專利名稱：用于電子組件測(cè)試的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于電子組件測(cè)試的方法。
背景技術(shù)：
在存在噪聲的情況下確定使得電子組件從一個(gè)狀態(tài)切換到另一狀態(tài)的信號(hào)級(jí)別的范圍通常是一項(xiàng)耗時(shí)的工作。當(dāng)前用于確定諸如比較器這樣的電子組件的這個(gè)范圍的方法通常采用線性搜索對(duì)。一個(gè)這種搜索開始于在其結(jié)果已知的輸入信號(hào)級(jí)別下運(yùn)行一組測(cè)試，以指示對(duì)于該組的所有測(cè)試，組件都處于第一狀態(tài)，并且在增大的輸入信號(hào)級(jí)別下運(yùn)行后繼的測(cè)試，直到結(jié)果指示對(duì)于當(dāng)前組中預(yù)定數(shù)目的測(cè)試，組件處于第二狀態(tài)。另一搜索開始于在其結(jié)果已知的輸入信號(hào)級(jí)別下運(yùn)行一組測(cè)試，以指示對(duì)于該組的所有測(cè)試，組件都處于第二狀態(tài)，并且在減小的輸入信號(hào)級(jí)別下運(yùn)行后繼的測(cè)試，直到結(jié)果指示對(duì)于當(dāng)前組中預(yù)定數(shù)目的測(cè)試，組件處于第一狀態(tài)。這些搜索開始于將信號(hào)級(jí)別設(shè)置為離預(yù)期的“比較器跳變點(diǎn)(trip point)”有一小段距離，并且運(yùn)行一個(gè)模式，該模式執(zhí)行一組N個(gè)比較，預(yù)期對(duì)于輸入信號(hào)的一個(gè)牽連(incrimination)方向獲得“全部失敗”結(jié)果，或者對(duì)于輸入信號(hào)的另一牽連方向獲得“全部通過”結(jié)果。如果這些狀況中的任何一種發(fā)生，則在適當(dāng)?shù)姆较蛏显黾有盘?hào)級(jí)別，并且再次運(yùn)行測(cè)試模式進(jìn)行另一組的N個(gè)比較。這些動(dòng)作被重復(fù)，直到該組比較中的一個(gè)或多個(gè)不再產(chǎn)生與搜索開始時(shí)相同的結(jié)果(“失敗”或“通過”)。
線性搜索通常是耗時(shí)的?？赏ㄟ^減小搜索的跨度和/或精確度來提高搜索速度。但是，如果優(yōu)選找到合理寬的范圍上的比較器跳變區(qū)域以使得設(shè)置點(diǎn)精度可以被量化，并且如果優(yōu)選精確地找到比較器跳變區(qū)域的邊界以使得比較噪聲可以被量化，則通常需要大量的搜索步驟。如果比較器包括多個(gè)通道而不是只有一個(gè)，則情況就會(huì)更加復(fù)雜。

發(fā)明內(nèi)容
在一個(gè)代表性實(shí)施例中，公開了一種用于測(cè)試電子組件的方法。該方法包括將電子組件連接到測(cè)試機(jī)器；指定搜索范圍限度、低到高轉(zhuǎn)變緣和高到低轉(zhuǎn)變緣的找到標(biāo)準(zhǔn)以及被指定為低到高轉(zhuǎn)變或高到低轉(zhuǎn)變的證據(jù)的包括多個(gè)測(cè)試的試驗(yàn)中的結(jié)果數(shù)目；計(jì)算初始試驗(yàn)參數(shù)的值；如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，那么執(zhí)行低到高試驗(yàn)并且基于執(zhí)行低到高試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值；如果未找到高到低轉(zhuǎn)變緣，那么執(zhí)行高到低試驗(yàn)；并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣或高到低轉(zhuǎn)變緣中的任何一個(gè)，那么基于執(zhí)行高到低試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值，并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，則從具有該狀況的步驟開始重復(fù)上述步驟。試驗(yàn)參數(shù)包括低到高試驗(yàn)的低到高區(qū)帶(band)限度和低到高試驗(yàn)值，高到低試驗(yàn)的高到低區(qū)帶限度和高到低試驗(yàn)值，以及指示高的比較結(jié)果的數(shù)目，其中初始數(shù)目是針對(duì)假定的前次試驗(yàn)的。
在另一個(gè)代表性實(shí)施例中，公開了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)設(shè)備。該計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)設(shè)備實(shí)現(xiàn)了可由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的用于測(cè)試電子組件的計(jì)算機(jī)程序指令。所述指令包括將電子組件連接到測(cè)試機(jī)器；指定搜索范圍限度、低到高轉(zhuǎn)變緣和高到低轉(zhuǎn)變緣的找到標(biāo)準(zhǔn)以及被指定為低到高轉(zhuǎn)變或高到低轉(zhuǎn)變的證據(jù)的包括多個(gè)測(cè)試的試驗(yàn)中的結(jié)果數(shù)目；計(jì)算初始試驗(yàn)參數(shù)的值；如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，那么執(zhí)行低到高試驗(yàn)并且基于執(zhí)行低到高試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值；如果未找到高到低轉(zhuǎn)變緣，那么執(zhí)行高到低試驗(yàn)；并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣或高到低轉(zhuǎn)變緣中的任何一個(gè)，那么基于執(zhí)行高到低試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值，并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，則從具有該狀況的步驟開始重復(fù)上述步驟。試驗(yàn)參數(shù)包括低到高試驗(yàn)的低到高區(qū)帶限度和低到高試驗(yàn)值，高到低試驗(yàn)的高到低區(qū)帶限度和高到低試驗(yàn)值，以及指示高的比較結(jié)果的數(shù)目，其中初始數(shù)目是針對(duì)假定的前次試驗(yàn)的。
在另一個(gè)代表性實(shí)施例中，公開了另一種用于測(cè)試電子組件的方法。該方法包括將電子組件連接到測(cè)試機(jī)器；指定搜索范圍限度以及低到高轉(zhuǎn)變緣和高到低轉(zhuǎn)變緣的找到標(biāo)準(zhǔn)；計(jì)算初始試驗(yàn)參數(shù)的值；如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，那么確保電子組件處于其低狀態(tài)，執(zhí)行低到高試驗(yàn)并且基于執(zhí)行低到高試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值；如果未找到高到低轉(zhuǎn)變緣，那么確保電子組件處于其高狀態(tài)并且執(zhí)行高到低試驗(yàn)；并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣或高到低轉(zhuǎn)變緣中的任何一個(gè)，那么基于執(zhí)行高到低試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值，并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，則從具有該狀況的步驟開始重復(fù)上述步驟。試驗(yàn)參數(shù)包括低到高試驗(yàn)的低到高區(qū)帶限度和低到高試驗(yàn)值以及高到低試驗(yàn)的高到低區(qū)帶限度和高到低試驗(yàn)值。
在另一個(gè)代表性實(shí)施例中，公開了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)設(shè)備。該計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)設(shè)備實(shí)現(xiàn)了可由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的用于測(cè)試電子組件的計(jì)算機(jī)程序指令。所述指令包括將電子組件連接到測(cè)試機(jī)器；指定搜索范圍限度以及低到高轉(zhuǎn)變緣和高到低轉(zhuǎn)變緣的找到標(biāo)準(zhǔn)；計(jì)算初始試驗(yàn)參數(shù)的值；如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，那么確保電子組件處于其低狀態(tài)，執(zhí)行低到高試驗(yàn)并且基于執(zhí)行低到高試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值；如果未找到高到低轉(zhuǎn)變緣，那么確保電子組件處于其高狀態(tài)并且執(zhí)行高到低試驗(yàn)；并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣或高到低轉(zhuǎn)變緣中的任何一個(gè)，那么基于執(zhí)行高到低試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值，并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，則重復(fù)上述步驟。試驗(yàn)參數(shù)包括低到高試驗(yàn)的低到高區(qū)帶限度和低到高試驗(yàn)值以及高到低試驗(yàn)的高到低區(qū)帶限度和高到低試驗(yàn)值。
在結(jié)合附圖理解以下詳細(xì)描述時(shí)，可明白這里給出的代表性實(shí)施例的其他方面和優(yōu)點(diǎn)。


附圖提供了可視的表示，這些可視表示將被用于更充分地描述各種代表性的實(shí)施例，并且可被本領(lǐng)域的技術(shù)人員用來更好的理解它們以及它們的內(nèi)在優(yōu)點(diǎn)。在這些圖中，類似地的標(biāo)號(hào)標(biāo)識(shí)相應(yīng)的元件。
圖1是在各種代表性實(shí)施例中描述的被附接到測(cè)試機(jī)器的電子組件的方框圖。
圖2A是在不存在滯后和噪聲的情況下組件的輸出狀態(tài)與施加的激勵(lì)的關(guān)系的一幅曲線圖。
圖2B是在存在滯后并且不存在噪聲的情況下組件的輸出狀態(tài)與施加的激勵(lì)的關(guān)系的另一幅曲線圖。
圖2C是在各種代表性實(shí)施例中描述的在不存在滯后并且存在噪聲的情況下組件的輸出狀態(tài)與施加的激勵(lì)的關(guān)系的另一幅曲線圖。
圖2D是在各種代表性實(shí)施例中描述的在不存在滯后并且存在噪聲的情況下組件的輸出狀態(tài)與施加的激勵(lì)的關(guān)系的另一幅曲線圖。
圖3是在各種代表性實(shí)施例中描述的用于獲得低轉(zhuǎn)變級(jí)別信息和高轉(zhuǎn)變級(jí)別信息的方法的流程圖。
圖4A是圖3的流程圖的一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。
圖4B是圖3的流程圖的另一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。
圖5A是圖4A的流程圖的一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。
圖5B是圖4B的流程圖的一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。
圖6A是圖4A的流程圖的一個(gè)方框的另一擴(kuò)展的圖。
圖6B是圖4B的流程圖的一個(gè)方框的另一擴(kuò)展的圖。
圖7A是圖6A的流程圖的一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。
圖7B是圖6B的流程圖的一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。
圖8A是圖4A的流程圖的另一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。
圖8B是圖4B的流程圖的另一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。
圖9A是圖8A的流程圖的一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。
圖9B是圖8A的流程圖的另一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。
圖9C是圖8B的流程圖的一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。
圖9D是圖8B的流程圖的另一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。
圖10是圖8A的流程圖的另一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。
圖11是圖3的流程圖的另一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。
具體實(shí)施例方式
如附圖中出于說明目的而示出的，這里公開了用于在存在噪聲和/或滯后的情況下確定使得諸如比較器這樣的電子組件從一個(gè)狀態(tài)切換到另一狀態(tài)的信號(hào)級(jí)別的范圍的新穎技術(shù)。這些技術(shù)包括對(duì)此信號(hào)級(jí)別范圍的上限和下限的雙端二元搜索。本搜索技術(shù)一般比通常包括一對(duì)線性搜索的現(xiàn)有技術(shù)更為快速。
在下面的詳細(xì)描述和附圖中的若干圖中，利用類似的標(biāo)號(hào)來標(biāo)識(shí)類似地元件。
圖1是在各種代表性實(shí)施例中描述的被附接到測(cè)試機(jī)器105的電子組件100的方框圖。在圖1中，電子組件100具有第一輸入110、第二輸入115和輸出120，在這里也將第一輸入110稱為參考輸入110，并且將第二輸入115稱為信號(hào)輸入115。關(guān)于參考輸入110和信號(hào)輸入115的選擇是任意的并且可以顛倒。測(cè)試機(jī)器105包括中央處理單元(CPU)125、接口電路127和存儲(chǔ)器130。軟件程序135被存儲(chǔ)在測(cè)試機(jī)器105中，并且用于測(cè)試電子組件100，在這里也將軟件程序135稱為程序135。電子組件100在這里也被稱為組件100，并且可被稱為比較器100。將參考輸入110分配為負(fù)極性并將信號(hào)輸入115分配為正極性，這種作法是任意的，并且可以顛倒。參考輸入110可被附接到地或者任何其他適當(dāng)?shù)膮⒖茧妱?shì)。
當(dāng)對(duì)組件100執(zhí)行測(cè)試時(shí)，軟件程序135被從存儲(chǔ)器130加載到中央處理單元125中，并且被執(zhí)行。從軟件程序135生成的命令被發(fā)送到接口電路127，接口電路127向電子組件100的輸入110、115施加適當(dāng)?shù)募?lì)。輸出120的狀況隨后被返回到接口電路127，然后被返回到執(zhí)行的軟件程序135。
這里所使用的組件100是一種電子組件或其他組件100，它具有兩個(gè)在輸出120處檢測(cè)到的輸出狀態(tài)，第一狀態(tài)和第二狀態(tài)。第一狀態(tài)在這里被稱為低狀態(tài)，并且通常指示組件的輸出是低電壓或低電流。第二狀態(tài)在這里被稱為高狀態(tài)，并且通常指示組件的輸出是高電壓或高電流。
圖2A是在不存在滯后和噪聲的情況下組件100的輸出狀態(tài)205與施加的激勵(lì)210的關(guān)系的另一幅曲線圖200。在圖2A的示例中，在處于轉(zhuǎn)變激勵(lì)220左側(cè)或者說小于轉(zhuǎn)變激勵(lì)220的任何施加激勵(lì)210下，組件100的輸出處于第一狀態(tài)215，在這里也稱之為低狀態(tài)215。相反，在處于轉(zhuǎn)變激勵(lì)220右側(cè)或者說大于轉(zhuǎn)變激勵(lì)220的任何施加激勵(lì)210下，組件100的輸出處于第二狀態(tài)225，在這里也稱之為高狀態(tài)225。
圖2B是在存在滯后250并且不存在噪聲的情況下組件100的輸出狀態(tài)205與施加的激勵(lì)210的關(guān)系的一幅曲線圖230。在圖2B的示例中，當(dāng)從低施加激勵(lì)210轉(zhuǎn)變到高施加激勵(lì)210時(shí)，組件100的輸出一直處于第一狀態(tài)215，直到施加激勵(lì)210達(dá)到高滯后激勵(lì)235的值為止，在該值下組件100的輸出轉(zhuǎn)變到第二狀態(tài)225。相反，當(dāng)從高施加激勵(lì)210轉(zhuǎn)變到低施加激勵(lì)210時(shí)，組件100的輸出一直處于第二狀態(tài)225，直到施加激勵(lì)210達(dá)到低滯后激勵(lì)240的值為止，在該值下組件100的輸出轉(zhuǎn)變到第一狀態(tài)215。
圖2C是在各種代表性實(shí)施例中描述的在不存在滯后250并且存在噪聲的情況下組件100的輸出狀態(tài)205與施加的激勵(lì)210的關(guān)系的另一幅曲線圖260。在圖2C的代表性實(shí)施例中，噪聲265被示為在低轉(zhuǎn)變級(jí)別270處疊加在施加激勵(lì)210上并且在高轉(zhuǎn)變級(jí)別275處疊加在施加激勵(lì)210上。注意，在較低點(diǎn)280處噪聲265的疊加將會(huì)導(dǎo)致組件100的輸出狀態(tài)205處于其低狀態(tài)215，而處于疊加中的另一激勵(lì)210將會(huì)導(dǎo)致組件100的輸出狀態(tài)205處于其高狀態(tài)225，并且在較高點(diǎn)285處噪聲265的疊加將會(huì)導(dǎo)致組件100的輸出狀態(tài)205處于其高狀態(tài)225，而處于疊加中的另一激勵(lì)210將會(huì)導(dǎo)致組件100的輸出狀態(tài)205處于其低狀態(tài)215。
低轉(zhuǎn)變級(jí)別270和高轉(zhuǎn)變級(jí)別275或者這些值之間的另一對(duì)級(jí)別是通過在多組測(cè)試中接連向組件100施加激勵(lì)210而確定的，其中每組測(cè)試包括給定激勵(lì)210下的“N”個(gè)測(cè)試，其中施加的激勵(lì)210取決于被運(yùn)行的特定測(cè)試組。在此過程中這里所使用的低轉(zhuǎn)變級(jí)別270是這樣一個(gè)施加的激勵(lì)210，在該激勵(lì)下，多組測(cè)試中的一組中的“N”個(gè)測(cè)試中除了一個(gè)測(cè)試之外的所有測(cè)試都指示組件100的輸出狀態(tài)205處于其低狀態(tài)215，并且在此過程中這里所使用的高轉(zhuǎn)變級(jí)別275是這樣一個(gè)施加的激勵(lì)210，在該激勵(lì)下，多組測(cè)試中的另一組中的“N”個(gè)測(cè)試中除了一個(gè)測(cè)試之外的所有測(cè)試都指示組件100的輸出狀態(tài)205處于其高狀態(tài)225。
圖2D是在各種代表性實(shí)施例中描述的在不存在滯后250并且存在噪聲的情況下組件100的輸出狀態(tài)205與施加的激勵(lì)210的關(guān)系的另一幅曲線圖260。在圖2D的代表性實(shí)施例中，噪聲265被示為疊加在(標(biāo)稱)轉(zhuǎn)變激勵(lì)值220上。注意，在較低點(diǎn)280處以及在小于(標(biāo)稱)轉(zhuǎn)變激勵(lì)值220的其他疊加點(diǎn)處噪聲265的疊加將會(huì)導(dǎo)致組件100的輸出狀態(tài)205處于其低狀態(tài)215，而在較高點(diǎn)285處以及在大于(標(biāo)稱)轉(zhuǎn)變激勵(lì)值220的其他疊加點(diǎn)處噪聲265的疊加將會(huì)導(dǎo)致組件100的輸出狀態(tài)205處于其高狀態(tài)225。
這里公開的方法允許用戶設(shè)置轉(zhuǎn)變閾值，該轉(zhuǎn)變閾值是被用戶指定為轉(zhuǎn)變證據(jù)的在一組測(cè)試中發(fā)生改變的比較結(jié)果的數(shù)目。參考圖2C和2D，用戶可通過使用這里公開的方法，在轉(zhuǎn)變閾值被設(shè)置為1(圖2D)或N-1(圖2C)的情況下尋找低轉(zhuǎn)變級(jí)別和高轉(zhuǎn)變級(jí)別。用戶也可將轉(zhuǎn)變閾值設(shè)置為1和N-1之間的任何值，以找出高轉(zhuǎn)變級(jí)別和低轉(zhuǎn)變級(jí)別之間被用戶認(rèn)為是在統(tǒng)計(jì)上有意義的轉(zhuǎn)變表示或者由于其他原因而使用戶關(guān)注的一對(duì)激勵(lì)級(jí)別。
除了剛才討論的搜索結(jié)果之外，這里公開的方法還提供了兩個(gè)值，即All_Lo和All_Hi，它們分別剛好位于低轉(zhuǎn)變級(jí)別270下方和剛好位于高轉(zhuǎn)變級(jí)別275上方。這些值為用戶提供了關(guān)于轉(zhuǎn)變區(qū)域的額外信息，尤其是在轉(zhuǎn)變閾值被設(shè)置為1和N-1之間的某個(gè)值時(shí)。
在不存在噪聲但存在滯后250的情況下，圖2B的低滯后激勵(lì)240和高滯后激勵(lì)235將分別對(duì)應(yīng)于圖2C和2D的低轉(zhuǎn)變級(jí)別270和高轉(zhuǎn)變級(jí)別275。
對(duì)于存在滯后250和存在噪聲265的情況下，可以組合與圖2B和2C(或者圖2B和2D)有關(guān)的特性和討論。
圖3是在各種代表性實(shí)施例中描述的用于獲得低轉(zhuǎn)變級(jí)別信息和高轉(zhuǎn)變級(jí)別信息的方法300的流程圖。在圖3的方法300中，可以獲得針對(duì)可代表低轉(zhuǎn)變級(jí)別270、高轉(zhuǎn)變級(jí)別275或者可以代表低轉(zhuǎn)變級(jí)別270和高轉(zhuǎn)變級(jí)別275之間的用戶選擇的值的低到高轉(zhuǎn)變緣和高到低轉(zhuǎn)變緣的值。圖3的流程圖是此過程的概覽。圖3的各個(gè)方框的細(xì)節(jié)的流程圖將在后續(xù)圖中描述。
以下所使用的術(shù)語(yǔ)“試驗(yàn)(trial)”是指一組測(cè)試；低到高試驗(yàn)是這樣一組測(cè)試，其中輸入首先被施加到組件100，以將其輸出120置于低狀態(tài)215中，然后輸入被改變?yōu)榈偷礁咴囼?yàn)值(L2H_Try)；低到高轉(zhuǎn)變緣是在低到高試驗(yàn)被執(zhí)行時(shí)施加到組件100的這樣一個(gè)輸入，它將導(dǎo)致被用戶指定為轉(zhuǎn)變證據(jù)的發(fā)生改變的比較結(jié)果的數(shù)目；高到低試驗(yàn)是這樣一組測(cè)試，其中輸入首先被施加到組件100，以將其輸出120置于高狀態(tài)225中，然后輸入被改變?yōu)楦叩降驮囼?yàn)值(H2L_Try)；高到低轉(zhuǎn)變緣是在高到低試驗(yàn)被執(zhí)行時(shí)施加到組件100的這樣一個(gè)輸入，它將導(dǎo)致被用戶指定為轉(zhuǎn)變證據(jù)的發(fā)生改變的比較結(jié)果的數(shù)目。當(dāng)被指定為轉(zhuǎn)變證據(jù)的發(fā)生改變的比較結(jié)果的數(shù)目被設(shè)置為1時(shí)，低到高轉(zhuǎn)變緣將代表低轉(zhuǎn)變級(jí)別270，而高到低轉(zhuǎn)變緣將代表高轉(zhuǎn)變級(jí)別275。當(dāng)被指定為轉(zhuǎn)變證據(jù)的發(fā)生改變的比較結(jié)果的數(shù)目被設(shè)置為比一組比較中比較的數(shù)目少1時(shí)(或者等于一組中比較的數(shù)目時(shí))，低到高轉(zhuǎn)變緣將代表高轉(zhuǎn)變級(jí)別275，而高到低轉(zhuǎn)變緣將代表低轉(zhuǎn)變級(jí)別270。關(guān)于被指定為轉(zhuǎn)變證據(jù)的發(fā)生改變的比較結(jié)果的數(shù)目的其他設(shè)置可被用于獲得低轉(zhuǎn)變級(jí)別270和高轉(zhuǎn)變級(jí)別275之間的中間值。低到高轉(zhuǎn)變緣和高到低轉(zhuǎn)變緣是圖3的過程的最終結(jié)果中的兩個(gè)。
當(dāng)在存在噪聲和/或滯后的情況下搜索比較器100的轉(zhuǎn)變信號(hào)級(jí)別時(shí)，并不存在一個(gè)關(guān)于轉(zhuǎn)變發(fā)生在何處的答案，相反存在一個(gè)表征比較器轉(zhuǎn)變的行為區(qū)帶。下文的目的是定位該區(qū)帶的上限和下限或者該區(qū)帶內(nèi)的一對(duì)被關(guān)注的中間點(diǎn)。這樣，必須進(jìn)行2個(gè)搜索來找到這2個(gè)點(diǎn)。將通過以下方式來把這兩個(gè)搜索結(jié)合起來進(jìn)行執(zhí)行交替的試驗(yàn)，而不是執(zhí)行一個(gè)搜索到完成以找到一個(gè)點(diǎn)，然后執(zhí)行另一搜索到完成以找到另一點(diǎn)。每當(dāng)這些試驗(yàn)中的任何一個(gè)的結(jié)果影響了任何后續(xù)的不論針對(duì)低到高轉(zhuǎn)變緣還是針對(duì)高到低轉(zhuǎn)變緣的試驗(yàn)的參數(shù)時(shí)，任何受影響的搜索參數(shù)就將被更新。在搜索早期，通常決定對(duì)針對(duì)低到高轉(zhuǎn)變緣和高到低轉(zhuǎn)變緣的試驗(yàn)值的選擇的參數(shù)將會(huì)取決于每次試驗(yàn)的結(jié)果。換言之，在一組比較被運(yùn)行之后，將有兩組搜索參數(shù)被更新。但是，在接近過程結(jié)束時(shí)，高到低搜索的一組比較的結(jié)果將只影響高到低搜索參數(shù)，而低到高搜索的一組比較的結(jié)果將只影響低到高搜索參數(shù)。因此，在接近結(jié)束時(shí)搜索變得獨(dú)立，因?yàn)閮蓚€(gè)搜索的剩余搜索范圍不再交迭。
基于產(chǎn)生轉(zhuǎn)變的比較的數(shù)目和不產(chǎn)生轉(zhuǎn)變的比較的數(shù)目來作出判定。作為示例，如果一組高到低比較的讀數(shù)全為低，則低到高搜索將被更新以使低到高搜索范圍的低端提高到等于剛才嘗試的值，并且高到低搜索將被更新以使高到低的低值提高到等于剛才嘗試的值。然后，利用先前計(jì)算出的試驗(yàn)信號(hào)級(jí)別來執(zhí)行低到高搜索。并且，如果低到高試驗(yàn)的結(jié)果全都為高，則高到低搜索的上限將被更新為低到高搜索的試驗(yàn)值，并且低到高搜索的上限將被更新到低到高搜索的試驗(yàn)值。
在方框305中，正如圖1中的示例那樣，電子組件100被附接到測(cè)試機(jī)器105。方框305隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框310。
在方框310中，用戶指定被固定用于圖3的判定的各種搜索參數(shù)的值。這些參數(shù)包括下列參數(shù)(1)將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的下限LoLim，(2)將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的上限HiLim，(3)作為過程的分辨率限度的最小搜索步長(zhǎng)Step，(3)對(duì)于每組測(cè)試將進(jìn)行的比較的數(shù)目N，這里也被稱為每組測(cè)試的比較數(shù)目，以及(4)轉(zhuǎn)變閾值，它是在一組測(cè)試中被用戶指定為轉(zhuǎn)變證據(jù)的比較結(jié)果的數(shù)目。
不論是低到高試驗(yàn)還是高到低試驗(yàn)，在任何給定的試驗(yàn)中“高”比較結(jié)果的數(shù)目由符號(hào)“HiCnt”來標(biāo)識(shí)，并且不論是低到高試驗(yàn)還是高到低試驗(yàn)，在任何給定的試驗(yàn)中“低”比較結(jié)果的數(shù)目由符號(hào)“LoCnt”來標(biāo)識(shí)。
在方框315中，計(jì)算初始搜索參數(shù)的值。這些搜索參數(shù)值在過程期間是可調(diào)節(jié)的，并且包括以下參數(shù)的值(1)全低狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Lo。全低狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Lo是被調(diào)節(jié)以使低到高試驗(yàn)的初始狀態(tài)為低狀態(tài)215的施加激勵(lì)210的值。全低狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Lo最初被設(shè)置為等于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的下限LoLim。
(2)全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi。全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi是被調(diào)節(jié)以使高到低試驗(yàn)的初始狀態(tài)為高狀態(tài)225的施加激勵(lì)210的值。全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi最初被設(shè)置為等于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的上限HiLim。
(3)低到高下限L2H_Lo。低到高下限L2H_Lo是用于搜索低到高轉(zhuǎn)變的轉(zhuǎn)變緣的低到高區(qū)帶的下限。低到高下限L2H_Lo是用于計(jì)算低到高試驗(yàn)的新試驗(yàn)值的值之一。低到高下限L2H_Lo最初被設(shè)置為等于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的下限LoLim。
(4)低到高上限L2H_Hi。低到高上限L2H_Hi是用于搜索低到高轉(zhuǎn)變的轉(zhuǎn)變緣的低到高區(qū)帶的上限。低到高上限L2H_Hi是用于計(jì)算低到高試驗(yàn)的新試驗(yàn)值的值之一。低到高上限L2H_Hi最初被設(shè)置為等于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的上限HiLim。低到高下限L2H_Lo和低到高上限L2H_Hi被總地稱為低到高區(qū)帶限度L2H_Lo、L2H_Hi。
(5)高到低下限H2L_Lo。高到低下限H2L_Lo是用于搜索高到低轉(zhuǎn)變的轉(zhuǎn)變緣的高到低區(qū)帶的下限。高到低下限H2L_Lo是用于計(jì)算高到低試驗(yàn)的新試驗(yàn)值的值之一。高到低下限H2L_Lo最初被設(shè)置為等于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的下限LoLim。
(6)高到低上限H2L_Hi。高到低上限H2L_Hi是用于搜索高到低轉(zhuǎn)變的轉(zhuǎn)變緣的高到低區(qū)帶的上限。高到低上限H2L_Hi是用于計(jì)算高到低試驗(yàn)的新試驗(yàn)值的值之一。高到低上限H2L_Hi最初被設(shè)置為等于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的上限HiLim。高到低下限H2L_Lo和高到低上限H2L_Hi被總地稱為高到低區(qū)帶限度H2L_Lo、H2L_Hi。
(7)低到高試驗(yàn)值L2H_Try。低到高試驗(yàn)值L2H_Try是當(dāng)執(zhí)行低到高試驗(yàn)時(shí)組件100的輸入被改變到的施加激勵(lì)210。低到高試驗(yàn)值L2H_Try最初被設(shè)置為等于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的下限LoLim和將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的上限HiLim之間的值。關(guān)于初始低到高試驗(yàn)值L2H_Try的一個(gè)良好選擇是[LoLim+(1/3)*(HiLim-LoLim)]。
(8)高到低試驗(yàn)值H2L_Try。高到低試驗(yàn)值H2L_Try是當(dāng)執(zhí)行高到低試驗(yàn)時(shí)組件100的輸入被改變到的施加激勵(lì)210。高到低試驗(yàn)值H2L_Try最初被設(shè)置為等于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的下限LoLim和將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的上限HiLim之間的值。關(guān)于初始高到低試驗(yàn)值H2L_Try的一個(gè)良好選擇是[HiLim-(1/3)*(HiLim-LoLim)]。關(guān)于初始低到高試驗(yàn)值L2H_Try和初始高到低試驗(yàn)值H2L_Try的這些選擇將將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的下限LoLim和將要執(zhí)行的多組測(cè)試的范圍的上限HiLim之間的區(qū)帶分割成三個(gè)相等的增量。
(9)指示“高”的比較結(jié)果的數(shù)目HiCnt。此時(shí)，指示“高”的比較結(jié)果的數(shù)目HiCnt是來自“假定”的先前試驗(yàn)的數(shù)目。指示“高”的比較結(jié)果的數(shù)目HiCnt最初被設(shè)置為等于任何正整數(shù)，例如數(shù)字1。
在該過程中，此時(shí)各種適當(dāng)?shù)能浖绦?35的控制標(biāo)志也可根據(jù)需要被設(shè)置/清除。例如，低到高“找到”標(biāo)志和高到低“找到”標(biāo)志可被清除?？捎糜谡业降偷礁咿D(zhuǎn)變緣和可用于找到高到低轉(zhuǎn)變緣的標(biāo)準(zhǔn)取決于為最小搜索步長(zhǎng)指定的值。具體而言，如果對(duì)于低到高試驗(yàn)，低到高區(qū)帶上限和下限L2H_Hi、L2H_Lo之間的絕對(duì)差小于最小搜索步長(zhǎng)，則可認(rèn)為找到了低到高轉(zhuǎn)變緣，并且如果對(duì)于高到低試驗(yàn)，高到低區(qū)帶上限和下限H2L_Hi、H2L_Lo之間的絕對(duì)差小于最小搜索步長(zhǎng)，則可認(rèn)為找到了高到低轉(zhuǎn)變緣。方框315隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框320。
在方框320中，執(zhí)行針對(duì)低到高轉(zhuǎn)變緣的比較試驗(yàn)。此試驗(yàn)的細(xì)節(jié)在與圖4A和有關(guān)附圖相關(guān)聯(lián)的描述中更充分描述。方框320隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框325。
在方框325中，執(zhí)行針對(duì)高到低轉(zhuǎn)變緣的比較試驗(yàn)。此試驗(yàn)的細(xì)節(jié)在與圖4B和有關(guān)附圖相關(guān)聯(lián)的描述中更充分描述。方框325隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框330。
方框320的低到高試驗(yàn)和方框325的高到低試驗(yàn)的順序是任意的，并且可以顛倒。在第一試驗(yàn)的結(jié)果使“另一”試驗(yàn)值無效的情況下更新“另一”試驗(yàn)值的一個(gè)數(shù)據(jù)更新操作必須保持與兩次試驗(yàn)中的第一試驗(yàn)一起進(jìn)行，并且如果首先是低到高試驗(yàn)，則需要在方框315中將LoCnt設(shè)置到非零的值。
在方框330中，如果已經(jīng)找到了低到高轉(zhuǎn)變緣和高到低轉(zhuǎn)變緣的值，則搜索完成，并且方框330將控制轉(zhuǎn)移到方框340中。否則，方框330將控制轉(zhuǎn)移到方框335。低到高轉(zhuǎn)變緣是L2H_Try，在其之后低到高上限L2H_Hi和低到高下限L2H_Lo之間的差變得小于或等于最小搜索Step，即(L2H_Hi-L2H_Lo)＜＝Step。高到低轉(zhuǎn)變緣是H2L_Try，在其之后高到低上限H2L_Hi和高到低下限H2L_Lo之間的差變得小于或等于最小搜索Step，即(H2L_Hi-H2L_Lo)＜＝Step。在方框330中可設(shè)置適當(dāng)?shù)臉?biāo)志，以指示是否找到了低到高轉(zhuǎn)變緣和/或高到低轉(zhuǎn)變緣。這種標(biāo)志在控制該方法的操作時(shí)可能有用。
在方框335中，根據(jù)需要計(jì)算(一個(gè)或多個(gè))新的試驗(yàn)值。對(duì)于(一個(gè)或多個(gè))新試驗(yàn)值的這些計(jì)算的細(xì)節(jié)在與圖11相關(guān)聯(lián)的描述中更充分描述。方框335隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框320。
在方框340中，上述過程的結(jié)果被使用。這種使用可包括將所得到的低到高轉(zhuǎn)變緣和所得到的高到低轉(zhuǎn)變緣與被測(cè)組件100的類型的規(guī)格相比較，并且如果低到高轉(zhuǎn)變緣或高到低轉(zhuǎn)變緣位于規(guī)格限度之外則丟棄組件100。這種使用還可包括從統(tǒng)計(jì)上分析所得到的低到高轉(zhuǎn)變緣和所得到的高到低轉(zhuǎn)變緣，作出適當(dāng)?shù)倪^程改變，以期增大組件100的制造產(chǎn)量。方框340隨后終止該過程。
圖4A是圖3的流程圖的一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。在圖4A中，被擴(kuò)展的方框是方框320，該方框320是執(zhí)行針對(duì)低到高轉(zhuǎn)變緣的試驗(yàn)的步驟。方框320接受來自圖3的方框315的控制，并且將控制傳遞到圖4A中的方框405。
在方框405中，如果在信號(hào)輸入115處需要組件偏置以獲得用于啟動(dòng)低到高試驗(yàn)的初始全低輸出指示，則方框405將控制轉(zhuǎn)移到方框410。方框405的細(xì)節(jié)在圖5A中示出。否則方框405將控制轉(zhuǎn)移到方框415。其細(xì)節(jié)在圖5A中示出的方框405是用來補(bǔ)償所存在的滯后。在這種情況下，首先必須確保(如果必要的話則強(qiáng)制)電子組件100處于低狀態(tài)215，這通過施加適當(dāng)?shù)钠脕韺?shí)現(xiàn)。此偏置的效果被檢查，并且如果必要的話，在每次發(fā)生方框320時(shí)偏置值被調(diào)節(jié)，這是因?yàn)橄到y(tǒng)中的隨機(jī)波動(dòng)或漂移可能導(dǎo)致偏置不再具有適當(dāng)級(jí)別。
在方框410中，組件偏置被施加到信號(hào)輸入115，以獲得用于啟動(dòng)低到高試驗(yàn)的初始全低比較結(jié)果。方框410的細(xì)節(jié)在圖6A中示出。方框410隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框415。
在方框415中，如果低到高搜索完成，則方框415退出方框320，將控制轉(zhuǎn)移到方框325。否則，方框415將控制轉(zhuǎn)移到方框420。
在方框420中，低到高試驗(yàn)被執(zhí)行。在執(zhí)行低到高試驗(yàn)時(shí)，指示高和低的比較結(jié)果的數(shù)目(分別是HiCnt和LoCnt)被設(shè)置為等于零。然后將信號(hào)輸入115的值設(shè)置為低到高試驗(yàn)值(L2H_Try)，并且通過對(duì)組件100的輸出120的值進(jìn)行單獨(dú)的觀察來執(zhí)行一組比較。對(duì)于每次比較(觀察)，如果組件100的輸出120處于高狀態(tài)225，則指示高的結(jié)果的數(shù)目(HiCnt)被遞增1，而如果組件100的輸出120處于低狀態(tài)215，則指示低的結(jié)果的數(shù)目(LoCnt)被遞增1。方框420隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框425。
在方框425中，按照方框420的低到高試驗(yàn)的結(jié)果，更新搜索限度參數(shù)。對(duì)(一個(gè)或多個(gè))搜索限度參數(shù)的這一更新的細(xì)節(jié)在與圖8A相關(guān)聯(lián)的描述中更充分地描述。方框425隨后退出方框320，將控制轉(zhuǎn)移到方框325。
圖4B是圖3的流程圖的另一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。在圖4B中，被擴(kuò)展的方框是方框325，該方框325是執(zhí)行針對(duì)高到低轉(zhuǎn)變緣的試驗(yàn)的步驟。方框325接受來自圖3的方框320的控制，并且將控制傳遞到圖4B中的方框455。
在方框455中，如果在信號(hào)輸入115處需要組件偏置以獲得用于啟動(dòng)高到低試驗(yàn)的初始全高輸出指示，則方框455將控制轉(zhuǎn)移到方框460。方框455的細(xì)節(jié)在圖5B中示出。否則方框455將控制轉(zhuǎn)移到方框465。其細(xì)節(jié)在圖5B中示出的方框455是用來補(bǔ)償所存在的滯后。在這種情況下，首先必須確保(如果必要的話則強(qiáng)制)電子組件100處于高狀態(tài)225，這通過施加適當(dāng)?shù)钠脕韺?shí)現(xiàn)。此偏置的效果被檢查，并且如果必要的話，在每次發(fā)生方框325時(shí)偏置值被調(diào)節(jié)，這是因?yàn)橄到y(tǒng)中的隨機(jī)波動(dòng)或漂移可能導(dǎo)致偏置不再具有適當(dāng)級(jí)別。
在方框460中，組件偏置被施加到信號(hào)輸入115，以獲得用于啟動(dòng)高到低試驗(yàn)的初始全高比較結(jié)果。方框460的細(xì)節(jié)在圖6B中示出。方框460隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框465。
在方框465中，如果高到低搜索完成，則方框465退出方框325，將控制轉(zhuǎn)移到方框330。否則，方框465將控制轉(zhuǎn)移到方框470。
在方框470中，高到低試驗(yàn)被執(zhí)行。在執(zhí)行高到低試驗(yàn)時(shí)，指示高和低的比較結(jié)果的數(shù)目(分別是HiCnt和LoCnt)被設(shè)置為等于零。然后將信號(hào)輸入115的值設(shè)置為高到低試驗(yàn)值(H2L_Try)，并且通過對(duì)組件100的輸出120的值進(jìn)行單獨(dú)的觀察來執(zhí)行一組比較。對(duì)于每次比較(觀察)，如果組件100的輸出120處于高狀態(tài)225，則指示高的結(jié)果的數(shù)目(HiCnt)被遞增1，而如果組件100的輸出120處于低狀態(tài)215，則指示低的結(jié)果的數(shù)目(LoCnt)被遞增1。方框470隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框475。
在方框475中，按照方框470的高到低試驗(yàn)的結(jié)果，更新搜索限度參數(shù)。對(duì)(一個(gè)或多個(gè))搜索限度參數(shù)的這一更新的細(xì)節(jié)在與圖8B相關(guān)聯(lián)的描述中更充分地描述。方框475隨后退出方框325，將控制轉(zhuǎn)移到方框320。
圖5A是圖4A的流程圖的一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。在圖5A中，被擴(kuò)展的方框是方框405，該方框405是詢問低到高試驗(yàn)是否需要偏置的判決步驟。
方框405接受來自圖4A的方框320的輸入的控制，并且將控制傳遞到圖5A中的方框505。
在方框505中，如果上次試驗(yàn)的所有結(jié)果都處于低狀態(tài)215，即HiCnt＝0，則方框505將控制轉(zhuǎn)移到圖4A以及圖5A中示出的方框405的被標(biāo)注“否”的輸出。否則，方框505將控制轉(zhuǎn)移到方框510。
在方框510中，如果低到高轉(zhuǎn)變緣已被找到，即低到高搜索完成，則方框510將控制轉(zhuǎn)移到圖4A以及圖5A中示出的方框405的被標(biāo)注“否”的輸出。否則，方框510將控制轉(zhuǎn)移到方框圖4A以及圖5A中示出的方框405的被標(biāo)注“是”的輸出?？捎糜谡业降偷礁咿D(zhuǎn)變緣的標(biāo)準(zhǔn)取決于為最小搜索步長(zhǎng)指定的值。具體而言，如果對(duì)于低到高試驗(yàn)，低到高區(qū)帶上限和下限L2H_Hi、L2H_Lo之間的絕對(duì)差小于最小搜索步長(zhǎng)，則可認(rèn)為找到了低到高轉(zhuǎn)變緣。如果符合此標(biāo)準(zhǔn)或適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)，則低到高轉(zhuǎn)變緣270、275被標(biāo)記為找到。
圖5B是圖4B的流程圖的一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。在圖5B中，被擴(kuò)展的方框是方框455，該方框455是詢問高到低試驗(yàn)是否需要偏置的判決步驟。
方框455接受來自圖4B的方框325的輸入的控制，并且將控制傳遞到圖5B中的方框555。
在方框555中，如果上次試驗(yàn)的所有結(jié)果都處于高狀態(tài)225，即LoLim＝0，則方框555將控制轉(zhuǎn)移到圖4B以及圖5B中示出的方框455的被標(biāo)注“否”的輸出。否則，方框555將控制轉(zhuǎn)移到方框560。
在方框560中，如果高到低轉(zhuǎn)變緣已被找到，即高到低搜索完成，則方框560將控制轉(zhuǎn)移到圖4B以及圖5B中示出的方框455的被標(biāo)注“否”的輸出。否則，方框560將控制轉(zhuǎn)移到方框圖4B以及圖5B中示出的方框455的被標(biāo)注“是”的輸出。可用于找到高到低轉(zhuǎn)變緣的標(biāo)準(zhǔn)取決于為最小搜索步長(zhǎng)指定的值。具體而言，如果對(duì)于高到低試驗(yàn)，高到低區(qū)帶上限和下限H2L_Hi、H2L_Lo之間的絕對(duì)差小于最小搜索步長(zhǎng)，則可認(rèn)為找到了高到低轉(zhuǎn)變緣。如果符合此標(biāo)準(zhǔn)或適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)，則高到低轉(zhuǎn)變緣270、275被標(biāo)記為找到。
圖6A是圖4A的流程圖的一個(gè)方框的另一擴(kuò)展的圖。在圖6A中，被擴(kuò)展的方框是方框410，該方框410是用于施加信號(hào)輸入115處所需的組件偏置以獲得用于啟動(dòng)低到高試驗(yàn)的初始全低比較結(jié)果的方框。方框410接受來自圖4A的方框405的控制，并將控制傳遞到圖6A中的方框605中。
在方框605中，如果上一組比較的任何結(jié)果處于高狀態(tài)225，即HiCnt＞0，則方框605將控制轉(zhuǎn)移到方框610。否則，方框605將控制轉(zhuǎn)移到圖4A中的方框415。
在方框610中，利用All_Lo的當(dāng)前值執(zhí)行一組比較。方框610隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框615。
在方框615中，如果上一組比較中的任何結(jié)果處于高狀態(tài)225，即HiCnt＞0，則方框615將控制轉(zhuǎn)移到方框620。否則，方框615將控制轉(zhuǎn)移到圖4A中的方框415。
在方框620中，如果全低狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Lo等于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的下限LoLim，則方框620將控制轉(zhuǎn)移到圖4A中的方框415。否則，方框620將控制轉(zhuǎn)移到方框625。注意，全低狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Lo將不會(huì)被降低到低于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的下限LoLim。
在方框625中，全低狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Lo的值被調(diào)低，調(diào)低幅度等于最小搜索步長(zhǎng)，但是將不會(huì)被降低到低于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的下限LoLim。方框625的細(xì)節(jié)在圖7A中示出。方框625隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框610。
圖6B是圖4B的流程圖的一個(gè)方框的另一擴(kuò)展的圖。在圖6B中，被擴(kuò)展的方框是方框460，該方框410是用于施加信號(hào)輸入115處所需的組件偏置以獲得用于啟動(dòng)高到低試驗(yàn)的初始全高比較結(jié)果的方框。方框460接受來自圖4B的方框455的控制，并將控制傳遞到圖6B中的方框655中。
在方框655中，如果上一組比較的任何結(jié)果處于低狀態(tài)215，即LoCnt＞0，則方框655將控制轉(zhuǎn)移到方框660。否則，方框655將控制轉(zhuǎn)移到圖4B中的方框465。
在方框660中，利用All_Hi的當(dāng)前值執(zhí)行一組比較。方框660隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框665。
在方框665中，如果上一組比較中的任何結(jié)果處于低狀態(tài)215，即LoCnt＞0，則方框665將控制轉(zhuǎn)移到方框670。否則，方框665將控制轉(zhuǎn)移到圖4B中的方框465。
在方框670中，如果全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi等于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的上限HiLim，則方框670將控制轉(zhuǎn)移到圖4B中的方框465。否則，方框670將控制轉(zhuǎn)移到方框675。注意，全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi將不會(huì)被升高到高于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的上限HiLim。
在方框675中，全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi的值被調(diào)高，調(diào)高幅度等于最小搜索步長(zhǎng)，但是將不會(huì)被升高到高于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的上限HiLim。方框675的細(xì)節(jié)在圖7B中示出。方框675隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框660。
圖7A是圖6A的流程圖的一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。在圖7A中，被擴(kuò)展的方框是方框625，該方框625是用于將全低狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Lo的值調(diào)低的方框。方框625接受來自圖6A的方框620的控制，并且將控制傳遞到圖7A中的方框705。
在方框705中，如果全低狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Lo的值大于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的下限LoLim加上最小搜索步長(zhǎng)的值，則方框705將控制轉(zhuǎn)移到方框710。否則方框705將控制轉(zhuǎn)移到方框715。
在方框710中，全低狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Lo被減小，減小幅度等于最小搜索步長(zhǎng)的值。方框710隨后將控制轉(zhuǎn)移到圖6A中的方框610。
在方框715中，全低狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Lo被設(shè)置為等于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的下限LoLim。方框715隨后將控制轉(zhuǎn)移到圖6A中的方框610。
圖7B是圖6B的流程圖的一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。在圖7B中，被擴(kuò)展的方框是方框675，該方框675是用于將全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi的值調(diào)高的方框。方框675接受來自圖6B的方框670的控制，并且將控制傳遞到圖7B中的方框755。
在方框755中，如果全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi的值小于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的上限HiLim減去最小搜索步長(zhǎng)的值，則方框755將控制轉(zhuǎn)移到方框760。否則方框755將控制轉(zhuǎn)移到方框765。
在方框760中，全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi被增大，增大幅度等于最小搜索步長(zhǎng)的值。方框760隨后將控制轉(zhuǎn)移到圖6B中的方框660。
在方框765中，全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi被設(shè)置為等于將要執(zhí)行的多組測(cè)試的搜索范圍的上限HiLim。方框765隨后將控制轉(zhuǎn)移到圖6B中的方框660。
圖8A是圖4A的流程圖的另一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。在圖8A中，被擴(kuò)展的方框是方框425，該方框425是基于低到高試驗(yàn)的結(jié)果更新搜索限度參數(shù)的方框。
圖8A的流程圖包含三個(gè)可替換的更新場(chǎng)景。在執(zhí)行每次低到高試驗(yàn)之后，可能得到如下的三種結(jié)果之一(1)獲得的高結(jié)果如此之少，以至于試驗(yàn)值明顯低于用戶正在搜索的轉(zhuǎn)變范圍；(2)獲得的低結(jié)果如此之少，以至于試驗(yàn)值明顯高于用戶正在搜索的轉(zhuǎn)變范圍，以及(3)高結(jié)果和低結(jié)果的混合使得無法聲稱試驗(yàn)值明顯低于或明顯高于轉(zhuǎn)變范圍，因此試驗(yàn)值處于轉(zhuǎn)變范圍的邊緣之間的某處。三種可能結(jié)果中的第一種結(jié)果被方框805和807用于更新搜索參數(shù)值。三種可能結(jié)果中的第二種結(jié)果被方框810和812用于更新搜索參數(shù)值。而第三種結(jié)果被方框815、817、820和822用于更新搜索參數(shù)值。注意，方框807在圖9A中被擴(kuò)展，并且方框812在圖9B中被擴(kuò)展。
方框425接受來自圖4A的方框420的控制，并且將控制傳遞到圖8A中的方框805。
在方框805中，如果在前次試驗(yàn)中“高”比較結(jié)果的數(shù)目HiCnt小于被指定為轉(zhuǎn)變證據(jù)的轉(zhuǎn)變閾值，則方框805將控制轉(zhuǎn)移到方框807。否則，方框805將控制轉(zhuǎn)移到方框810。
在方框807中，基于低到高試驗(yàn)值L2H_Try、低到高下限L2H_Lo和高到低下限H2L_Lo的當(dāng)前值來調(diào)節(jié)低到高下限L2H_Lo和高到低下限H2L_Lo的值。對(duì)于低到高下限L2H_Lo和高到低下限H2L_Lo的新值的這些計(jì)算的細(xì)節(jié)在與圖9A相關(guān)聯(lián)的描述中更充分地描述。方框807針對(duì)被假定為基于轉(zhuǎn)變閾值的預(yù)定值而發(fā)生轉(zhuǎn)變的轉(zhuǎn)變區(qū)的下邊緣位于前次試驗(yàn)的低到高試驗(yàn)值L2H_Try上方的情況。方框807隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框825。
在方框810中，如果前次試驗(yàn)中“低”比較結(jié)果的數(shù)目LoLim小于被指定為轉(zhuǎn)變證據(jù)的轉(zhuǎn)變閾值，則方框810將控制轉(zhuǎn)移到方框812。否則，方框810將控制轉(zhuǎn)移到方框815。
在方框812中，基于低到高試驗(yàn)值L2H_Try、低到高上限L2H_Hi和高到低上限H2L_Hi的當(dāng)前值來調(diào)節(jié)低到高上限L2H_Hi和高到低上限H2L_Hi的值。對(duì)于低到高上限L2H_Hi和高到低上限H2L_Hi的新值的這些計(jì)算的細(xì)節(jié)在與圖9B相關(guān)聯(lián)的描述中更充分地描述。方框812針對(duì)被假定為基于轉(zhuǎn)變閾值的預(yù)定值假定發(fā)生轉(zhuǎn)變的轉(zhuǎn)變區(qū)的下邊緣位于前次試驗(yàn)的低到高試驗(yàn)值L2H_Try下方的情況。方框812隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框825。
在方框815中，如果低到高試驗(yàn)值L2H_Try的當(dāng)前值小于低到高上限L2H_Hi的當(dāng)前值，則方框815將控制轉(zhuǎn)移到方框817。否則方框815將控制轉(zhuǎn)移到方框820。
方框815、817、820和822針對(duì)這樣的情況，在這種情況下，前次試驗(yàn)的低到高試驗(yàn)值L2H_Try被假定為位于被假定為基于轉(zhuǎn)變閾值的預(yù)定值而發(fā)生轉(zhuǎn)變的轉(zhuǎn)變區(qū)的下邊緣的上方并且位于也被假定為基于轉(zhuǎn)變閾值的預(yù)定值而發(fā)生轉(zhuǎn)變的轉(zhuǎn)變區(qū)的上邊緣的下方。
在方框817中，低到高上限L2H_Hi的值被設(shè)置為等于前次試驗(yàn)的低到高試驗(yàn)值L2H_Try的值。方框817隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框820。
在方框820中，如果低到高試驗(yàn)值L2H_Try的當(dāng)前值大于高到低下限H2L_Lo的當(dāng)前值，則方框820將控制轉(zhuǎn)移到方框822。否則，方框820將控制轉(zhuǎn)移到方框825。
在方框822中，高到低下限H2L_Lo的值被設(shè)置為等于前次試驗(yàn)的低到高試驗(yàn)值L2H_Try的值。方框822隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框825。
在方框825中，如果高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值被無效，則方框825將控制轉(zhuǎn)移到方框827。判定高到低試驗(yàn)值H2L_Try的有效性的細(xì)節(jié)在與圖10相關(guān)聯(lián)的描述中更充分地描述。否則，方框825將控制轉(zhuǎn)移到方框830。
在方框827中，高到低試驗(yàn)值H2L_Try的值被設(shè)置為等于高到低上限H2L_Hi和高到低下限H2L_Lo的當(dāng)前值的均值。方框827隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框830。
在方框830中，如果前次試驗(yàn)中“高”比較結(jié)果的數(shù)目HiCnt等于零，則方框830將控制轉(zhuǎn)移到方框835。否則，方框830將控制轉(zhuǎn)移到方框840。
在方框835中，如果低到高試驗(yàn)值L2H_Try的當(dāng)前值大于全低狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Lo的當(dāng)前值，則方框835將控制轉(zhuǎn)移到方框837。否則，方框835將控制轉(zhuǎn)移到圖3中的方框325(另見圖4A中的方框425)。
在方框837中，全低狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Lo的值被設(shè)置為等于低到高試驗(yàn)值L2H_Try的當(dāng)前值。方框837隨后將控制轉(zhuǎn)移到圖3中的方框325(另見圖4A中的方框425)。方框837是通過方框830和835到達(dá)的，此時(shí)方框837中的結(jié)果是全低狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Lo被拉向里，即拉高。完成這一點(diǎn)是為了使得當(dāng)組件100被偏置時(shí)不會(huì)強(qiáng)制在寬范圍上施加信號(hào)。隨著搜索的進(jìn)行，越來越小的信號(hào)變動(dòng)被施加，因此向系統(tǒng)中引入的噪聲盡可能得小。
在方框840中，如果前次試驗(yàn)中“低”比較結(jié)果的數(shù)目LoCnt等于零，則方框840將控制轉(zhuǎn)移到方框845。否則，方框840將控制轉(zhuǎn)移到圖3中的方框325(另見圖4A中的方框425)。
在方框845中，如果低到高試驗(yàn)值L2H_Try的當(dāng)前值小于全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi的當(dāng)前值，則方框845將控制轉(zhuǎn)移到方框847。否則，方框845將控制轉(zhuǎn)移到圖3中的方框325(另見圖4A中的方框425)。
在方框847中，全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi的值被設(shè)置為等于低到高試驗(yàn)值L2H_Try的當(dāng)前值。方框847隨后將控制轉(zhuǎn)移到圖3中的方框325(另見圖4A中的方框425)。方框847是通過方框840和845到達(dá)的，此時(shí)方框847中的結(jié)果是全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi被拉向里，即拉低。完成這一點(diǎn)是為了使得當(dāng)組件100被偏置時(shí)不會(huì)強(qiáng)制在寬范圍上施加信號(hào)。隨著搜索的進(jìn)行，越來越小的信號(hào)變動(dòng)被施加，因此向系統(tǒng)中引入的噪聲盡可能得小。
圖8B是圖4B的流程圖的另一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。在圖8B中，被擴(kuò)展的方框是方框475，該方框475是基于高到低試驗(yàn)的結(jié)果更新搜索限度參數(shù)的方框。
圖8B的流程圖包含三個(gè)可替換的更新場(chǎng)景。在執(zhí)行每次高到低試驗(yàn)之后，可能得到如下的三種結(jié)果之一(1)獲得的低結(jié)果如此之少，以至于試驗(yàn)值明顯高于用戶正在搜索的轉(zhuǎn)變范圍；(2)獲得的高結(jié)果如此之少，以至于試驗(yàn)值明顯低于用戶正在搜索的轉(zhuǎn)變范圍，以及(3)高結(jié)果和低結(jié)果的混合使得無法聲稱試驗(yàn)值明顯低于或明顯高于轉(zhuǎn)變范圍，因此試驗(yàn)值處于轉(zhuǎn)變范圍的邊緣之間的某處。三種可能結(jié)果中的第一種結(jié)果被方框855和857用于更新搜索參數(shù)值。三種可能結(jié)果中的第二種結(jié)果被方框860和862用于更新搜索參數(shù)值。而第三種結(jié)果被方框865、867、870和872用于更新搜索參數(shù)值。注意，方框857在圖9C中被擴(kuò)展，并且方框862在圖9D中被擴(kuò)展。
方框475接受來自圖4B的方框470的控制，并且將控制傳遞到圖8B中的方框855。
在方框855中，如果在前次試驗(yàn)中“低”比較結(jié)果的數(shù)目LoCnt小于被指定為轉(zhuǎn)變證據(jù)的轉(zhuǎn)變閾值，則方框855將控制轉(zhuǎn)移到方框857。否則，方框855將控制轉(zhuǎn)移到方框860。
在方框857中，基于高到低試驗(yàn)值H2L_Try、低到高上限L2H_Hi和高到低上限H2L_Hi的當(dāng)前值來調(diào)節(jié)低到高上限L2H_Hi和高到低上限H2L_Hi的值。對(duì)于低到高上限L2H_Hi和高到低上限H2L_Hi的新值的這些計(jì)算的細(xì)節(jié)在與圖9C相關(guān)聯(lián)的描述中更充分地描述。方框857針對(duì)被假定為基于轉(zhuǎn)變閾值的預(yù)定值而發(fā)生轉(zhuǎn)變的轉(zhuǎn)變區(qū)的上邊緣位于前次試驗(yàn)的高到低試驗(yàn)值H2L_Try下方的情況。方框857隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框880。
在方框860中，如果前次試驗(yàn)中“高”比較結(jié)果的數(shù)目HiCnt小于被指定為轉(zhuǎn)變證據(jù)的轉(zhuǎn)變閾值，則方框860將控制轉(zhuǎn)移到方框862。否則，方框860將控制轉(zhuǎn)移到方框865。
在方框862中，基于高到低試驗(yàn)值H2L_Try、低到高下限L2H_Lo和高到低下限H2L_Lo的當(dāng)前值來調(diào)節(jié)低到高下限L2H_Lo和高到低下限H2L_Lo的值。對(duì)于低到高下限L2H_Lo和高到低下限H2L_Lo的新值的這些計(jì)算的細(xì)節(jié)在與圖9D相關(guān)聯(lián)的描述中更充分地描述。方框862針對(duì)被假定為基于轉(zhuǎn)變閾值的預(yù)定值而發(fā)生轉(zhuǎn)變的轉(zhuǎn)變區(qū)的下邊緣位于前次試驗(yàn)的高到低試驗(yàn)值H2L_Try上方的情況。方框862隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框875。
在方框865中，如果高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值小于低到高上限L2H_Hi的當(dāng)前值，則方框865將控制轉(zhuǎn)移到方框867。否則方框865將控制轉(zhuǎn)移到方框870。
方框865、867、870和872針對(duì)這樣的情況，在這種情況下，前次試驗(yàn)的高到低試驗(yàn)值H2L_Try被假定為位于被假定為基于轉(zhuǎn)變閾值的預(yù)定值而發(fā)生轉(zhuǎn)變的轉(zhuǎn)變區(qū)的下邊緣的上方并且位于也被假定為基于轉(zhuǎn)變閾值的預(yù)定值而發(fā)生轉(zhuǎn)變的轉(zhuǎn)變區(qū)的上邊緣的下方。
在方框867中，低到高上限L2H_Hi的值被設(shè)置為等于前次試驗(yàn)的高到低試驗(yàn)值H2L_Try的值。方框867隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框870。在方框870中，如果高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值大于高到低下限H2L_Lo的當(dāng)前值，則方框870將控制轉(zhuǎn)移到方框872。否則，方框870將控制轉(zhuǎn)移到方框880。
在方框872中，高到低下限H2L_Lo的值被設(shè)置為等于前次試驗(yàn)的高到低試驗(yàn)值H2L_Try的值。方框872隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框880。
在方框880中，如果前次試驗(yàn)中“低”比較結(jié)果的數(shù)目LoCnt等于零，則方框880將控制轉(zhuǎn)移到方框885。否則，方框880將控制轉(zhuǎn)移到方框890。
在方框885中，如果高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值大于全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi的當(dāng)前值，則方框885將控制轉(zhuǎn)移到方框887。否則，方框885將控制轉(zhuǎn)移到圖3中的方框330(另見圖4B中的方框475)。
在方框887中，全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi的值被設(shè)置為等于高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值。方框887隨后將控制轉(zhuǎn)移到圖3中的方框330(另見圖4B中的方框475)。方框887是通過方框880和885到達(dá)的，此時(shí)方框887中的結(jié)果是全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi被拉向里，即拉低。完成這一點(diǎn)是為了使得當(dāng)組件100被偏置時(shí)不會(huì)強(qiáng)制在寬范圍上施加信號(hào)。隨著搜索的進(jìn)行，越來越小的信號(hào)變動(dòng)被施加，因此向系統(tǒng)中引入的噪聲盡可能得小。
在方框890中，如果前次試驗(yàn)中“高”比較結(jié)果的數(shù)目HiCnt等于零，則方框890將控制轉(zhuǎn)移到方框895。否則，方框890將控制轉(zhuǎn)移到圖3中的方框330(另見圖4B中的方框475)。
在方框895中，如果高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值大于全低狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Lo的當(dāng)前值，則方框895將控制轉(zhuǎn)移到方框897。否則，方框895將控制轉(zhuǎn)移到圖3中的方框335(另見圖4B中的方框475)。
在方框897中，全低狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Lo的值被設(shè)置為等于高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值。方框897隨后將控制轉(zhuǎn)移到圖3中的方框330(另見圖4B中的方框475)。方框897是通過方框890和895到達(dá)的，此時(shí)方框897中的結(jié)果是全低狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Lo被拉向里，即拉高。完成這一點(diǎn)是為了使得當(dāng)組件100被偏置時(shí)不會(huì)強(qiáng)制在寬范圍上施加信號(hào)。隨著搜索的進(jìn)行，越來越小的信號(hào)變動(dòng)被施加，因此向系統(tǒng)中引入的噪聲盡可能得小。
圖9A是圖8A的流程圖的一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。在圖9A中，被擴(kuò)展的方框是方框807，該方框807是基于低到高試驗(yàn)值L2H_Try、低到高下限L2H_Lo和高到低下限H2L_Lo調(diào)節(jié)低到高下限L2H_Lo和高到低下限H2L_Lo的值的方框。方框807接受來自圖8A中所示的方框805的被標(biāo)注“是”的輸出的控制，并且將控制傳遞到圖9A中的方框905。
在方框905中，如果低到高試驗(yàn)值L2H_Try的當(dāng)前值大于低到高下限L2H_Lo的當(dāng)前值，則方框905將控制轉(zhuǎn)移到方框910。否則，方框905將控制轉(zhuǎn)移到方框915。
在方框910中，低到高下限L2H_Lo的值被設(shè)置為等于低到高試驗(yàn)值L2H_Try的當(dāng)前值。方框910隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框915。
在方框915中，如果低到高試驗(yàn)值L2H_Try的當(dāng)前值大于高到低下限H2L_Lo的當(dāng)前值，則方框915將控制轉(zhuǎn)移到方框920。否則，方框915將控制轉(zhuǎn)移到圖8A中的方框825。
在方框920中，高到低下限H2L_Lo的值被設(shè)置為等于低到高試驗(yàn)值L2H_Try的當(dāng)前值。方框920隨后將控制轉(zhuǎn)移到圖8A中的方框825。
圖9B是圖8A的流程圖的另一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。在圖9B中，被擴(kuò)展的方框是方框812，該方框812是基于低到高試驗(yàn)值L2H_Try、低到高上限L2H_Hi和高到低上限H2L_Hi調(diào)節(jié)低到高上限L2H_Hi和高到低上限H2L_Hi的值的方框。方框812接受來自圖8A中所示的方框810的被標(biāo)注“是”的輸出的控制，并且將控制傳遞到圖9B中的方框925。
在方框925中，如果低到高試驗(yàn)值L2H_Try的當(dāng)前值小于低到高上限L2H_Hi的當(dāng)前值，則方框925將控制轉(zhuǎn)移到方框930。否則，方框925將控制轉(zhuǎn)移到方框935。
在方框930中，低到高上限L2H_Hi的值被設(shè)置為等于低到高試驗(yàn)值L2H_Try的當(dāng)前值。方框930隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框935。
在方框935中，如果低到高試驗(yàn)值L2H_Try的當(dāng)前值小于高到低上限H2L_Hi的當(dāng)前值，則方框935將控制轉(zhuǎn)移到方框940。否則，方框935將控制轉(zhuǎn)移到圖8A中的方框825。
在方框940中，高到低上限H2L_Hi的值被設(shè)置為等于低到高試驗(yàn)值L2H_Try的當(dāng)前值。方框940隨后將控制轉(zhuǎn)移到圖8A中的方框825。
圖9C是圖8B的流程圖的一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。在圖9C中，被擴(kuò)展的方框是方框857，該方框857是基于高到低試驗(yàn)值H2L_Try、低到高上限L2H_Hi和高到低上限H2L_Hi調(diào)節(jié)低到高上限L2H_Hi和高到低上限H2L_Hi的值的方框。方框857接受來自圖8B中所示的方框855的被標(biāo)注“是”的輸出的控制，并且將控制傳遞到圖9C中的方框955。
在方框955中，如果高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值小于低到高上限L2H_Hi的當(dāng)前值，則方框955將控制轉(zhuǎn)移到方框960。否則，方框955將控制轉(zhuǎn)移到方框965。
在方框960中，低到高上限L2H_Hi的值被設(shè)置為等于高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值。方框960隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框965。
在方框965中，如果高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值小于高到低上限H2L_Hi的當(dāng)前值，則方框965將控制轉(zhuǎn)移到方框970。否則，方框965將控制轉(zhuǎn)移到圖8B中的方框880。
在方框970中，高到低上限H2L_Hi的值被設(shè)置為等于高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值。方框970隨后將控制轉(zhuǎn)移到圖8B中的方框880。
圖9D是圖8B的流程圖的另一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。在圖9D中，被擴(kuò)展的方框是方框862，該方框862是基于高到低試驗(yàn)值H2L_Try、低到高下限L2H_Lo和高到低下限H2L_Lo調(diào)節(jié)低到高下限L2H_Lo和高到低下限H2L_Lo的值的方框。方框862接受來自圖8B中所示的方框860的被標(biāo)注“是”的輸出的控制，并且將控制傳遞到圖9D中的方框975。
在方框975中，如果高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值大于低到高下限L2H_Lo的當(dāng)前值，則方框975將控制轉(zhuǎn)移到方框980。否則，方框975將控制轉(zhuǎn)移到方框985。
在方框980中，低到高下限L2H_Lo的值被設(shè)置為等于高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值。方框980隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框985。
在方框985中，如果高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值大于高到低下限H2L_Lo的當(dāng)前值，則方框985將控制轉(zhuǎn)移到方框990。否則，方框985將控制轉(zhuǎn)移到圖8B中的方框880。
在方框990中，高到低下限H2L_Lo的值被設(shè)置為等于高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值。方框990隨后將控制轉(zhuǎn)移到圖8B中的方框880。
圖10是圖8A的流程圖的另一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。在圖10中，被擴(kuò)展的方框是方框825，該方框825是判定高到低試驗(yàn)值H2L_Try的有效性的方框。方框825接受來自圖8A所示的方框820的被標(biāo)注“否”的輸出和來自方框807、812和822的輸出的控制，并且將控制傳遞到圖10中的方框1010。
在方框1010中，如果高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值大于高到低下限H2L_Lo的當(dāng)前值，則方框1010將控制轉(zhuǎn)移到方框1020。否則方框1010將控制轉(zhuǎn)移到方框1030。
在方框1020中，如果高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值小于高到低上限H2L_Hi的當(dāng)前值，則方框1020將控制轉(zhuǎn)移到圖8A中的方框830。否則，方框1020將控制轉(zhuǎn)移到方框1030。
在方框1030中，如果高到低試驗(yàn)值H2L_Try的當(dāng)前值等于全高狀態(tài)偏置值A(chǔ)ll_Hi的當(dāng)前值，則方框1030將控制轉(zhuǎn)移到圖8A中的方框830。否則，方框1030將控制轉(zhuǎn)移到圖8A中的方框827。
圖11是圖3的流程圖的另一個(gè)方框的擴(kuò)展的圖。在圖3和11中，被擴(kuò)展的方框是方框335，該方框335是適當(dāng)?shù)赜?jì)算(一個(gè)或多個(gè))新的試驗(yàn)值的方框。方框335接受來自圖3中所示的方框330的被標(biāo)注“否”的輸出的控制，并將控制傳遞到圖11中的方框1105。
在方框1105中，如果低到高下限L2H_Lo的當(dāng)前值等于高到低下限H2L_Lo的當(dāng)前值，則方框1105將控制轉(zhuǎn)移到方框1110。否則，方框1105將控制轉(zhuǎn)移到方框1120。
在方框1110中，如果低到高上限L2H_Hi的當(dāng)前值等于高到低上限H2L_Hi的當(dāng)前值，則方框1110將控制轉(zhuǎn)移到方框1115。否則，方框1110將控制轉(zhuǎn)移到方框1120。
在方框1115中，布爾參數(shù)Identical_Tries被設(shè)置為真。布爾參數(shù)Identical_Tries被用于指示除非采取行動(dòng)，否則要計(jì)算出的新試驗(yàn)值(低到高試驗(yàn)值L2H_Try和高到低試驗(yàn)值H2L_Try)將相等。因而，可能會(huì)使用相同的試驗(yàn)值連續(xù)運(yùn)行兩次試驗(yàn)，這是對(duì)資源的浪費(fèi)。方框1115隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框1125。
在方框1120中，布爾參數(shù)Identical_Tries被設(shè)置為假。方框1120隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框1125。
在方框1125中，如果低到高狀態(tài)已被找到，則方框1125將控制轉(zhuǎn)移到方框1145。否則，方框1125將控制轉(zhuǎn)移到方框1130。
在方框1130中，低到高試驗(yàn)值L2H_Try被設(shè)置為等于低到高下限L2H_Lo的當(dāng)前值和低到高上限L2H_Hi的當(dāng)前值的均值。方框1130隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框1135。
在方框1135中，如果布爾參數(shù)Identical_Tries被設(shè)置為真，則方框1135將控制轉(zhuǎn)移到方框1140。否則，方框1135將控制轉(zhuǎn)移到方框1145。在方框1140中，低到高試驗(yàn)值L2H_Try被降低，降低幅度等于低到高試驗(yàn)值L2H_Try的當(dāng)前值與低到高下限L2H_Lo的當(dāng)前值之間的差的1/3。從而，低到高試驗(yàn)值L2H_Try的值與即將計(jì)算的高到低試驗(yàn)值H2L_Try分離開來，而不是以相同的試驗(yàn)信號(hào)級(jí)別執(zhí)行兩次測(cè)試。方框1140隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框1145。
在方框1145中，如果高到低狀態(tài)已被找到，則方框1145將控制轉(zhuǎn)移到圖3中的方框320。否則，方框1145將控制轉(zhuǎn)移到方框1150。
在方框1150中，高到低試驗(yàn)值H2L_Try被設(shè)置為等于高到低下限H2L_Lo的當(dāng)前值和高到低上限H2L_Hi的當(dāng)前值的均值。方框1150隨后將控制轉(zhuǎn)移到方框1155。
在方框1155中，如果布爾參數(shù)Identical_Tries被設(shè)置為真，則方框1155將控制轉(zhuǎn)移到方框1160。否則，方框1155將控制轉(zhuǎn)移到圖3中的方框320。
在方框1160中，高到低試驗(yàn)值H2L_Try被升高，升高幅度等于高到低上限H2L_Hi的當(dāng)前值與高到低試驗(yàn)值H2L_Try之間的差的1/3。從而，高到低試驗(yàn)值H2L_Try的值與已成為低到高試驗(yàn)值L2H_Try分離開來，而不是以相同的試驗(yàn)信號(hào)級(jí)別執(zhí)行兩個(gè)測(cè)試。方框1160隨后將控制轉(zhuǎn)移到圖3中的方框320。
這樣，在許多數(shù)據(jù)處理產(chǎn)品中，上述系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)為硬件和軟件組件的組合。此外，代表性實(shí)施例的使用所需的功能可實(shí)現(xiàn)在將被用于對(duì)信息處理裝置(例如包括圖1所示的元件等等的測(cè)試機(jī)器105)進(jìn)行編程以使之根據(jù)所述技術(shù)執(zhí)行的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)(例如軟盤、傳統(tǒng)硬盤、DVD、CD-ROM、Flash ROM、非易失性ROM和RAM等等)中。
術(shù)語(yǔ)“程序存儲(chǔ)介質(zhì)”在這里被廣泛定義為包括任何種類的計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器，例如但不限于軟盤、傳統(tǒng)硬盤、DVD、CD-ROM、Flash ROM、非易失性ROM和RAM。
測(cè)試機(jī)器105的中央處理單元125能夠運(yùn)行諸如DOS、MicrosoftWindows的各種版本(Windows 95、98、Me、2000、NT、XP等等)、Apple的MAC OS X、UNIX、Linux或其他適合的操作系統(tǒng)的任何可購(gòu)得的操作系統(tǒng)中的一種或多種。
這里公開的代表性實(shí)施例可實(shí)現(xiàn)為可利用包括Visual Basic、C/C++、匯編程序或任何其他可購(gòu)得的編程工具在內(nèi)的多種編程語(yǔ)言寫成的應(yīng)用程序。
在這里描述的方法的代表性實(shí)施例中，公開了用于在存在噪聲和/或滯后的情況下確定使得諸如比較器這樣的電子組件從一個(gè)狀態(tài)切換到另一狀態(tài)的信號(hào)級(jí)別的范圍的高效技術(shù)。這些技術(shù)包括對(duì)此信號(hào)級(jí)別范圍的上限和下限的雙端二元搜索。本搜索技術(shù)一般比通常包括一對(duì)線性搜索的現(xiàn)有技術(shù)更為快速。
這里已經(jīng)詳細(xì)描述的代表性實(shí)施例是以示例方式而非限制方式給出的。本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)所描述的實(shí)施例的形式和細(xì)節(jié)作出各種改變，以得到保持在所附權(quán)利要求的范圍內(nèi)的等同實(shí)施例。
權(quán)利要求
1.一種用于測(cè)試電子組件的方法，包括將所述電子組件連接到測(cè)試機(jī)器；指定搜索范圍限度、低到高轉(zhuǎn)變緣和高到低轉(zhuǎn)變緣的找到標(biāo)準(zhǔn)以及被指定為低到高轉(zhuǎn)變或高到低轉(zhuǎn)變的證據(jù)的包括多個(gè)測(cè)試的試驗(yàn)中的結(jié)果數(shù)目；計(jì)算初始試驗(yàn)參數(shù)的值，其中，所述試驗(yàn)參數(shù)包括低到高試驗(yàn)的低到高區(qū)帶限度和低到高試驗(yàn)值，高到低試驗(yàn)的高到低區(qū)帶限度和高到低試驗(yàn)值，以及指示高的比較結(jié)果的數(shù)目，其中初始數(shù)目是針對(duì)假定的前次試驗(yàn)的；如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，那么執(zhí)行低到高試驗(yàn)，并且基于執(zhí)行低到高試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值；如果未找到高到低轉(zhuǎn)變緣，那么執(zhí)行高到低試驗(yàn)；并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣或高到低轉(zhuǎn)變緣中的任何一個(gè)，那么基于執(zhí)行高到低試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值，并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，則從具有該狀況的步驟開始重復(fù)上述步驟。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，所述步驟還包括在所述執(zhí)行低到高試驗(yàn)的步驟之前，確保所述電子組件處于其低狀態(tài)；并且在所述執(zhí)行高到低試驗(yàn)的步驟之前，確保所述電子組件處于其高狀態(tài)。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述低到高轉(zhuǎn)變緣找到標(biāo)準(zhǔn)和所述高到低轉(zhuǎn)變緣找到標(biāo)準(zhǔn)取決于為最小搜索步長(zhǎng)指定的值。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，所述步驟還包括如果所述低到高試驗(yàn)的低到高區(qū)帶上限與低到高區(qū)帶下限之間的絕對(duì)差小于所述最小搜索步長(zhǎng)，則將所述低到高轉(zhuǎn)變緣標(biāo)記為找到；并且如果所述高到低試驗(yàn)的高到低區(qū)帶上限與高到低區(qū)帶下限之間的絕對(duì)差小于所述最小搜索步長(zhǎng)，則將所述高到低轉(zhuǎn)變緣標(biāo)記為找到。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，所述步驟還包括基于所述低到高區(qū)帶上限和低到高區(qū)帶下限來計(jì)算所述低到高試驗(yàn)值；以及基于所述高到低區(qū)帶上限和高到低區(qū)帶下限來計(jì)算所述高到低試驗(yàn)值。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其中，如果所述低到高區(qū)帶上限不等于所述高到低區(qū)帶上限，或者如果所述低到高區(qū)帶下限不等于所述高到低區(qū)帶下限，則計(jì)算出的低到高試驗(yàn)值等于所述低到高區(qū)帶上限和所述低到高區(qū)帶下限的總和的一半，并且計(jì)算出的高到低試驗(yàn)值等于所述高到低區(qū)帶上限和所述高到低區(qū)帶下限的總和的一半。
7.如權(quán)利要求5所述的方法，其中，如果所述低到高區(qū)帶上限等于所述高到低區(qū)帶上限，并且如果所述低到高區(qū)帶下限等于所述高到低區(qū)帶下限，則計(jì)算出的低到高試驗(yàn)值等于所述低到高區(qū)帶上限減去所述低到高區(qū)帶下限的量的1/3與所述低到高區(qū)帶下限的總和，并且計(jì)算出的高到低試驗(yàn)值等于所述高到低區(qū)帶上限減去所述高到低區(qū)帶下限的量的2/3與所述高到低區(qū)帶下限的總和。
8.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)設(shè)備，包含可由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的用于測(cè)試電子組件的計(jì)算機(jī)程序指令，所述指令包括將所述電子組件連接到測(cè)試機(jī)器；指定搜索范圍限度、低到高轉(zhuǎn)變緣和高到低轉(zhuǎn)變緣的找到標(biāo)準(zhǔn)以及被指定為低到高轉(zhuǎn)變或高到低轉(zhuǎn)變的證據(jù)的包括多個(gè)測(cè)試的試驗(yàn)中的結(jié)果數(shù)目；計(jì)算初始試驗(yàn)參數(shù)的值，其中，所述試驗(yàn)參數(shù)包括低到高試驗(yàn)的低到高區(qū)帶限度和低到高試驗(yàn)值，高到低試驗(yàn)的高到低區(qū)帶限度和高到低試驗(yàn)值，以及指示高的比較結(jié)果的數(shù)目，其中初始數(shù)目是針對(duì)假定的前次試驗(yàn)的；如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，那么執(zhí)行低到高試驗(yàn)，并且基于執(zhí)行低到高試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值；如果未找到高到低轉(zhuǎn)變緣，那么執(zhí)行高到低試驗(yàn)；并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣或高到低轉(zhuǎn)變緣中的任何一個(gè)，那么基于執(zhí)行高到低試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值，并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，則從具有該狀況的步驟開始重復(fù)上述步驟。
9.如權(quán)利要求8所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)設(shè)備，所述指令還包括在所述執(zhí)行低到高試驗(yàn)的步驟之前，確保所述電子組件處于其低狀態(tài)；并且在所述執(zhí)行高到低試驗(yàn)的步驟之前，確保所述電子組件處于其高狀態(tài)。
10.如權(quán)利要求8所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)設(shè)備，其中，所述低到高轉(zhuǎn)變緣找到標(biāo)準(zhǔn)和所述高到低轉(zhuǎn)變緣找到標(biāo)準(zhǔn)取決于為最小搜索步長(zhǎng)指定的值。
11.如權(quán)利要求10所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)設(shè)備，所述指令還包括如果所述低到高試驗(yàn)的低到高區(qū)帶上限與低到高區(qū)帶下限之間的絕對(duì)差小于所述最小搜索步長(zhǎng)，則將所述低到高轉(zhuǎn)變緣標(biāo)記為找到；并且如果所述高到低試驗(yàn)的高到低區(qū)帶上限與高到低區(qū)帶下限之間的絕對(duì)差小于所述最小搜索步長(zhǎng)，則將所述高到低轉(zhuǎn)變緣標(biāo)記為找到。
12.如權(quán)利要求8所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)設(shè)備，所述指令還包括基于所述低到高區(qū)帶上限和低到高區(qū)帶下限來計(jì)算所述低到高試驗(yàn)值；以及基于所述高到低區(qū)帶上限和高到低區(qū)帶下限來計(jì)算所述高到低試驗(yàn)值。
13.如權(quán)利要求12所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)設(shè)備，其中，如果所述低到高區(qū)帶上限不等于所述高到低區(qū)帶上限，或者如果所述低到高區(qū)帶下限不等于所述高到低區(qū)帶下限，則計(jì)算出的低到高試驗(yàn)值等于所述低到高區(qū)帶上限和所述低到高區(qū)帶下限的總和的一半，并且計(jì)算出的高到低試驗(yàn)值等于所述高到低區(qū)帶下限減去所述高到低區(qū)帶上限的值的一半。
14.如權(quán)利要求12所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)設(shè)備，其中，如果所述低到高區(qū)帶上限等于所述高到低區(qū)帶上限，并且如果所述低到高區(qū)帶下限等于所述高到低區(qū)帶下限，則計(jì)算出的低到高試驗(yàn)值等于所述低到高區(qū)帶上限減去所述低到高區(qū)帶下限的量的1/3與所述低到高區(qū)帶下限的總和，并且計(jì)算出的高到低試驗(yàn)值等于所述高到低區(qū)帶上限減去所述高到低區(qū)帶下限的量的2/3與所述高到低區(qū)帶下限的總和。
15.一種用于測(cè)試電子組件的方法，包括將所述電子組件連接到測(cè)試機(jī)器；指定搜索范圍限度以及低到高轉(zhuǎn)變緣和高到低轉(zhuǎn)變緣的找到標(biāo)準(zhǔn)；計(jì)算初始試驗(yàn)參數(shù)的值，其中，所述試驗(yàn)參數(shù)包括低到高試驗(yàn)的低到高區(qū)帶限度和低到高試驗(yàn)值以及高到低試驗(yàn)的高到低區(qū)帶限度和高到低試驗(yàn)值；如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，那么確保所述電子組件處于其低狀態(tài)，執(zhí)行低到高試驗(yàn)，并且基于執(zhí)行低到高試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值；如果未找到高到低轉(zhuǎn)變緣，那么確保所述電子組件處于其高狀態(tài)，并且執(zhí)行高到低試驗(yàn)；并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣或高到低轉(zhuǎn)變緣中的任何一個(gè)，那么基于執(zhí)行高到低試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值，并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，則從具有該狀況的步驟開始重復(fù)上述步驟。
16.如權(quán)利要求15所述的方法，其中，所述低到高轉(zhuǎn)變緣找到標(biāo)準(zhǔn)和所述高到低轉(zhuǎn)變緣找到標(biāo)準(zhǔn)取決于為最小搜索步長(zhǎng)指定的值。
17.如權(quán)利要求16所述的方法，所述步驟還包括如果所述低到高試驗(yàn)的低到高區(qū)帶上限與低到高區(qū)帶下限之間的絕對(duì)差小于所述最小搜索步長(zhǎng)，則將所述低到高轉(zhuǎn)變緣標(biāo)記為找到；并且如果所述高到低試驗(yàn)的高到低區(qū)帶上限與高到低區(qū)帶下限之間的絕對(duì)差小于所述最小搜索步長(zhǎng)，則將所述高到低轉(zhuǎn)變緣標(biāo)記為找到。
18.如權(quán)利要求15所述的方法，所述步驟還包括基于所述低到高區(qū)帶上限和低到高區(qū)帶下限來計(jì)算所述低到高試驗(yàn)值；以及基于所述高到低區(qū)帶上限和高到低區(qū)帶下限來計(jì)算所述高到低試驗(yàn)值。
19.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)設(shè)備，包含可由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的用于測(cè)試電子組件的計(jì)算機(jī)程序指令，所述指令包括將所述電子組件連接到測(cè)試機(jī)器；指定搜索范圍限度以及低到高轉(zhuǎn)變緣找到標(biāo)準(zhǔn)和高到低轉(zhuǎn)變緣找到標(biāo)準(zhǔn)；計(jì)算初始試驗(yàn)參數(shù)的值，其中，所述試驗(yàn)參數(shù)包括低到高試驗(yàn)的低到高區(qū)帶限度和低到高試驗(yàn)值以及高到低試驗(yàn)的高到低區(qū)帶限度和高到低試驗(yàn)值；如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，那么確保所述電子組件處于其低狀態(tài)，執(zhí)行低到高試驗(yàn)，并且基于執(zhí)行低到高試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值；如果未找到高到低轉(zhuǎn)變緣，那么確保所述電子組件處于其高狀態(tài)，并且執(zhí)行高到低試驗(yàn)；并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣或高到低轉(zhuǎn)變緣中的任何一個(gè)，那么基于執(zhí)行高到低試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值，并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，則從具有該狀況的步驟開始重復(fù)上述步驟。
20.如權(quán)利要求19所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)設(shè)備，其中，所述低到高轉(zhuǎn)變緣找到標(biāo)準(zhǔn)和所述高到低轉(zhuǎn)變緣找到標(biāo)準(zhǔn)取決于為最小搜索步長(zhǎng)指定的值。
21.如權(quán)利要求20所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)設(shè)備，所述指令還包括如果所述低到高試驗(yàn)的低到高區(qū)帶上限與低到高區(qū)帶下限之間的絕對(duì)差小于所述最小搜索步長(zhǎng)，則將所述低到高轉(zhuǎn)變緣標(biāo)記為找到；并且如果所述高到低試驗(yàn)的高到低區(qū)帶上限與高到低區(qū)帶下限之間的絕對(duì)差小于所述最小搜索步長(zhǎng)，則將所述高到低轉(zhuǎn)變緣標(biāo)記為找到。
22.如權(quán)利要求19所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)設(shè)備，所述指令還包括基于所述低到高區(qū)帶上限和低到高區(qū)帶下限來計(jì)算所述低到高試驗(yàn)值；以及基于所述高到低區(qū)帶上限和高到低區(qū)帶下限來計(jì)算所述高到低試驗(yàn)值。
全文摘要
一種用于測(cè)試電子組件的方法。該方法包括將電子組件連接到測(cè)試機(jī)器；指定搜索范圍限度、低到高轉(zhuǎn)變緣和高到低轉(zhuǎn)變緣的找到標(biāo)準(zhǔn)以及被指定為低到高轉(zhuǎn)變或高到低轉(zhuǎn)變的證據(jù)的包括多個(gè)測(cè)試的試驗(yàn)中的結(jié)果數(shù)目；計(jì)算初始試驗(yàn)參數(shù)的值；如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，那么執(zhí)行低到高試驗(yàn)并且基于執(zhí)行低到高試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值；如果未找到高到低轉(zhuǎn)變緣，那么執(zhí)行高到低試驗(yàn)；并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣或高到低轉(zhuǎn)變緣中的任何一個(gè)，那么基于執(zhí)行高到低試驗(yàn)的步驟的結(jié)果調(diào)節(jié)試驗(yàn)參數(shù)值，并且如果未找到低到高轉(zhuǎn)變緣，則從具有該狀況的步驟開始重復(fù)上述步驟。
文檔編號(hào)G01R31/28GK101067643SQ20071010171
公開日2007年11月7日 申請(qǐng)日期2007年4月24日 優(yōu)先權(quán)日2006年4月24日
發(fā)明者格雷戈里·E·湯曼 申請(qǐng)人:韋瑞吉(新加坡)私人有限公司