坐標(biāo)變?yōu)閺膱D8所示的位置向右方移動大約1. 5個(gè)像素寬度(像素的橫的長度)程度 的位置，因此跨越了(a 13，β 13)和像素(a 14，β 13)這兩個(gè)像素。利用再次計(jì)算得到的 位置關(guān)系進(jìn)行顏色校驗(yàn)步驟時(shí)，顯示顏色一致且最接近的像素是像素C(a 14,013)，控制裝置9 將當(dāng)初設(shè)定為(a 11，β 13)的缺陷像素Cn5的地址變更為(α 14，β 13)。
通過進(jìn)行這樣的位移校正步驟，缺陷像素地址的檢測的精度進(jìn)一步地提高?？刂?裝置9被程序化為通過上述那樣的方法進(jìn)行位移校正步驟，控制裝置9與該程序成為一體， 形成位移校正裝置。另外，在顯示面板4上存在多個(gè)缺陷像素的情況下，可以反復(fù)進(jìn)行上述 < 拍攝裝置 向缺陷像素的移動 > 至 < 位移校正 > 的步驟。此時(shí)，可以根據(jù)前面檢測的缺陷像素的地址 值對針對后續(xù)的缺陷像素算出的地址值進(jìn)行校正。例如，也可以對于前面檢測到的欠陷畫 素Cn，在 < 地址值算出 > 步驟中，得到地址值(α η，β m)，進(jìn)行 < 顏色校驗(yàn) > 和/或〈位移 校正〉后的結(jié)果為，缺陷像素Cnm的地址值變更為(αη+χ，βπι+y)時(shí)，該變更值(+x，+y)存 儲在例如控制裝置9中，針對后續(xù)的缺陷像素Cn’算出的地址值(αρ，β q)自動地變更為 (α ρ+χ, β q+y)，將被變更了的地址作為所求出的缺陷像素的地址?！葱遁d面板〉從上述 < 拍攝裝置向缺陷像素的移動 > 至 < 地址值算出 > 的步驟反復(fù)進(jìn)行的次數(shù) 是所發(fā)現(xiàn)的缺陷像素的數(shù)量，〈顏色校驗(yàn) > 步驟和 < 位移校正 > 步驟根據(jù)需要來進(jìn)行，檢測 出所有被發(fā)現(xiàn)的缺陷圖像的地址時(shí)，通過裝載部3將顯示面板4從檢查部2上卸載下來。<裝載下一個(gè)面板X對齊>接下來，下一個(gè)檢查對象面板通過裝載部3被裝載在檢查部2上，并進(jìn)行對齊。該 對齊例如與上述對齊步驟相同，通過對齊用攝像裝置7a、7b、7c對對齊標(biāo)記14a、14b、或者 14c中的至少兩個(gè)對齊標(biāo)記進(jìn)行拍攝，并使得放置臺移動，從而使得這些至少兩個(gè)對齊用標(biāo) 記來到對齊用攝像裝置7a、7b、7c的視野內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)位置。對齊結(jié)束后，接下來進(jìn)行 < 點(diǎn)亮檢 查(目視)> 以后的步驟。另外，〈點(diǎn)亮檢查(目視)> 中，未被發(fā)現(xiàn)缺陷圖像的顯示面板4如圖3的流程圖 右側(cè)所示，通過裝載部3從檢查部2上卸載下來。接下來，通過裝載部3將新的顯示面板4 裝載在檢查部2上，進(jìn)行上述第2次以后的對齊，該對齊結(jié)束后，進(jìn)行〈點(diǎn)亮檢查(目視)> 以后的步驟。產(chǎn)業(yè)上的可利用性如上所述，采用本發(fā)明的缺陷像素檢測方法以及檢測裝置，能夠使用簡單的裝置 進(jìn)行高精度的缺陷像素的地址檢測。因此，在與以液晶顯示器面板為首的各種顯示器面板 的制造有關(guān)的產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域中，都具有很大的產(chǎn)業(yè)上的可利用性。
權(quán)利要求
一種缺陷像素地址檢測方法，其對由多個(gè)像素構(gòu)成的顯示面板的缺陷像素的地址進(jìn)行檢測，其特征在于，包括以下步驟(a)將作為檢查對象的顯示面板放置于檢查部，使其點(diǎn)亮的步驟；(b)對點(diǎn)亮了的顯示面板有無缺陷像素進(jìn)行檢查的步驟；(c)在發(fā)現(xiàn)了缺陷像素時(shí)，使所述拍攝裝置移動以對缺陷像素進(jìn)行拍攝，并在被拍攝的圖像上確定缺陷像素的位置的步驟；(d)根據(jù)與被確定的缺陷像素在圖像上的位置和所述拍攝裝置的相對于原點(diǎn)在X、Y軸方向上的移動距離、以及所述顯示面板的像素的尺寸和其排列形態(tài)有關(guān)的信息，求出被確定的缺陷像素在顯示面板上的地址的步驟。
2.如權(quán)利要求1所述的缺陷像素地址檢測方法，還包括以下步驟(e)被放置于檢查部的顯示面板為新品種面板時(shí)，使用所述拍攝裝置求出所述顯示面 板的X、Y軸方向與所述拍攝裝置的X、Y軸方向的坐標(biāo)軸的偏移量，并對其進(jìn)行存儲的校準(zhǔn) 步驟；(f)對于與所述新品種同一品種的顯示面板，根據(jù)所述坐標(biāo)軸的偏移量，對所述(d)的 步驟中的所述拍攝裝置的相對于原點(diǎn)在X、Y軸方向上的移動距離進(jìn)行校正的步驟。
3.如權(quán)利要求2所述的缺陷像素地址檢測方法，還包括以下步驟(g)在發(fā)現(xiàn)了缺陷像素時(shí)，使用所述拍攝裝置求出進(jìn)行了所述(e)的校準(zhǔn)步驟時(shí)的顯 示面板的X軸和/或Y軸與此次顯示面板的X軸和/或Y軸的偏移量作為面板傾斜校正量 的傾斜校正步驟，(h)根據(jù)所求出的面板傾斜校正量對在所述校準(zhǔn)步驟得到的坐標(biāo)軸的偏移量進(jìn)行校正 的步驟。
4.如權(quán)利要求1 3中任意一項(xiàng)所述的缺陷像素地址檢測方法，其特征在于，還包括以 下步驟(i)根據(jù)在圖像上被確定的缺陷像素的周圍像素的顏色對所述缺陷像素的顏色進(jìn)行辨 別的步驟；(j)對被辨別的所述缺陷像素的顏色和所述顯示面板的在所述(d)的步驟求出的地址 的像素的顏色進(jìn)行比較的步驟；(k)顏色校驗(yàn)步驟，在兩顏色一致的情況下，將所述地址作為所求的地址，在兩顏色不 一致的情況下，將所述顯示面板中最接近該地址、且與被辨別的缺陷像素的顏色相同的像 素的地址作為求出的地址。
5.如權(quán)利要求4所述的缺陷像素地址檢測方法，其特征在于，還包括以下步驟(1)在發(fā)現(xiàn)了缺陷像素時(shí)，使所述拍攝裝置移動，對與缺陷像素相同的X軸和/或Y軸 坐標(biāo)上的顯示面板的像素矩陣的邊部附近進(jìn)行拍攝，求出所述邊部附近的像素相對于所述 拍攝裝置的X軸和/或Y軸原點(diǎn)的位移方向和/或位移量的步驟；(m)在所述(d)或者(k)的步驟中求取缺陷像素的地址時(shí)，加入考慮所求出的位移方向 和/或位移量的位移校正步驟。
6.如權(quán)利要求4所述的缺陷像素地址檢測方法，其特征在于，還包括以下步驟(η)對于同一顯示面板，將在所述(d)步驟對前一個(gè)缺陷像素求出的缺陷像素地址和 通過上述(k)的顏色校驗(yàn)步驟求出的缺陷像素地址的地址差進(jìn)行存儲的步驟；(ο)根據(jù)所述被存儲的地址差，對在上述(d)步驟就后續(xù)的缺陷像素求出的缺陷像素 地址進(jìn)行校正的地址校正步驟。
7.如權(quán)利要求5所述的缺陷像素地址檢測方法，其特征在于，還包括以下步驟(P)對于同一顯示面板，將在所述(d)步驟對前一個(gè)缺陷像素求出的缺陷像素地址和 通過上述(m)的位移校正步驟求出的缺陷像素地址的地址差進(jìn)行存儲的步驟；(q)根據(jù)所述被存儲的地址差，對在上述(d)步驟就后續(xù)的缺陷像素求出的缺陷像素 地址進(jìn)行校正的地址校正步驟。
8.一種缺陷像素地址檢測裝置，其特征在于，包括檢查部，至少具有放置臺和探測單 元，能夠使作為檢查對象的顯示面板點(diǎn)亮；拍攝裝置，能夠相對于被放置在檢查部上的顯示 面板在X、Y軸方向上移動；測量裝置，對所述拍攝裝置的Χ、Υ軸方向的移動距離進(jìn)行測量； 顯示裝置，顯示被所述拍攝裝置拍攝的圖像；存儲裝置，對與作為檢查對象的所述顯示面板 的像素的尺寸和其排列形態(tài)有關(guān)的信息進(jìn)行存儲；地址運(yùn)算裝置，其被程序化，若被顯示于 所述顯示裝置上的圖像上缺陷像素的位置被確定，則根據(jù)所述缺陷像素在所述圖像上的位 置和此時(shí)的所述拍攝裝置的X、Y軸方向的移動距離、以及與存儲于所述存儲裝置中的所述 顯示面板的像素的尺寸和其排列形態(tài)有關(guān)的信息，求出所述顯示面板中缺陷像素的地址。
9.如權(quán)利要求8所述的缺陷像素地址檢測裝置，其特征在于，包括存儲裝置，其存儲 使所述拍攝裝置移動對被放置在檢查部上的顯示面板進(jìn)行拍攝所得到的所述顯示面板的 X、Y軸方向和所述拍攝裝置的X、Y軸方向的坐標(biāo)軸的偏移量；校準(zhǔn)裝置，其被程序化，以便 根據(jù)被存儲的所述坐標(biāo)軸的偏移量對從原點(diǎn)到缺陷像素為止的所述拍攝裝置的X、Y軸方 向的移動距離進(jìn)行校正。
10.如權(quán)利要求9所述的缺陷像素地址檢測裝置，其特征在于，包括運(yùn)算裝置，其求 出使所述拍攝裝置移動對放置在檢查部上的顯示面板進(jìn)行拍攝所得到的所述顯示面板的X 軸和/或Y軸方向和進(jìn)行了校準(zhǔn)步驟時(shí)的顯示面板的X軸和/或Y軸的偏移量作為面板傾 斜校正量；傾斜校正裝置，其被程序化，以便根據(jù)所述被求出的面板傾斜校正量對被放置在 檢查部上的所述顯示面板的X、Y坐標(biāo)軸的偏移量進(jìn)行校正。
11.如權(quán)利要求8 10中任意一項(xiàng)所述的缺陷像素地址檢測裝置，其特征在于，所述拍 攝裝置是能夠識別像素的顏色的彩色拍攝裝置，所述缺陷像素地址檢測裝置包括顏色辨 別裝置，若被顯示于所述顯示裝置上的圖像上缺陷像素的位置被確定，則根據(jù)其周圍像素 的顏色辨別所述缺陷像素的顏色；顏色比較裝置，對所述被辨別的顏色和所述顯示面板的 與所求出的缺陷像素的地址對應(yīng)的像素的顏色進(jìn)行比較；顏色校驗(yàn)裝置，在兩顏色一致的 情況下，將所述被求出的地址作為所求的缺陷像素的地址，在兩顏色不一致的情況下，選擇 與所述被求出的地址最接近、且與所述被辨別的缺陷像素的顏色相同的像素的地址，并將 其作為所求的缺陷像素的地址。
12.如權(quán)利要求11所述的缺陷像素地址檢測裝置，其特征在于，包括位移測量裝置， 在使所述拍攝裝置移動對與缺陷像素相同的X軸和/或Y軸坐標(biāo)上的顯示面板的像素矩陣 的周邊部進(jìn)行了拍攝時(shí)，求出所述邊部附近的像素相對于所述拍攝裝置的X軸和/或Y軸 原點(diǎn)的位移方向和/或位移量；位移校正裝置，根據(jù)所求出的位移方向和/或位移量變更或 者決定所述地址運(yùn)算裝置和/或顏色校正裝置所輸出的缺陷像素地址。
13.如權(quán)利要求11所述的缺陷像素地址檢測裝置，其特征在于，包括存儲裝置，對于同一顯示面板，將通過地址運(yùn)算裝置對前一個(gè)缺陷像素求出的缺陷像素地址和通過所述顏 色校驗(yàn)裝置求出的缺陷像素地址的地址差進(jìn)行存儲；地址校正裝置，根據(jù)所述被存儲的地 址差，校正通過地址運(yùn)算裝置對后續(xù)的缺陷像素求出的缺陷像素地址。
14.如權(quán)利要求12所述的缺陷像素地址檢測裝置，其特征在于，包括存儲裝置，對于 同一顯示面板，將通過地址運(yùn)算裝置對前一個(gè)缺陷像素求出的缺陷像素地址和通過所述位 移校正裝置求出的缺陷像素地址的地址差進(jìn)行存儲；地址校正裝置，根據(jù)所述被存儲的地 址差，校正通過地址運(yùn)算裝置對后續(xù)的缺陷像素求出的缺陷像素地址。
全文摘要
本發(fā)明的目的在于提供一種能以低價(jià)的手段高精度地檢測缺陷像素的地址的缺陷像素檢測方法和裝置。其使用可以對作為檢查對象的顯示面板的一部分進(jìn)行拍攝的、能夠移動的拍攝裝置，使該拍攝裝置移動對被發(fā)現(xiàn)的缺陷像素進(jìn)行拍攝，根據(jù)在被拍攝的圖像上確定了缺陷像素的位置時(shí)的該拍攝裝置的移動距離和與作為檢查對象的顯示面板的像素尺寸以及有關(guān)該排列形態(tài)的信息，來求出缺陷像素的地址。
文檔編號G01R31/00GK101996543SQ20101026818
公開日2011年3月30日 申請日期2010年8月25日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月25日
發(fā)明者東保宏宣, 井元慎一郎, 安藤秀憲 申請人:日本麥可羅尼克斯股份有限公司